Protok.21 Rentgenowska analiza strukturalna

Student:

Protokół badań rtg.

Grupa:

Data wykonania:

analizy strukturalnej

Laboratorium

Ocena:

żynierii

WICZENIE Nr 21 Prowadzący: Materiałowej

Temat ćwiczenia:

21. Rentgenowska analiza strukturalna I. Przedmiot badań: (krótka charakterystyka otrzymanych próbek, rodzaj i gatunek materiału, przeprowadzone procesy technologiczne, itp.)

.............................................................................................................................................

II. Cel badań:

.............................................................................................................................................

III. Literatura: (skrypty, instrukcje, tablice poglądowe, tablice z danymi krystalograficznymi wybranych substancji, inne)

.............................................................................................................................................

IV. Dobór metody badań: (krótkie uzasadnienie wyboru metody badań, sposób przygoto-wania preparatu, dobór materiału anody lampy rentgenowskiej i parametry badań: na-pięcie na lampie, natężenie prądu anodowego)

.............................................................................................................................................

Politechnika Lubelska, Katedra Inżynierii Materiałowej, http://kim.pollub.pl

V. Aparatura: (kamera Debye'a - Scherrera lub dyfraktometr rentgenowski z podaniem schematu ilustrującego sposób rejestracji obrazu dyfrakcyjnego oraz zależności kątowe między wiązką padającą i ugiętą)

VI. Wyniki badań: (zestawienie otrzymanych wyników w tablicy 1 oraz 2)

Tablica 1. Identyfikacja substancji na podstawie jej rentgenogramu Tablica 2. Wskaźnikowanie linii rentgenogramu

Tablica 1. Identyfikacja substancji na podstawie jej rentgenogramu Badany preparat ................................................ Anoda lampy rtg. .......................... Metoda badań .......................................................

2 ⋅ λ

α1

α 2

kα1 = ........................ Å ; λkα2 = ................... Å ; α

=.................... Å ; λ

kβ = .................. Å

Filtr ............................... ; Średnica kamery D = .................... mm, lub typ goniometru ...............................

Promienio-

Dane z kartoteki ICPDS

L [mm] 1)

oblicz

[°]

sin θ

wanie:

Faza

linii

wzgl.

lub 2θ [°] 2)

[Å]

d [Å]

I/I

α lub Kβ

1) metoda fotograficzna, 2) dyfraktometr rentgenowski Tablica 2. Wskaźnikowanie linii rentgenogramu Nr

sin Θ h k l

a oblicz

Błąd względny

sin2 θ

n n

S = h2 + k2 + l2

linii

sin Θ h k l

[Å]

∆a /a

z tablic [Å]

1 1 1

---

VII. Wnioski: (wpływ struktury krystalicznej i jej odkształceń na budowę refleksów dy-frakcyjnych zarejestrowanych na rentgenogramie, rysunki komórki elementarnej bada-nej substancji z naniesionymi płaszczyznami krystalograficznymi dającymi obserwo-wane linie dyfrakcyjne)

.............................................................................................................................................