1. Przebieg ćwiczenia
Celem ćwiczenia jest zapoznanie się z charakterystykami i parametrami bramek logicznych dla układów serii TTL. Przedmiotem badań była dwuwejściowa bramka NAND.
2. Układy pomiarowe wykorzystywane w ćwiczeniu
Układ do pomiaru charakterystyki przejściowej
Układ do pomiaru charakterystyki wejściowej
pomiar charakterystyki pobodu prądu zasilania w funklcji napięcia wejściowego
Obliczenia
Marginesy błędów
Dla bramki NAND nieobciążonej napięcie przełączenia wynosi 1.35 [V] stąd korzystając z poniższych wzorów można wyliczyć marginesy zakłóceń:
ML= Up-UOLtyp=1.35-0.2=1.15 V
MH=UOHtyp - Up= 3.5-1.35=2.15 V
Interpretacja graficzna została przedstawiona na załączonym wykresie.
Minimalne marginesy błędów wyliczone zgodnie z definicją wynoszą:
MLmin=UILmax - UOLmax=0.8-0.4=0.4 V
MHmin=UOHmin-UIHmin=2.4-2=0.4 V
Obciążalność wyjściowa
Z uwagi na defekt elementu niestety nie udało nam się dokonać pomiarów charakterystyk wyjściowych a co za tym idzie niemożliwym okazało się wyznaczenie IOLmax i IOHmax.
Wnioski
W niniejszym ćwiczeniu badaliśmy bramkę NAND wykonaną w technologii TTL.
Na podstawie charakterystyki przejściowej można wyznaczyć minimalne i standardowe marginesy błędów, co zostało ujęte w części „Obliczenia” i na załączonym wykresie.
Na podstawie charakterystyki przejściowej można wyciągnąć prosty wniosek: w miarę wzrostu obciążenia bramki napięcie przełączenia maleje
Charakterystyka poboru prądu jak i charakterystyka wejściowa nie zgadzają się z wykresami teoretycznymi, jedynym, i jak sądzimy prawidłowym wytłumaczeniem tego faktu, jest awaria elementu.
Niezgodności z charakterystykami teoretycznymi objawiają się w momencie przełączenia stanu na wyjściu bramki.
Z teoretycznych charakterystyk wynika, że maksymalny pobór prądu występuje w momencie przełączenia się stanów. W stanach stabilnych pobór prądu jest ustabilizowany (w stanie niskim jednaj znacznie większy niż w stanie wysokim).
Kształt charakterystyki wejściowej (w odróżnieniu od dwóch pozostałych) nie zależał od obciążenia wyjścia bramki.