Układ scalony - mikrominiaturowy układ elektroniczny, w którym wszystkie lub część elementów wraz z połączeniami są wykonane nierozłącznie w jednym cyklu technologicznym wewnątrz lub

na wspólnym podłożu.

Monolityczny układ scalony (półprzewodnikowy układ scalony) - układ scalony, w którym wszystkie elementy wraz z ich połączeniami są wykonane wewnątrz i na powierzchni jednej płytki półprzewodnikowej. Płytka półprzewodnikowa z wytworzonymi elementami i ich

połączeniami nazywa się strukturą układu lub chipem. Chip jest montowany w zunifikowanej obudowie, chroniącej układ przed wpływem zewnętrznych narażeń mechanicznych i klimatycznych oraz światła. Umożliwia także montaż elementu.

Klasyfikacja według stopnia scalenia

- małej skali integracji (SSI – small scale of integration) - do

100 elementów w układzie

- średniej skali integracji (MSI – medium scale of integration)-

od 100 do 1000 elementów w układzie

- dużej skali integracji (LSI – large scale of integration) - od

1000 do 100 000 elementów w układzie

- wielkiej skali integracji (VLSI – very large scale of

integration) - ponad 100 000 elementów w układzie

- ultrawielkiej skali integracji (ULSI – ultra large scale of

integration)

Klasyfikacja według rodzaju techniki elektronicznej:

analogowe - operujące analogowym sygnałem elektronicznym,

cyfrowe - operujące cyfrowym sygnałem elektronicznym.

Klasyfikacja według elementów czynnych:

- bipolarne - realizowane za pomocą tranzystorów bipolarnych –

RTL, DCTL, I2L, ECL, TTL

- unipolarne MOS - realizowane za pomocą tranzystorów

polowych MOS lub struktur MOS – nMOS, pMOS, CMOS

Parametry układów cyfrowych

Czas propagacji - opóźnienie pomiędzy sygnałem na wyjściu i wejściu

danego układu (np. bramki).

Z punktu widzenia układu, czas ten potrzebny jest na przeładowanie

pojemności w tranzystorach, pojemności pasożytniczych (ścieżek

połączeń, doprowadzeń) i pojemności obciążającej układ

Marginesy zakłóceń

MLmin = | UILmax – UOLmax |

MHmin = | UIHmin – UOHmin |

Moc strat

P = Pstat + Pdyn

Pdyn = UCC

2•Cobc•fz

Q = τp•P

Obciążalność- ilość wejść które mogą być jednorazowo podłączone do jednego wyjścia analogicznego układu

Twierdzenie o próbkowaniu-Jeśli sygnał ciągły nie posiada składowych widma o częstotliwości równej i większej niż B, to może on zostać wiernie odtworzony z ciągu jego próbek tworzących sygnał dyskretny, o ile próbki te zostały pobrane w odstępach czasowych nie większych niż 1/(2B).

Częstotliwość Nyquista jest to maksymalna częstotliwość składowych widmowych sygnału poddawanego procesowi próbkowania, które mogą zostać odtworzone z ciągu próbek bez zniekształceń. Składowe widmowe o częstotliwościach wyższych od częstotliwości Nyquista ulegają podczas próbkowania nałożeniu na składowe o innych częstotliwościach (zjawisko aliasingu), co powoduje, że nie można ich już poprawnie odtworzyć.

Aliasing to nieodwracalne zniekształcenie sygnału w procesie próbkowania wynikające z niespełnienia założeń twierdzenia Kotielnikowa-Shannona. Zniekształcenie to objawia się obecnością w sygnale składowych o błędnych częstotliwościach (aliasów).