SPC


II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 1. Karty 0x01 graphic
i R (kontynuacja) - Interpretacja dla Zdolności Procesu

UWAGA: Każda z technik analizy zdolności, niezależnie jaka jest dokładna, może dać tylko przybliżone wyniki. Dzieje się tak dlatego (1), że zawsze występuje zmienność w próbach, (2) żaden proces nie jest w „pełni” sterowany statystycznie i (3) żadne rzeczywiste wyjście nie zapewnia „całkowitego” rozkładu normalnego (lub każdego innego prostego rozkładu). Końcowe rezultaty powinny być zawsze stosowane ostrożnie i interpretowane z rozwagą.

D.1. Wylicz Odchylenie Standardowe Procesu

Ponieważ zmienność procesu między podgrupami znajduje swoje odzwierciedlenie w rozstępach tych podgrup, oszacowanie standardowego odchylenia procesu 0x01 graphic
(sigma z daszkiem) może opierać się na średnim rozstępie 0x01 graphic
. Wylicz:

0x01 graphic
= 0x01 graphic
2 =0x01 graphic
0x01 graphic
2

gdzie 0x01 graphic
jest średnim rozstępem dla podgrupy (dla czasu gdy rozstępy są w sterowaniu), a d2 jest wartością stałą zależną od wielkości próby, wartości te są podane w tabeli poniżej, która jest częścią tabeli znajdującej się w Załączniku E:

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

d2

1.13

1.69

2.06

2.33

2.53

2.70

2.85

2.97

3.08

Oszacowanie standardowego odchylenia procesu (0x01 graphic
0x01 graphic
2 ) może być przydatne przy ocenianiu zdolności procesu tak długo jak i rozstępy i średnie są w sterowaniu statystycznym.

D.2. Wylicz Zdolność Procesu (Patrz Rys. 21)

Zdolność może być przedstawiona jako odległość średniej procesu od granicy specyfikacji w jedno ostkach odchylenia standardowego, Z. Przy rysowaniu wykresu, który będzie przedstawiał krzywą rozkładu, pomocne będą wartości 0x01 graphic
, 0x01 graphic
, granice specyfikacji i wartość Z.

gdzie SL = granica specyfikacji, 0x01 graphic
= zmierzona średnia procesu i 0x01 graphic
= oszacowane odchylenie standardowe procesu.

0x01 graphic
0x01 graphic

Zmin = Minimum ZUSL lub ZLSL

gdzie USL, LSL = górne lub dolne granice specyfikacji; ujemna wartość Z pokazuje, że średnia procesu znajduje się poza specyfikacją.

Wartości Z wraz z tabelą standardowego rozkładu normalnego (Załącznik F) mogą być użyte do oszacowania proporcji wyjścia, które będzie poza którąś specyfikacją (przybliżona wartość, przy założeniu, że proces znajduje się w sterowaniu statystycznym i ma normalny rozkład).

0x08 graphic

0x08 graphic

0x08 graphic

0x08 graphic

0x08 graphic

Rys. 22 Przebieg zdolności procesu.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 1. Karty 0x01 graphic
i R (kontynuacja) - Interpretacja dla Zdolności Procesu

0x01 graphic
, lub około 1,6%.

Wartość Zmin może także być przekształcona we wskaźnik zdolności, Cpk, zidentyfikowany jako:

0x01 graphic
minimum z CPU 0x01 graphic
lub CPL 0x01 graphic

gdzie USL i LSL są górną i dolną granicą specyfikacji inżynieryjnych, 0x01 graphic
jest średnią z procesu i 0x01 graphic
jest odchyleniem standardowym procesu, wyliczonym przy zastosowaniu wzoru 0x01 graphic
.

Proces z Zmin = 3 będzie miał wskaźnik zdolności Cpk = 1.00. Jeżeli Zmin = 4, proces będzie miał

Cpk= 1.33.

D.3. Oceń Zdolność Procesu (Patrz Rysunek 22)

W tym miejscu proces został doprowadzony do stanu sterowania statystycznego a jego wskaźnik zdolności został opisany w postaci Zmin lub Cpk. Następnym krokiem jest ocenianie zdolności procesu z punktu widzenia spełnienia wymagań klienta.

Fundamentalnym celem jest nigdy nie kończące się doskonalenie procesu. Jednakże priorytety muszą być tak ustalone, aby po ustaleniu, które procesy wymagają najszybszych zmian, im poświęcić najwięcej uwagi. Jest to decyzja podstawowa i ekonomiczna. Okoliczności zmieniają się od przypadku do przypadku, zależnie od rodzaju rozpatrywanego procesu oraz osiągów innych procesów, które także mogą zasługiwać na objęcie ich natychmiastowymi działaniami doskonalącymi.

Podczas gdy każda decyzja może być rozważana indywidualnie, często pomocnym jest używanie szerszych wytycznych dla ustalania priorytetów i promowania spójności w wysiłkach związanych z doskonaleniem. Na przykład, niektóre procedury odwołują się do wymagań zdolności procesu poprzez granice Zmin0x01 graphic
3 lub Cpk 0x01 graphic
1.00, a dalej ustalają wymagania dotyczące wskaźnika zmienności Zmin 0x01 graphic
4 lub Cpk 0x01 graphic
1.33 dla nowych procesów, oddziałujących na wybrane istotne charakterystyki wyrobu. Wymagania te mają na celu zapewnienie minimalnego poziomu, który jest spójny dla charakterystyk, wyrobów i środków wytwarzania. Jednak, dla lepszego zrozumienia i interpretacji Cpk i innych miar procesu, odnoszących się do ustalenia wymagań dla pomiarów, prosimy o zapoznanie się z Rozdziałem 5 tego działu.

Zarówno, w odpowiedzi na nie spełnienie kryterium wskaźnika zdolności jak i dla ciągłej potrzeby optymalizacji kosztów oraz osiągów jakościowych, ponad poziom wymagań dla minimalnego wskaźnika zdolności, wymagane działania są takie same:

W tych przypadkach gdzie potrzebne jest szybsze działanie dla spełnienia krótko - terminowych potrzeb, mogą być zastosowane dwa rozwiązania:

Oba te rozwiązania są oczywiście gorsze od doskonalenia procesu.

0x08 graphic

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 1. Karty 0x01 graphic
i R (kontynuacja) - Interpretacja dla Zdolności Procesu

D. 4. Popraw zdolność procesu

W celu poprawienia zdolności procesu, musi być poświęcona większa uwaga redukowaniu zwykłych przyczyn. Działania muszą być ukierunkowane na system, uwaga powinna być poświęcona tym podstawowym czynnikom procesu, które liczą się w zmienności procesu, takim jak: maszyny, jednorodność materiałów na wejściu, podstawowe metody według których działa proces, metody szkolenia lub środowisko pracy. Zazwyczaj, przyczyny te, związane z procesem, powodujące niewystarczającą jego zdolność, mogą leżeć poza możliwością skorygowania ich przez operatorów lub bezpośredni dozór. Odwrotnie, mogą one wymagać interwencji kierownictwa w celu dokonania zasadniczych zmian, rozdzielenie zasobów oraz przeprowadzeniu działań koordynacyjnych, koniecznych przy doskonaleniu ogólnych osiągów procesu. Próby skorygowania systemu poprzez lokalne działania w małym zakresie, nie będą skuteczne.

Rozważania dotyczące technik analizy zmienności systemu są ujęte w szeregu odsyłaczy wyszczególnionych w Załączniku H. Użyteczne mogą tu być podstawowe techniki rozwiązywania problemów, takie jak analizy Pareto lub przyczynowo - skutkowe (Patrz Załącznik H, Odsyłacz 11). Jednakże, dla uzyskania istotnego obniżenia zmienności może być konieczne użycie bardziej zaawansowanych metod analizy procesu, takich jak np. techniki statystyczne czy też planowanie eksperymentów.

D.5. Karta i Analiza Poprawionego Procesu

Po przeprowadzeniu systematycznych działań dotyczących procesu, ich efekt powinien być uwidoczniony na kartach kontrolnych. Karty staną się sposobem służącym do weryfikacji efektywności działania.

Gdy wdrożone zostaną zmiany w procesie, karty kontrolne powinny być uważnie monitorowane. Ten okres zmian może powodować zakłócenia w operacjach , potencjalnie powodując nowe problemy w sterowaniu, które mogą zaciemniać efekt zmian w systemie.

Po usunięciu wszelkich niestabilności okresu zmian, należy ocenić nową zdolność procesu i stosować ją jako podstawę dla nowych granic kontrolnych w przyszłych operacjach. Zazwyczaj 25 podgrup danych zebranych po wprowadzeniu zmian jest wystarczającą ilością dla ustalenia nowych granic kontrolnych.

ZBIERANIE DANYCH GRUBOŚĆ PODKŁADU (Mils)

WIELKOŚĆ PRÓBY - 10 KOLEJNYCH SZTUK DWA RAZY DZIENNIE

1-11

1

2

1-12

1

2

1-13

1

2

1-14

1

2

1-15

1

2

1-18

1

2

1-19

1

2

1

1.30

1.01

1.22

1.08

.98

1.12

.92

1.04

1.08

1.20

1.25

1.24

1.13

1.08

2

1.10

1.10

1.05

1.12

1.30

1.30

1.10

1.14

.92

1.13

.91

1.34

1.16

1.31

3

1.20

1.15

.93

1.11

1.31

1.01

1.13

1.18

1.14

1.19

.96

1.40

1.12

1.12

4

1.25

.97

1.08

1.28

1.12

1.20

1.02

1.12

1.20

1.16

1.04

1.26

1.22

1.18

5

1.05

1.25

1.15

1.00

1.08

1.11

.93

1.00

1.02

1.03

.93

1.13

1.12

1.15

6

.95

1.12

1.27

.95

1.10

.93

1.17

1.02

1.04

1.25

1.08

1.15

1.07

1.17

7

1.10

1.10

.95

1.15

1.15

1.02

1.24

1.05

.94

1.20

1.29

1.08

1.04

.98

8

1.16

.90

1.11

1.14

1.35

1.25

.98

1.34

1.05

1.24

1.42

1.02

1.28

1.05

9

1.37

1.04

1.12

1.28

1.12

1.05

1.34

1.12

1.12

1.10

1.10

1.05

1.12

1.00

10

.98

1.08

1.10

1.31

1.26

1.10

1.12

1.05

1.06

1.03

1.00

1.18

1.10

1.26

0x01 graphic

1.15

1.07

1.10

1.14

1.18

1.11

1.10

1.11

1.06

1.15

1.10

1.19

1.14

1.13

S

.136

.098

.106

.120

.121

.115

.136

.101

.086

.079

.170

.125

.070

.107

1-20

1-21

1-22

1

2

1

2

1

2

1

1.08

1.14

1.06

1.14

1.07

1.13

2

1.26

1.02

1.12

1.22

1.05

.90

3

1.13

1.14

.98

1.18

.97

1.12

4

.94

.94

1.12

1.27

1.05

1.04

5

1.30

1.30

1.20

1.17

1.16

1.40

6

1.15

1.08

1.02

1.26

1.02

1.12

7

1.07

.94

1.19

1.15

1.02

1.15

8

1.02

1.12

1.03

1.07

1.14

1.01

9

1.22

1.15

1.02

1.02

1.07

1.30

10

1.18

1.36

1.09

1.36

1.00

1.14

0x01 graphic

1.14

1.12

1.08

1.18

1.06

1.13

S

.111

.137

.074

.099

.059

.141

Rysunek 23. Zbieranie danych.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 2

KARTY DLA ŚREDNICH I ODCHYLENIA STANDARDOWEGO (0x01 graphic
i s)

Karty 0x01 graphic
i s, podobnie jak karty 0x01 graphic
i R, są opracowywane z danych mierzonych na wyjściu procesu i zawsze występują parami. Karty dla rozstępów są opracowywane jako miary zmienności procesu, gdyż rozstęp można łatwo wyliczyć i jest on stosunkowo skuteczny przy podgrupach zawierających niewielką liczbę prób (najczęściej poniżej 9). Odchylenie standardowe próby s, jest bardziej skutecznym wskaźnikiem zmienności procesu, szczególnie dla większych podgrup. Jednak, jako wyliczenie jest bardziej skomplikowane i nie jest tak czułe przy wykrywaniu zmienności spowodowanej takimi przyczynami specjalnymi, które powodują, że tylko jedna wartość w podgrupie jest wartością odbiegającą (nietypową). Zazwyczaj, karty s są używane zamiast kart R, gdy w procesie występuje jeden lub więcej następujących czynników:

Szczegółowe wytyczne dotyczące kart 0x01 graphic
i s są bardzo podobne do tych, które stosowane są przy kartach 0x01 graphic
i R; poniżej opisane zostały różnice w tych instrukcjach:

  1. ZBIERANIE DANYCH

(Patrz Rozdział 1, Część A w tym dziale, odstępstwa są wymienione poniżej)

0x01 graphic

lub

0x01 graphic

gdzie Xi , 0x01 graphic
i n reprezentują indywidualne wartości w podgrupie, ich średnią i wielkość próby.

UWAGA: Nie należy zaokrąglać wartości 0x01 graphic
przy wyliczaniu bez użycia maszyny liczącej.

0x08 graphic

Rysunek 24. Karty 0x01 graphic
i s.

II. KARTY KONTROLI DLA ZMIENNYCH

Rozdział 2. Karty 0x01 graphic
i s (kontynuacja)

  1. WYLICZANIE GRANIC KONTRLONYCH (Patrz rysunek 24)

(Patrz Rozdział 1, Część B w tym dziale, wyjątki są przedstawione poniżej)

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

gdzie 0x01 graphic
jest średnim odchyleniem standardowym indywidualnych podgrup, a B4, B3 i A3 są współczynnikami, zmieniającymi się z wielkością próby, dla prób o wielkości 2 do 10 są one podane w tabeli poniżej, wziętej z tabeli podane w Załączniku E.

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

B4

3.27

2.57

2.27

2.09

1.97

1.88

1.82

1.76

1.72

B3

*

*

*

*

.03

.12

.19

.24

.28

A3

2.66

1.95

1.63

1.43

1.29

1.18

1.10

1.03

.98

*Nie ma dolnej granicy kontrolnej dla odchylenia standardowego w przypadku prób o wielkości poniżej 6.

  1. INTERPRETACJA DLA STEROWANIA PROCESEM

(Patrz Rozdział 1, Część C w tym dziale)

  1. INTERPRETACJA DLA ZDOLNOŚCI PROCESU

(Patrz Rozdział 1, Część D, w tym dziale, wyjątki są przedstawione poniżej)

0x01 graphic

gdzie 0x01 graphic
jest średnim odchyleniem standardowym próby (dla okresów gdy odchylenie standardowe jest w sterowaniu) a c4 jest współczynnikiem zmieniającym się razem z wielkością próby; dla prób o wielkości 2 do 10 są one podane w tabelce niżej, wziętej z tabeli podanej w Załączniku E.

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

C4

0.798

0.886

0.921

0.940

0.952

0.959

0.965

0.969

0.973

0x08 graphic

Rysunek 25. Karta kontrolna median.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 3

KARTY MEDIAN (0x01 graphic
I R)

Karty median (patrz rysunek 25) są alternatywnymi dla kart 0x01 graphic
i R dla sterowania procesami z mierzonymi danymi; poza faktem że mediany mogą nie być tak statystycznie potrzebne jak średnie, z kart median można wyciągnąć podobne wnioski mają również pewne korzyści.

Instrukcje dla kart median są podobne do instrukcji dla kart 0x01 graphic
i R.

  1. ZBIERANIE DANYCH

(Patrz Rozdział 1, Część A w tym dziale, wyjątki opisane są poniżej)

  1. WYLICZANIE GRANIC KONTROLNYCH

(Patrz Rozdział 1, Część B tego działu, wyjątki są podane poniżej)

0x01 graphic

0x01 graphic

0x08 graphic
Rysunek 26. Karta kontrolna Median - interpretacja.

II. KARTY KONTROLI DLA ZMIENNYCH

Rozdział 3. Karty median (kontynuacja)

Gdzie D4, D3 i 0x01 graphic
są współczynnikami, zmieniającymi się razem z wielkością próby, o wartościach dla prób w liczbie 2 do 10, podanymi w tabeli poniżej, która w całości podana jest w Załączniku E.

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

D4

3.27

2.57

2.28

2.11

2.00

1.92

1.86

1.82

1.78

D3

*

*

*

*

*

.08

.14

.18

.22

0x01 graphic

1.88

1.19

.80

.69

.55

.51

.43

.41

.36

* Nie ma dolnej granicy kontrolnej dla rozstępów, dla prób o wielkości poniżej 7.

  1. INTERPRETACJA DLA STEROWANIA PROCESEM

(Patrz Rozdziała 1, Część C w tym dziale, wyjątki opisane zostały poniżej)

  1. INTREPRETACJA DLA ZDOLNOŚCI PROCESU

(Patrz Rozdział 1, Część D w tym dziale, wyjątki są podane poniżej)

0x01 graphic

gdzie 0x01 graphic
jest średnią dla rozstępów prób (dla okresów, w których rozstępy są w sterowaniu) a d2 jest współczynnikiem zmieniającym się z wielkością próby, o wartościach dla próbek o wielkości 2 do 10, podanych poniżej w tabeli, wziętej z Załącznika E.

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

d2

1.13

1.69

2.06

2.33

2.53

2.70

2.85

2.97

3.08

  1. ALTERNATYWNY SPOSÓB UŻYCIA KARTY MEDIAN

Dla bieżącego sterowania procesem, gdy granice kontrolne oparte są na wcześniejszych danych, metoda prowadzenia kart może być uproszczona w następujący sposób:

0x08 graphic

Rysunek 27. Karta wartości jednakowych i ruchomego rozstępu.

II. KARTY KONTROLI DLA ZMIENNYCH

Rozdział 4

KARTY DLA WARTOŚCI JEDNOSTKOWYCH I RUCHOMEGO ROZSTĘPU (X - MR)

W niektórych przypadkach koniecznym jest aby sterowanie procesem opierało się raczej na jednostkowych odczytach niż na podgrupach. W takich przypadkach, zmienność w podgrupach w efekcie wynosi zero. Zazwyczaj będzie to miało miejsce wtedy, gdy pomiary są drogie (np. badania niszczące) lub gdy wyjście w jakimś miejscu i czasie jest względnie jednorodne (np. pH roztworu chemicznego). W takich przypadkach, karty kontrolne dla wartościowych jednostkowych mogą być konstruowane w taki sposób, jak opisano poniżej. Jednakże należy zwrócić uwagę na cztery sprawy:

Szczegóły i instrukcje dotyczące kart dla wartości jednostkowych są trochę podobne do tych, jakie dotyczą kart 0x01 graphic
i R; wyjątki są podane poniżej.

  1. ZBIERANIE DANYCH (Patrz Rysunek 27)

(Patrz Rozdział 1, Część A tego działu, wyjątki podane są poniżej)

  1. WYLICZANIE GRANIC KONTROLNYCH (Patrz Rysunek 28)

(Patrz Punkt B, Rozdziała 1 w tym dziale, wyjątki podane są niżej)

0x08 graphic

Rysunek 28. Interpretacja karty wartości jednostkowych i ruchomego rozstępu.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 4. Karty dla Wartości Jednostkowych i Ruchomego Rozstępu (X - MR) (kontynuacja) - Wyliczanie Granic Kontrolnych

0x01 graphic

gdzie 0x01 graphic
jest średnią dla ruchomego rozstępu, 0x01 graphic
jest średnią dla procesu, D4, D3 i E2 są współczynnikami, które zmieniają się z wielkością próby n, stosowanymi przy grupowaniu ruchomych rozstępów, jak to pokazano w tabeli, stanowiącej część tablicy z Załącznika E.

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

D4

3.27

2.57

2.28

2.11

2.00

1.92

1.86

1.82

1.78

D3

*

*

*

*

*

.08

.14

.18

.22

E2

2.66

1.77

1.46

1.29

1.18

1.11

1.05

1.01

.98

* Nie ma dolnej granicy kontrolnej dla rozstępów, dla prób o wielkości mniejszej niż 7.

Uwaga: Alternatywnym sposobem podejścia do policzenia granic kontrolnych gdy 0x01 graphic
jest większe niż rozstęp median 0x01 graphic
(jak to zazwyczaj ma miejsce) jest zastosowanie rozstępu median dla ruchomych rozstępów 2 sztuk i wyliczenie granic kontrolnych w następujący sposób (Patrz Załącznik H, Odnośnik 23):

0x01 graphic
0x01 graphic

  1. INTERPRETACJA DLA STEROWANIA PROCESEM (Patrz Rysunek 28)

(Patrz Rozdział 1, Część C w tym dziale, wyjątki podane są poniżej)

  1. INTERPRETACJA DLA ZDOLNOŚCI PROCESU (Patrz Rysunek 28)

(Patrz Rozdział 1, Część D w tym dziale, wyjątki podane są poniżej)

0x01 graphic

gdzie 0x01 graphic
jest średnią z ruchomych rozstępów, a d2 jest współczynnikiem zmieniającym się z wielkością próby n, zastosowana przy grupowaniu ruchomych rozstępów, jak to podano w tabeli, która jest częścią tablicy z Załącznika E.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 4. Karty dla Wartości Jednostkowych i Ruchomego Rozstępu (X - MR) (kontynuacja) - Wyliczanie Granic Kontrolnych

n

2

3

4

5

6

7

8

9

10

d2

1.13

1.69

2.06

2.33

2.53

2.70

2.85

2.97

3.08

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 5

ROZUMIENIE ZDOLNOŚCI PROCESU I OSIĄGÓW PROCESU PRZY WYKORZYSTANIU DANYCH ZMIENNYCH

Wyjście dla procesu wytwarzania, który jest statystycznie stabilny (w stanie sterowania) może być opisane przez jego rozkład. Charakterystyki rozkładu są używane dla oceny procesu. Np. charakterystyką będącą często punktem zainteresowania jest położenie środka rozkładu. Jeżeli rozkład nie jest właściwie usytuowany, proces wytwarzania może „produkować” części, które nie są wystarczająco blisko pożądanej docelowej wartości. W takich przypadkach niektóre części mogą być nawet poza specyfikacją. Proces o takim rozkładzie może wtedy być oceniany jako niezdolny do spełnienia potrzeb klienta. Podobne problemy mogą się pojawić jeżeli rozkład ma za duży rozrzut, niezależnie od tego, jakie jest jego położenie. Ponieważ charakterystyki rozkładu nie są dokładnie znane, muszą być zbierane dane aby je oszacować.

Ten rozdział omawia niektóre techniki stosowane do określania odniesień niektórych charakterystyk rozkładu do wymagań specyfikacji. Powinien tu być ponownie podkreślony wstępny warunek, że proces z którego pochodzą dane wykazuje statystyczną stabilność. Rozważanie zmienności procesu i związanych z nim wskaźników zdolności jest mało przydatne dla procesów nieprzewidywalnych. Należy jednak wiedzieć, że opracowano rozsądne rozwiązania dotyczące oceny zdolności procesów wykazujących systematyczne specjalne przyczyny zmienności, takie jak np.: zużywanie się narządzi (patrz Załącznik H, Odsyłacz 17). Ponadto ogólnie zakłada się, że pojedyncze odczyty z omawianych procesów mają rozkład, który w przybliżeniu jest normalny. Po zdefiniowaniu zdolności procesu i związanych z tym pojęć w rozdziale tym będą określone i omawiany, tylko bardziej popularne wskaźniki i stosunki, a mianowicie:

Wskaźniki dotyczące tylko zmienności procesu odnoszące się do specyfikacji CP i PP.

Połączone wskaźniki zmienności procesu i centrowania w stosunku do specyfikacji: CPU, CPL, Cpk, i Ppk. Stosunki dotyczące tylko zmienności procesu odnoszące się do specyfikacji: CR i PR.

Uwaga: Chociaż inne wskaźniki nie są omawiane w tym podręczniku Załącznik D i H, Odsyłacz 16, przedstawiają informacje o jednym z nich - Cpm, stosunkowo nowym wskaźniku, na który ostatnio zwrócono uwagę.

W rozdziale tym opisano warunki i założenia związane z tymi miarami procesu i zawarto konkluzje zawierające sugestie dotyczące zastosowania tych pomiarów , co znacznie ułatwi zrozumienie działanie procedur ciągłego doskonalenia procesu.

W podręczniku tym zostały zauważone niezrozumienie i kontrowersje wynikłe z zastosowania takich podstawowych pojąć i definicji odnoszących się do kwestii „Sterowania”, „Zdolności” i „ Osiągów” procesu. Należy tu zauważyć, że celem tego podręcznik nie jest rozwiązanie tych kwestii, lecz przedstawienie ich w takim zakresie, który daje każdemu czytelnikowi możliwość lepszego ich zrozumienia, aby dostarczyć odpowiednią wiedzę i ułatwić ocenę ciągłego doskonalenia procesu.

  1. DEFINICJE POJĘĆ ZWIĄZANYCH Z PROCESEM

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 5. Zrozumienie zdolności (kontynuacja) - Definicje Pomiarów Procesu

  1. DEFINICJE MIAR PROCESU

B.1. Wskaźniki

Cp: wskaźnik zdolności, który jest definiowany jako szerokość tolerancji podzielona przez zdolność procesu, bez uwzględnienia centrowania procesu. Zazwyczaj jest on wyrażany jako 0x01 graphic

Pp: wskaźnik zdolności, który jest definiowany jako szerokość tolerancji podzielona przez osiągi procesu, bez uwzględnienia centrowania procesu. Zazwyczaj jest on wyrażany jako 0x01 graphic
(powinien być on używany tylko do porównywania do lub z Cp i Cpk oraz do mierzenia i ustalania priorytetów dotyczących doskonalenia na przestrzeni czasu).

CPU: jest to górny wskaźnik zdolności i definiowany jest jako górny rozrzut tolerancji podzielonej przez aktualny górny rozrzut procesu. Zazwyczaj jest on wyrażony jako 0x01 graphic

CPL: jest to górny wskaźnik zdolności i definiowany jest jako górny rozrzut tolerancji podzielonej przez aktualny górny rozrzut procesu. Zazwyczaj jest on wyrażony jako 0x01 graphic

Cpk: jest to wskaźnik zdolności procesu, który bierze pod uwagę centrowanie procesu i jest definiowany jako minimum z CPU lub CPL. Odnosi się on od wyskalowanej odległości pomiędzy przeciętna dla procesu i bliższą granicą specyfikacji do połowy rozrzutu procesu.

Ppk: jest to wskaźnik zdolności procesu, który bierze pod uwagę centrowanie procesu i jest definiowany jako minimum z 0x01 graphic
lub 0x01 graphic
(powinien on być używany tylko do porównywania z Cp i Cpk oraz do mierzenia i ustalania priorytetów doskonalenia w czasie).

B.2. Stosunki

CR: jest to stosunek zdolności i jest on odwrotnością Cp , tj. 0x01 graphic

PR: jest to stosunek osiągów i jest on odwrotnością Pp , tj. 0x01 graphic

Uwaga: Przykłady wyliczenia wszystkich tych miar są pokazane na stronie 58.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 5. Zrozumienie zdolności (kontynuacja) - Definicje Pomiarów Procesu

B.3. Objaśnienie Odchylenia Standardowego Próby - s w przeciwieństwie do s.

Zarówno s (używane w częściach A i B tego rozdziału) jak i s (używane w kartach 0x01 graphic
i s, strona 65) są wyliczane przy zastosowaniu dokładnie takiego samego wzoru dla odchylenia standardowego próby, tj.: 0x01 graphic
S i s 0x01 graphic
. Jednakże „n” we wzorze symbolizuje dwa różne rodzaje próby, które są opisane poniżej:

C. OPIS WARUNKÓW I ZAŁOŻEŃ

Należy w tym miejscu zaznaczyć, że zmienność procesu i jego centrowanie to dwie różne charakterystyki procesu. Charakterystyki te muszą być oddzielnie właściwie rozumiane. Jednakże dla ograniczenia ich odrębnego analizowania, wygodnym stało się połączenie tych dwóch charakterystyk w jeden wskaźnik - Cpk lub Ppk. Wskaźniki te mogą być użyteczne dla:

Wskaźnik zdolności (np. Cpk) dodatkowo użyteczny jest dla określenia czy proces jest zdolny do spełnienia wymagań klienta, czy też nie (początkowe przeznaczenie ustalenia wskaźnika zdolności). Należy zwrócić uwagę na to, dodatkowe zastosowanie nie powinno być używane dla wskaźników osiągów (aby uzyskać niezbędne informacje dotyczące sugerowanego stosowania miar osiągów patrz strona 80).

Dla tych wskaźników (jak również dla wszystkich innych miar procesu opisanych w części B tego rozdziału) aby mogły być efektywnie stosowane, właściwie muszą być rozumiane takie pojęcia jak WARUNKI i ZAŁOŻENIA , które je ograniczają. Jeżeli warunki i założenia nie są spełniane, miary będą miały małe znaczenia lub nie będą miały żadnego znaczenia i w ten sposób nie będą dodawały żadnych informacji o procesie, z którego zostały one wytworzone. Niżej podane są cztery warunki, które muszą być spełnione jako minimum, dla wszystkich miar zdolności, które zostały opisane w Części B tego rozdziału:

  1. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 5. Rozumienie zdolności (kontynuacja) - Sugerowane zastosowanie miar procesu

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

Rysunek 29. „Słupek bramki” kontra funkcja utraty.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 5. Zrozumienie zdolności (kontynuacja) - Definicje Pomiarów Procesu

  1. SUGEROWANE ZASTOSOWANIE MIAR PROCESU

Kluczem do efektywnego stosowania każdego ciągłego procesu pomiaru jest poziom zrozumienia tego co miara rzeczywiście sobą reprezentuje. Ci statystycy, którzy w ogóle przeciwstawiają się sposobom wykorzystywania wartości Cpk, starają się udowodnić, że niewiele procesów w „realnej rzeczywistości” całkowicie spełnia wszystkie warunki, założenia i parametry, dzięki którym opracowany został wskaźnik Cpk (patrz Załącznik H, Odsyłacz 14 i 18). Dalej, w podręczniku tym przedstawione jest stanowisko pokazujące, że nawet przy spełnionych wszystkich warunkach, trudno jest ocenić i w pełni zrozumieć proces na podstawie wartości pojedynczego wskaźnika lub stosunku, z powodów, które zostały omówione poniżej.

D.1. Koncepcja Utraty Funkcji

Siłą napędową, za sprawą której były używane wskaźniki zdolności (i inne miary procesu) było oczywiste dążenie do wytwarzania wszystkich części w granicach specyfikacji inżynieryjnych. Podłożem koncepcji służącej za motywację do osiągnięcia tego celu jest fakt, że wszystkie części, które mieszczą się w zakresie specyfikacji są „dobre” (lub do przyjęcia) a wszystkie części poza specyfikacją , niezależnie od tego jak daleko wychodzą one poza granice specyfikacji, są „złe” (lub nie do przyjęcia). Ludzie zajmujący się zawodowo jakością czasami nazywają takie podejście psychiczne „Stanowisko Celu” (patrz rysunek 29 (a))

Chociaż ten model myślenia (zły / dobry) był szeroko stosowany w przeszłości, uważa się, że bardziej użytecznym modelem tj. takim, który jest znacznie bliższy realnej rzeczywistości jest ten, który przedstawiono na rysunku 29 (b). Model ten przyjmuje, ogólnie rzecz biorąc, kształt paraboli i wykorzystuje zasadę, że strata rosnąca wykładniczo (jako przeciwieństwo do liniowej) ponoszona przez klienta i / lub społeczeństwo jest tym większa, im dalej dana charakterystyka odbiega od celu ustalonego przez specyfikację. Domniemaniem w tej koncepcji, jest założenie, że zamiarem projektu (celu ustalonego specyfikacją) jest wystarczająco dobre wypełnienie wymagań klienta.

  1. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 5. Rozumienie zdolności (kontynuacja) - Sugerowane zastosowanie miar procesu

0x08 graphic

Rysunek 30. Dostosowanie procesu do wymagań

- 84 -

Rysunek 30. Dopasowanie procesu do wymagań.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 5. Zrozumienie zdolności (kontynuacja) - Definicje Pomiarów Procesu

D.2. Dostosowanie Procesu do Wymagań Klienta

W rozdziale 2 Działu I proces został przedstawiony w formie graficznej (patrz rysunek 1, strona 6). Charakterystyka wyjścia z takiego procesu może być wyrażona graficznie w postaci cech rozkładu jego zmienności. Rozkład ten może być przedstawiony jako rozkład procesu (patrz rysunek 30 (a)).

Strata funkcji, taka jak ta przedstawiona na rysunku 30 (b), może być ustalona dla charakterystyk procesu, których rozkład jest pokazany na rysunku 30 (a). Następnie, zakładając małą zmienność lub brak zmian w wymaganiach klienta (celu ustalonego specyfikacją), przez nałożenie procesu rozkładu na krzywą straty funkcji podaną przez klienta (rysunek 30 (c)), można wyciągnąć dwa wnioski:

Analiza ta czasem nazywana jest dopasowywaniem „Głosu z Procesu” do „Głosu od Klienta”. (aby uzyskać dokładne informacje na ten temat patrz Załącznik H, Odsyłacz 22). Należy zauważyć, że chociaż nie zakłada się żadnej zmienności w „Głosie od Klienta” - w tym przykładzie, to jednak „Głos od Klienta” (cel specyfikacji) ulega zmianom w realnej rzeczywistości i właśnie to w dalszym ciągu przebiegu procesu, komplikuje osiągnięcie prawdziwej satysfakcji z działania danego procesu.

Podsumowując, dla rozpatrywanego przypadku można wykazać, że przy rozkładzie dla części wytwarzanych w procesie, tylko około 45% całkowitych strat klienta jest przypisywana do części będących poza specyfikacją podczas gdy pozostałe straty pochodzą od części mieszczących się w specyfikacji, a nie na granicy celu (rysunek 30 (d)). To bardzo wyraźnie pokazuje, że podejście psychiczne do „Stanowiska celu” lub wyliczanie procentu „złych” części (poza specyfikacją), samo w sobie, nie zapewnia odpowiedniej oceny rozumienia jakie właściwie znaczenie ma proces dla klienta.

II. KARTY KONTROLNE DLA ZMIENNYCH

Rozdział 5. Zrozumienie zdolności (kontynuacja) - Definicje Pomiarów Procesu

D.3. Zastosowanie Miar Procesu

Z powodów przedstawionych w poprzednich punktach i przy założeniu, że warunki opisane w Części C tego rozdziału zostały spełnione, przy zastosowaniu miar procesu w celu lepszego zrozumienia i efektywnego ciągłego doskonalenia procesów, zaleca się:

Końcowym zaleceniem jest ograniczanie wszystkich ocen zdolności do pojedynczej charakterystyki procesu. Nie właściwym jest łączenie lub uśrednianie wyliczeń zdolności kilku procesów w jeden wskaźnik.

Należy mieć nadzieję, że zastosowanie miar procesu w zakresie tych ogólnych ram dostarczy pewnych informacji koniecznych do uzyskania rzeczywistego doskonalenia procesu w sposób konkurencyjny.

0x08 graphic
Wyniki porównania Wyjścia z procesu ze specyfikacją odbiorczą

Oraz wykrywanie czy spełnia czy nie spełnia ono wymagań

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
Wyjście jest klasyfikowane

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

Przykłady Wyjścia

Karty Kontrolne

  • pojazd nie przecieka / przecieka

  • lampa świeci / nie świeci

  • średnica otworu za mała lub za duża (sprawdzian przechodzi / nie przechodzi)

  • wysyłka do dealera prawidłowa lub nieprawidłowa

  • karta p dla proporcji jednostek Niezgodnych

  • karta no dla Liczby Jednostek Niezgodnych

  • pęcherze w osłonie przeciwwiatrowej

  • wady powłoki farby na drzwiach

  • błędy w fakturze

  • karta c dla liczby Niezgodności w Badanej Jednostce (Partii)

  • karta u dla liczby Niezgodności na Jednostkę

Kryteria wymagań muszą być jasno określone i procedura decydowania czy kryteria te są spełnione musi dawać konsekwentne wyniki w czasie.

Specyfikacja odbiorcza

Komentarz

  • powierzchnia powinna być wolna od nieciągłości

  • powierzchnia powinna odpowiadać standardowemu wzorcowi co do koloru, tekstury, jasności i wad

  • wszelkie materiały stosowane na tył lustra dla zabezpieczenia go przed zadrapaniem nie powinny powodować widocznego zaplamienia tyłu lustra

  • Co jest nieciągłością?

  • czy inspektorzy są zgodni?

  • Jak mierzona?

  • Odpowiadać w jakim stopniu?

  • Jak mierzona?

  • Widoczne dla kogo?

  • W jakich warunkach?

Rys. 31 Dane atrybutowe.

DZIAŁ III

KARTY KONTROLNE DLA DANYCH ATRYBUTOWYCH

Chociaż karty kontrolne najczęściej są rozpatrywane w odniesieniu do danych zmiennych (jak to zostało przedstawione w dziale II), opracowano także ich wersje dla danych atrybutowych (Patrz Rysunek 31). Dane atrybutowe mają tylko dwie wartości (spełniający / nie spełniający, przeszedł / odpadł, przechodzi / ni przechodzi, obecny / nieobecny), ale mogą być one liczone dla zapisania i analizowania*. Np. obecność wymaganej przywieszki, ciągłość obwodu elektrycznego lub błędy w dokumencie napisanym na maszynie. Inne przykłady dotyczą zmierzonych charakterystyk, których wyniki są zapisywane w prosty sposób tak / nie, przykładem może tu być: zgodność średnicy wału przy podczas testu - przechodzi / nie przechodzi, dopuszczalność luzu w drzwiach badane wzrokowo lub przy pomocy testu lub dostawa zrealizowana na czas. Karty kontrolne dla danych atrybutowych są ważne z kilku powodów:

*W podręczniku tym, w odniesieniu do danych atrybutowych, będą używane pojęcia zgodny / nie zgodny, ponieważ: 1) są one tradycyjnie używane, 2) organizacje wkraczające na drogę ciągłego doskonalenia zazwyczaj rozpoczynają od takich kategorii, 3) w wielu przykładach opisanych w specjalistycznej literaturze wykorzystane są te pojęcia. Nie należy tego rozumieć w ten sposób, że są one jedynymi prawidłowymi określeniami lub że karty dla atrybutów nie mogą być użyte dla procesów w przypadku 1 (patrz str.13) (Załącznik H).

Następne cztery rozdziały obejmują podstawy dla czterech głównych typów kart dla atrybutów.

Rozdział 1 - Karta p dla proporcji jednostek niezgodnych (dla prób niekoniecznie tej samej wielkości)

Rozdział 2 - Karta np dla liczby jednostek niezgodnych (dla prób tej samej wielkości)

Rozdział 3 - Karta c dla liczby niezgodności (dla prób tej samej wielkości)

Rozdział 4 - Karta u dla liczby niezgodności na jednostkę (dla prób niekoniecznie tej samej wielkości)

Pierwsze rozważania o karcie są dłuższe od pozostałych i są one wprowadzeniem ogólne zasady. Pozostałe trzy rozdziały koncentrują się na cechach różniących te trzy typy kart.

0x08 graphic

III. KARTY KONTROLNE DLA DANYCH ATRYBUTOWYCH

Rozdział 1

KARTA p DLA PROPORCJI JEDNOSTEK NIEZGODNYCH

Karta p mierzy proporcję sztuk niezgodnych (usterkowych lub tzw. wadliwych) w grupie sztuk poddanych kontroli. Może mieć ona odniesienie do próby 75 sztuk, pobieranych dwa razy dziennie, jakiegoś procentu produkcji zgrupowane na podstawie ilości wytworzonej w ciągu godziny lub dnia, proporcji dostaw na czas, itp. Można tego dokonać na podstawie oceny jednej charakterystyki (Czy określony element został zainstalowany? ) lub wielu charakterystyk (Czy znaleziono coś wadliwego w elektrycznym systemie stacji kontrolnej?). Ważnym jest, że:

Przed użyciem karty p trzeba wykonać kilka działań przygotowawczych:

0x08 graphic

III. KARTY KONTROLNE DLA DANYCH ATRYBUTOWYCH

Rozdział 1. Karty p (kontynuacja)

  1. ZBIERANIE DANYCH

A.1. Wybierz wielkość, częstość i liczbę podgrup (patrz rysunek 32)

  1. Wielkość podgrupy - karty dla atrybutów zazwyczaj wymagają dość dużych wielkości podgrup (tj. 50 do 200 lub więcej), aby były one zdolne do wykrywania umiarkowanych zmian w osiągach. Aby uwidocznić na karcie konfigurację nadającą się do analizy , wielkość podgrupy musi być tak duża aby wystąpiło w niej kilka niezgodności (np. 0x01 graphic
    >5). Należy zwrócić uwagę na fakt, że duży rozmiar podgrupy może być niekorzystny, jeżeli każda podgrupa reprezentuje długi okres przebiegu działania procesu. Najkorzystniej jest, jeżeli podgrupy mają stałą wielkość lub gdy zmieniają się nie więcej niż o +/-25%, ale nie jest to regułą. Jest również pomocnym, gdy wielkość podgrupy jest wystarczająco duża w stosunku do 0x01 graphic
    , co ułatwia wyodrębnienie granicy kontrolnej w taki sposób, aby można było odnotować przyczyny związane z udoskonalaniem.

  2. Częstość podgrup- częstość zbierania podgrup powinna być dopasowana do czasu wytwarzania, ułatwia to analizowanie i korygowanie stwierdzonych błędów. Krótsze interwały czasowe pozwalają na szybsze sprężenie zwrotne, ale mogą być sprzeczne z wymaganiami dotyczącymi wielkości podgrup.

  3. Liczba podgrup - czas zbierania danych powinien być odpowiednio długi, aby możliwe było uchwycenie wszelkich źródeł zmienności wpływających na proces. Zazwyczaj, analizą powinno być objęte 25 lub więcej podgrup dla uzyskania wiarygodnych wyników testu stabilności i gdy proces jest stabilny dla uzyskania wiarygodnego oszacowania jego osiągów.

A.2. Wylicz dla Każdej podgrupy proporcję niezgodności (p) (patrz rysunek 32)

Dla każdej podgrupy należy zarejestrować następujące dane:

Liczbę skontrolowanych sztuk - n

Liczbę stwierdzonych sztuk niezgodnych - np.

Z tego wylicz proporcję sztuk niezgodnych:

0x01 graphic

dane te należy zapisać na formularzu danych, jako podstawę do wstępnej analizy. Jeżeli dostępne są dane z okresu bezpośrednio poprzedzającego, mogą być wykorzystane w celu przyspieszenia fazy badania.

A.3. Wybierz skalę dla karty kontrolnej

Karta, na którą mają być nanoszone dane, powinna być sporządzona z proporcją (lub procentem) niezgodności na skali pionowej i z identyfikacją podgrup (godzina, dzień, itd.) na skali poziomej. Skala pionowa powinna rozciągać się od zera do 1-1/2 do 2 krotnej wartości najwyższej proporcji niezgodności znalezionej w danych z początkowych odczytów.

A.4. Nanieś proporcje niezgodności na kartę kontrolną (patrz rysunek 32)

Nanieś wartość p dla każdej podgrupy. Zazwyczaj pomocnym jest połączenie punktów linią, dla ułatwienia przeglądu konfiguracji i trendów.

Po naniesieniu punktów, należy je przejrzeć dla sprawdzenia, czy są prawidłowe. Jeżeli jakieś punkty są znacznie wyżej lub niżej od innych sprawdź, czy wyliczenia są prawidłowe.

W części karty przeznaczonej na uwagi, zapisz zmiany w procesie lub nadzwyczajne okoliczności, które mogły mieć wpływ na proces, w momencie gdy zostały one zaobserwowane.

0x08 graphic

III. KARTY KONTROLNE DLA DANYCH ATRYBUTOWYCH

Rozdział 1. Karty p (kontynuacja)

  1. WYLICZNIE GRANIC KONTROLNYCH

B.1. Wylicz średnią proporcję niezgodności dla procesu (0x01 graphic
) (patrz Rysunek 33)

Dla wstępnego okresu badawczego i k podgrup, wylicz średnia proporcję niezgodności:

0x01 graphic

gdzie n1p1, n2p2... i n1, n2 są liczbą niezgodnych sztuk i liczbą sztuk kontrolowanych w każdej podgrupie. Należy być ostrożnym aby nie pomylić procentów (p x 100) z proporcją wadliwych (p).

B.2. Wylicz górną i dolną granicę kontrolną (UCL, LCL) (patrz rysunek 33, arkusz 1)

Granice kontrolne są średnią proporcją procesu plus lub minus dopuszczalna zmienność, która może być oczekiwana, jeżeli proces jest w stanie sterowania statystycznego i przy danej wielkości podgrup. Dla okresu badania k podgrup, wylicz górną i dolną granicę kontrolną:

0x01 graphic

gdzie n jest stałą wielkością podgrupy.

Uwaga: jeżeli 0x01 graphic
jest niskie i / lub n jest małe, LCL czasami może po wyliczeniu dać wartość ujemną. W takim przypadku nie ma dolnej granicy kontrolnej, gdyż nawet wartość p =0 dla określonego okresu czasu jest w zakresie granic zmienności losowej.

B.3. Wylicz i oznacz linie (patrz rysunek 33, arkusz 1)

Podczas wstępnej fazy badawczej, są one uznawane za próbne granice kontrolne.

0x08 graphic

Rys. 33 Karta p dla proporcji niezgodności-przeliczanie granic kontrolnych, Arkusz 2.

III. KARTY KONTROLNE DLA DANYCH ATRYBUTOWYCH

Rozdział 1. Karty p (kontynuacja)

UWAGA: podane wyżej wyliczenia granic kontrolnych są właściwe, gdy wielkość wszystkich podgrup jest równa (jak to ma miejsce w sytuacji sterowania pobieraniem prób). Teoretycznie zawsze gdy zmienia się wielkość podgrupy (nawet dla pojedynczej podgrupy), zmieniają się również granice kontrolne a jednostkowe linie będą wyliczane dla każdej podgrupy, która ma inną wielkość. Jednak, dla zastosowań praktycznych, granice kontrolne wyliczone dla średniej wielkości próby (0x01 graphic
) są dopuszczalne, jeżeli wielkość poszczególnych podgrup różni się od średniej nie więcej jak o +/-25% (jest to typowe dla rzeczywistych wielkości produkcji przy stosunkowo stabilnych warunkach). Dla tych sytuacji:

0x01 graphic

Jeżeli między podgrupami jest większa różnica, konieczne jest naniesienie odręcznych granic kontrolnych dla okresów, w których są szczególnie małe lub szczególnie duże próby. Stosowna procedurą (która powinna być udokumentowana na karcie - w części przeznaczonej na uwagi) jest:

0x01 graphic

gdzie n jest wielkością próby określonej podgrupy. Tylko wielkość n zmienia się od punktu do punktu.

Należy zwrócić uwagę, że każda procedura postępowania ze zmiennymi granicami kontrolnymi staje się niewygodna i może doprowadzić do potencjalnych nieporozumień między osobami interpretującymi karty. Lepiej jeżeli jest to tylko możliwe, tak ułożyć plan zbierania danych, aby mogły być używane próby o jednakowej wielkości.

0x08 graphic

Rys. 34 Karta p dla proporcji-punkty poza granicami kontrolnymi.

III. KARTY KONTROLNE DLA DANYCH ATRYBUTOWYCH

Rozdział 1. Karty p (kontynuacja)

  1. INTERPRETACJA KARTY DLA STEROWANIA PROCESEM

Cel: zidentyfikować każdy sygnał, dotyczący faktu, że proces nie działa dalej na tym samym poziomie - że jest poza sterowaniem - i podjąć stosowne działania. Punktu poza sterowaniem lub oczywiste trendy względnie konfiguracje danych inne niż te, które mogą pojawiać się jako losowe, sugerują występowanie specjalnych przyczyn zmienności.

C.1. Przeanalizuj naniesione dane dla ujawnienia niestabilności

  1. Punkty poza granicami kontrolnymi (patrz rysunek 34). Obecność jednego lub większej liczby punktów poza którąś z granic kontrolnych jest oznaką niestabilności w tym punkcie. Ponieważ punkty poza granicami kontrolnymi będą występowały bardzo rzadko, to przy stabilnym procesie i występowaniu tylko zwykłych przyczyn zmienności, zakładamy, że specjalna przyczyna wpłynęła na tę wartość ekstremalną. Specjalne przyczyny mogą być niepożądane lub korzystne; każda z sytuacji wymaga niezwłocznego zbadania. Jest to pierwsza rutynowa decyzja podjęcia działań dla każdej karty kontrolnej. Każdy punkt poza granicą kontrolną powinien być oznaczony.

Punkty ponad górna granicą kontrolną (wyższa proporcja niezgodności) zazwyczaj są sygnałem o jednym lub więcej z niżej podanych czynników:

Punkty poniżej dolnej granicy kontrolnej (niższa proporcja niezgodności) zazwyczaj są sygnałem o jednym lub więcej z niżej podanych czynników:

Konfiguracje i trendy w zakresie granic kontrolnych - obecność niezwykłych konfiguracji lub trendów, nawet jeżeli wszystkie punkty są pomiędzy granicami kontrolnymi, może być oznaka braku sterowania lub zmiany na poziomie osiągów w czasie trendu lub zmiany konfiguracji. Może to stanowić wczesne ostrzeżenie o warunkach które, jeżeli nie zostaną skorygowane, mogą spowodować wyjście punktów poza granice kontrolne.

UWAGA: jeżeli średnia liczba sztuk niezgodnych w podgrupie (0x01 graphic
) jest umiarkowanie duża (9 lub więcej) rozkład wartości p dla podgrup jest bliski normalnego i można posługiwać się analizą trendu taką, jak dla kart 0x01 graphic
. Jeżeli 0x01 graphic
staje się małe (5 lub mniej) opisane zasady nie mają zastosowania.

0x08 graphic

Rysunek 35. Karta p dla proporcji niezgodności - przebiegi .

III. KARTY KONTROLNE DLA DANYCH ATRYBUTOWYCH

Rozdział 1. Karty p (kontynuacja) - Interpretacja karty dla sterowania procesem

  1. Przebiegi (patrz rysunek 35) - w procesie o umiarkowanie dużym 0x01 graphic
    , który jest w sterowaniu, po każdej stronie średniej powinna leżeć w przybliżeniu taka sama liczba punktów. Występowanie każdego z przypadków podanych poniżej będzie oznaczało przesunięcie się procesu lub początek trendu:

W takich przypadkach punkt który sugeruje podjęcie decyzji (np. 7 punkt powyżej średniej) powinien być zaznaczony, przy czym pomocne będzie przedłużenie linii odniesienia wstecz, do początku tego przebiegu. Analiza powinna brać pod uwagę przybliżony czas, w którym po raz pierwszy pojawiło się przesunięcie lub trend.

Przebiegi powyżej średniej procesu lub przebiegi w górę zazwyczaj oznaczają jeden lub oba z niżej podanych czynników:

Przebiegi poniżej średniej procesu lub przebiegi w dół zazwyczaj oznaczają jeden lub oba z niżej podanych czynników:

UWAGA: jeżeli 0x01 graphic
jest małe (poniżej 5) prawdopodobieństwo przebiegów poniżej 0x01 graphic
rośnie, tak więc przebieg o długości 8 punktów lub dłuższy, może być konieczny dla zasygnalizowania wzrostu proporcji niezgodności.

0x08 graphic

Rysunek 36. Karta p dla proporcji niezgodności - konfiguracje nieprzypadkowe.

102

POPRAW ZDOLNOŚĆ PROCESU

Dla poprawienia zdolności procesu (a w ten sposób i osiągów), skoncentruj się na redukowaniu zwykłych przyczyn zmienności. Będzie to zazwyczaj wymagało działania kierownictwa dla skorygowania procesu .

KARTA I ANALIZA POPRAWIONEGO PROCESU

Potwierdź efektywność zmian systemu przez utrzymane monitorowanie kart kontrolnych.

PRZYGOTOWANIE DO STOSOWANIA KART KONTROLNYCH

Rozważania dotyczące:

- Potrzeb kupującego

- Obszarów obecnych i potencjalnych problemów

- Korelacji między charakterystykami

a)

CZĘŚCI W POŁOŻENIU A SĄ

TAK DOBRE JAK CZĘŚCI W POŁOŻENIU B i C

ZŁE DOBRE ZŁE

"STANOWISKO CELU"

b)

WARTOŚĆ DOCELOWA / ZAŁOŻENIA W PROJEKCIE / WYMAGANIA KLIENTA

CZĘŚCI W POŁOŻENIU A: ŻADNA STRATA

CZĘŚCI W POŁOŻENIU B: PEWNA STRATA

KRZYWA STRATY CZĘŚCI W POŁOŻENIU C: WIĘKSZA STRATA

FUNKCJI

WIELKOŚĆ STRATY W C

S

T

R

A WIELKOŚĆ STRATY W B

T

A

MENTALNOŚĆ STRATY FUNKCJI

(STRATA DLA KLIENTA I/LUB SPOŁECZEŃSTWA)

Z przykładu:

Jeżeli wymaganie co do zdolności, wyrażone poprzez Z min, było Z min > 4, wtedy bieżąca zdolność wyrażanie przez Z min będzie nie do przyjęcia gdyż Z min = 2.23 i około 1,3% wyjścia jest poza specyfikacją; nawet jeżeli proces mógłby być wycentrowany, Z min = 2.76. Musi być podjęte działanie.

Aktualna średnia procesu X jest używana do wyliczania zakresu koniecznego dla Z min = 4 odnoszącego się do istniejącej specyfikacji:

USL - X X - LSL

σ nowe = ------------------ lub σ nowe = ------------------

Z min nowe Z min nowe

Zależnie od tego, która granica specyfikacji jest bliżej średniej procesu. Jako, że tutaj

bliżej jest USL:

0,900 - 0,738 0,162

σ nowe = ----------------------- = --------------- = 0,0405

oznacza to, że muszą być podjęte działania dla ograniczenia odchylenia standardowego procesu z 0,0725 do 0,0405, co oznacza poprawienie o około 44%.

Jeżeli zostanie potwierdzone przy pomocy kart kontrolnych, że proces został wycentrowany i X nowe = 0,700, zakres procesu niezbędny dla Z min = 4(X + 4σ), oparty na istniejących specyfikacjach, będzie wynosić:

USL - X nowa 0,900 - 0,700 0,200

σ nowe = ------------------------ = ----------------------- = -------------- = 0,0500

Z min nowe 4 4

Wraz z dostrajaniem procesu do środka specyfikacji, potrzebne będą działania

dla zredukowania odchylenia standardowego z 0,0752 do 0,0500 czyli o około 31%.

Jeżeli proces nie ma być zmieniony, nowa wartość X + w specyfikacji będzie:

X + 4σ = 0,738 + 4 x 0,0725 = 0,700 + 0,290

0,448 do 1,028 (w zaokrągleniu 0,45 do 1,03)

Jeżeli proces został doregulowany i zostało potwierdzone przy pomocy kart

kontrolnych, że X nowa = 0,700 (wycentrowane), to nowa wartość X +

będzie wynosić:

X nowa + 4σ = 0,700 + 4 x 0,0725 = 0,700 + 0,290

= 0,410 do 0,990 (w zaokrągleniu 0,40 do 1,00)

Ludzie

Ludzie

Ludzie

Spełnia

"PRZYJĘTE"

nie spełnia

"ODRZUCONE"

Ludzie

Ludzie



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
SPC MYCIE FORMY KOSMETYKÓW 2
Spc
cwiczenie lab nr 5i6 SPC
385 SPC Lab 03 LQR id 36426
SPC opracowanie (1)
SPC
Zadania ZJ lub SPC, Zarządzanie UEK, Semestr V, Zarządzanie jakością
Lit-SPC, Studia, STUDIA PRACE ŚCIĄGI SKRYPTY
lecture 10 intro to SPC
spc formy mycie 3
C4 86w8 SPC Statystyczne sterowanie
3 SPC Karty kontrolne S id 3409 Nieznany (2)
SPC
sciaga SPC LK2
adsorpcja czasteczek spc na granicy faz woda, WSZKiPZ, semestr III, surowce test
SPC
SPC 01, SPC- Statystyczne Sterowanie Procesem
2011 12 07 Buprenorphine Actavis SPC finalid 27543
Statystyka dzienne wyklad15, Metody statystycznego sterowania procesami (SPC)

więcej podobnych podstron