nowe200


Ćw. nr

200

Data

25-03-98

Imię i nazwisko]

Łukasz Olesiński

Wydział

Elektryczny

Semestr

II

Grupa

8

Prowadzący

mgr Bogusław Furman

Przygotowanie

Wykonanie

Opracowanie

Ocena ostat.

Temat: Wyznaczanie bariery potencjału na złączu PN

0x08 graphic
0x08 graphic
Dioda p-n jest jednym z najpowszechniej stosowanych elementów elektronicznych. Ze względu na asymetryczną charakterystykę prądowo-napięciową najczęściej stosuje się diodę jako element prostowniczy. Diodę stanowią dwa zetknięte ze sobą półprzewodniki, z których jeden jest typu p, a drugi typu n. Na rysunku 200.1 przedstawiony jest schemat energetyczny obu rodzajów półprzewodników.

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

Gdy oba półprzewodniki doprowadzimy do ścisłego kontaktu, następuje przepływ elektronów do części p oraz dziur do części n w wyniku procesu termoemisji. Ta wymiana nośników ustaje, gdy wyrównają się poziomy Fermiego i między obu częściami diody wytworzy się różnica potencjałów ϕ . Schemat energetyczny diody przedstawia rys.200.2. Obszarem złącza jest obszar, gdzie pasma nie są płaskie, i w którym koncentracja elektronów jest mniejsza niż w części n, a dziur - mniejsza niż w części p. Na rysunku zaznaczono koncentrację nośników w obu obszarach - N oznacza koncentrację elektronów, P - koncentrację dziur, a indeksy n i p wskazują, do którego obszaru dana koncentracja się odnosi. Widoczne jest że w obszarze złącza jest mało nośników, więc obszar ten stanowi utrudnienie dla przepływu prądu. Miarą tego utrudnienia jest różnica potencjałów na złączu. Zwróćmy uwagę, że złącze stanowi barierę zarówno dla elektronów poruszających się w prawo, jak i dla dziur poruszających się w lewo, ponieważ energia elektronów rośnie do góry, natomiast dziur (ładunków dodatnich ) wzrasta w kierunku dołu. Zatem dla obu rodzajów nośników przejście przez złącze związane jest z wykonaniem pracy eϕ.

Przedstawiona sytuacja dotyczy nośników większościowych, tzn. elektronów z obszaru n i dziur z obszaru p. Natomiast dla nośników mniejszościowych, czyli elektronów z obszaru p i dziur z obszaru n, bariera nie stanowi przeszkody, ponieważ ich ruch odbywa się w kierunku ku mniejszej energii (elektrony w lewo dziury w prawo ). Bariera potencjału na złączu może być zwiększona lub zmniejszona przez przyłożenie do diody napięcia V ze źródła zewnętrznego.

Wynosi ona wtedy

(200.1)

gdzie znak „+” odnosi się do przypadku, gdy do części p jest przyłożony biegun ujemny źródła - mówimy wtedy, że dioda jest spolaryzowana zaporowo. W przeciwnym przypadku mówimy o polaryzacji diody w kierunku przewodzenia.

W diodzie p-n występują dwie przyczyny ruchu nośników:

1) dążenie do znalezienia się w obszarze najniższej energii potencjalnej oraz

2) dążenie do wyrównania koncentracji, czyli dyfuzji nośników

Mechanizm pierwszy powoduje ruch elektronów z obszaru p do obszaru n oraz dziur z obszaru n do obszaru p. Suma strumieni tworzy prąd nasycenia Is

(200.2)

który zależy tylko od koncentracji Np i Pn nośników mniejszościowych, a nie zależy od przyłożonego napięcia.

Koncentracja nośników zależy wykładniczo od położenia pasma względem poziomu Fermiego EF . Jak wynika z rysunku 200.2, różnica energii między pasmem przewodnictwa części p i poziomem EF wynosi (EW - EF ) + eϕ . Koncentracja elektronów określona jest wzorem

(200.3)

gdzie NC jest w przybliżeniu wielkością stałą, zwaną efektywną wielkością stanów.

Gdy złącze jest symetryczne, koncentracja dziur Pn ma taką samą wartość, tzn. Pn = Np .

Proporcjonalność natężenia prądu nasycenia do koncentracji nośników mniejszościowych możemy zatem wyrazić równaniem

(200.4)

w którym stała C zawiera efektywną gęstość stanów, ruchliwość nośników oraz powierzchnię złącza.

Dyfuzja w złączu p-n polega na takim ruchu nośników, który prowadzi do zmniejszenia różnicy koncentracji zarówno elektronów jak i dziur po obu stronach złącza. Prąd związany z tym ruchem nazywa się prądem dyfuzji Id i składa się z prądu elektronowego i dziurowego

(200.5)

Prąd dyfuzyjny ma kierunek przeciwny do kierunku prądu nasycenia, stąd wypadkowy prąd płynący przez złącze p-n jest różnicą obu prądów

, (200.6)

Prąd dyfuzji elektronów jest proporcjonalny do różnicy koncentracji elektronów, czyli do (Nn - Np) oraz do prawdopodobieństwa pokonania bariery potencjału Pϕ .

(200.7)

Układ do pomiaru charakterystyk prądowo-napięciowych przedstawiony jest poniżej:

Pomiary i obliczenia

Dokładność pomiarów:

T = ± 1oC

U = ± 1 mV

I = ± 0,5 μA

Tabela pomiarowa:

Tabela pomiarowa wraz z obliczonym ln I dla poszczególnych temperatur

Lp

T = 298 [K]

T = 318 [K]

T = 278 [K]

U[V]

I[A]*10-6

ln I [A]

U[V]

I [A]*10-6

ln I [A]

U[V]

I [A]*10-6

ln I [A]

1

0,5

69

-9,5814

0,485

75

-9,49802

0,53

74

-9,51145

2

0,49

56

-9,79016

0,47

68

-9,596

0,52

55

-9,80818

3

0,48

45

-10,0088

0,46

59

-9,73797

0,51

43

-10,0543

4

0,47

35

-10,2602

0,45

49

-9,92369

0,5

33

-10,319

5

0,46

28

-10,4833

0,44

31

-10,3815

0,49

26

-10,5574

6

0,45

21

-10,771

0,43

25

-10,5966

0,48

20

-10,8198

7

0,44

16

-11,0429

0,42

19

-10,8711

0,47

16

-11,0429

8

0,43

13

-11,2506

0,41

15

-11,1075

0,46

12,5

-11,2898

9

0,42

12

-11,3306

0,4

12

-11,3306

0,45

9,5

-11,5642

10

0,41

7

-11,8696

0,39

11

-11,4176

0,44

6,5

-11,9437

11

0,4

6,5

-11,9437

0,38

6,5

-11,9437

0,43

6

-12,0238

12

0,39

5

-12,2061

0,37

6

-12,0238

0,42

4,5

-12,3114

13

0,38

4

-12,4292

0,36

5

-12,2061

0,41

3,5

-12,5627

14

0,37

3,5

-12,5627

0,35

4

-12,4292

0,4

2,5

-12,8992

15

0,36

2,5

-12,8992

0,34

3

-12,7169

0,39

2

-13,1224

16

0,35

2

-13,1224

0,33

2,5

-12,8992

0,38

1,5

-13,41

17

0,32

2

-13,1224

0,37

1

-13,8155

18

0,31

1,5

-13,41

0,36

1

-13,8155

19

0,3

1

-13,8155

0,35

0,5

-14,5087

20

0,29

1

-13,8155

0,34

0,5

-14,5087

21

0,28

0,5

-14,5087

0,33

0

0

22

0,27

0,5

-14,5087

0x08 graphic
Wykresy ln I = f (U)

0x08 graphic
0x08 graphic

Zgodnie ze wzorem 0x01 graphic

Obliczam z regresji liniowej wartości ln Is dla poszczególnych temperatur.

T = 278 K T = 298 K T = 318 K

a = 26,35 [A/V] a = 23,77 [A/V] a = 24,17 [A/V]

b = ln Is = -23,46 [A/V] b = ln Is = -21,45 [A/V] b = ln Is = -20,93 [A/V]

1/T = 0,0036 [1/K] 1/T = 0,0034 [1/K ] 1/T = 0,0031 [1/K]

Sporządzam wykres ln Is = f(1/T)

0x01 graphic

Stosując regresję liniową znajduję współczynnik nachylenia prostej

a=

a=0,659452

Zgodnie ze wzorem

gdzie k - stała Boltzmanna

e - ładunek elementarny

Obliczam wysokość bariery potencjału:

k=

e=

 0,47615175[V]

Błąd wyznaczenia bariery potencjału :

(,0,062V]

0x08 graphic

Prąd przewodzenia diody wzrasta do dużej wartości już przy małych dodatnich napięciach UAK. Nie może on przekroczyć określonej wartości maksymalnej, ponieważ grozi to termicznym zniszczeniem diody. Napięcie przewodzenia diody występuje już przy prądach 0,1Imax. Dla germanu leży ona w zakresie od 0,2 do 0,4 [V], dla krzemu między 0,5 a 0,8 [V]. Z uzyskanych w doświadczeniu wyników można wywnioskować, że badana była dioda germanowa. Ma ona barierę potencjału najbliższą wynikowi.

p

Idn

Np

n

Isn

Nn

a) b)

- - - - - - - - - - - - -

- - - - - - - - - - - -

pasmo przewodnictwa

EW

EF

Ed

EF

+ + + + + + + + + +

+ + + + + + + + + +

EF

Ea

Pp

+ + + + + + +

Pn

Isp

Idp

pasmo walencyjne

Rys.200.2. Schemat energetyczny diody p-n

Rys.200.1 Pasma i poziomy energetyczne w półprzewodniku typu n (a) i w półprzewodniku typu p (b). EF - Energia Fermiego, Ed - Energia domieszek donorowych, Ea - Energia domieszek akceptorowych.

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
nowe208
nowe209
nowe201

więcej podobnych podstron