Obliczenia met.1, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania


0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

0x08 graphic
0x08 graphic
0x08 graphic

Metoda stabilizacyjna

Obliczenie linii kontrolnych:

Obliczam wartość średnią:

x = 0x01 graphic
xi Dla k = 34 (ilość próbek)

x =[(-16,82)+(-15,08)+(-12,44)+(-0,42)+ 7,32 +(-1,16)+(-7,16)] = = -1,3459

Otrzymana średnia jest jednocześnie linią centralną na karcie kontrolnej:

0x01 graphic
=0x01 graphic
= -1,3459

Linia centralna dla rozstępu:

0x01 graphic
= 0x01 graphic
Dla k = 34 (ilość próbek)

0x01 graphic
= (11,7+11,8+11,3+12,3+10,5+12,1+7) = = 2,2559

Do obliczenia linii kontrolnych górnych xg i dolnych xd przyjmuje współczynnik t = 3

Dla karty kontroli wartości średniej:

Zewnętrzna górna linia kontrolna:

Xg = 0x01 graphic
+ A20x01 graphic
Współczynnik A2 = 0,577 (z tabel);

Stąd:

Xg = -1,3459 + 0,577 . 2,2559 = -0,0442

Zewnętrzna dolna linia kontrolna:

Xd = 0x01 graphic
- A20x01 graphic
Wsp. A2 = 0,577

Stąd:

Xd = -1,3459 - 0,577 . 2,2559 = -2,6477

Wewnętrzna górna linia kontrolna:

Xg, = 0x01 graphic
+ A2, 0x01 graphic
Wsp. A2, = 0,377 (z tabel);

Stąd:

Xg, = -1,3459 + 0,377 . 2,2559 = -0,4954

Wewnętrzna dolna linia kontrolna:

Xd, = 0x01 graphic
- A2, 0x01 graphic
Wsp. A2, = 0,377 (z tab.);

Stąd: Xd, = -1,3459 - 0,377 . 2,2559 = -2,1964

Dla karty kontroli rozstępu:

Zewnętrzna górna linia kontroli:

Rg = D2 0x01 graphic
Dla D2 = 2,11 (z tabel);

Stąd:

Rg = 2,11 .2,2559 = 4,7599

Wewnętrzna górna linia kontrolna:

Rg, = D2, 0x01 graphic
Dla D2, = 1,66 (z tab.):

Stąd:

Rg, = 1,66 . 2,2559 = 3,7448

Natomiast dolne linie kontrolne zewnętrzną i wewnętrzną ustala się jako 0.

Po obliczeniu wszystkich niezbędnych wartości można wykonać kartę kontroli x - R

Metoda projektowa:

Nie zostały nam narzucone wartości wymiarów granicznych potrzebnych np. do wyznaczenia linii centralnej. Dlatego wartości wymiarów granicznych przyjmuje w oparciu o wyniki uzyskane podczas ćwiczenia, stąd: A=-4; B=+4

Obliczam linię centralną:

Xc= = 4

Obliczam linie kontrolne (górną i dolną) ze wzorów:

Xg = B - e

gdzie: e = S (B-A)

Xd = A + e

Przyjmując stopień wadliwości w=0,5%, i współczynnik t=2,81 ⇒ wsp. S = 0,261 (dla próbki n=5)

Po podstawieniu otrzymujemy:

Xg= B - e = 1,912

Xd= A+ e = -1,912

Następnie należy sprawdzić czy można zaprojektować kartę kontrolną dla tej produkcji . Będzie to możliwe gdy odchylenie średnie spełni poniższą nierówność:

σ ≤ gdzie wsp. t0x01 graphic
= 2,81

Aby sprawdzić powyższy warunek należy obliczyć odchylenie standardowe, według wzoru:

σ =0x01 graphic

Po podstawieniu otrzymujemy:

σ = 0x01 graphic
= 2,218

0x01 graphic
= 0x01 graphic
= 1,423

Po wyznaczeniu powyższych danych można również obliczyć wskaźnik zdolności procesu - Cp, w celu przeprowadzenia badania zmienności procesu.

Cp = 0x01 graphic
=0x01 graphic
0,6

Analizując powyższe wyniki widać, że warunek σ ≤ nie został spełniony, a co za tym idzie nie można zaprojektować karty kontrolnej dla tej produkcji. Również wskaźnik zdolności procesu informuje nas o braku tej zdolności, gdyż minimalna wartość tego wskaźnika wynosi 1.

Wnioski:

Przeprowadzenie tego ćwiczenia pokazało, że statystyczna kontrola jakości i sporządzane w niej karty kontrolne są prostym sposobem czuwania nad jakością. Graficzne przedstawienie wyników umożliwia szybką ocenę jakości całej partii np. produkowanych przedmiotów. Analizując kartę kontroli można stwierdzić gdzie zostały przekroczone linie graniczne ostrzegające o możliwości wystąpienia sygnału o rozregulowaniu oraz moment kiedy trzeba zatrzymać proces i usunąć usterkę.

Analizując otrzymane wyniki w karcie kontroli rozstępu widać, że raz pojawił się sygnał uprzedzający, a 2-krotnie sygnał świadczący o rozregulowaniu. Pojawienie się sygnału o rozregulowaniu powinno spowodować przerwanie produkcji i usunięcie przyczyny jego wystąpienia.

Natomiast analizując kartę kontroli wartości średniej wg met. stabilizacyjnej widać całkowite rozregulowanie procesu. Wpływ na taki kształt karty miały na pewno próbki nr 4 i 19, w których uzyskano pomiary o dużych rozbieżnościach. Trudno wyjaśnić przyczyny tak dużych różnic między mierzonymi wałeczkami, możliwe że nastąpił błędny odczyt pomiarów lub niewłaściwe działanie czujnika.

Otrzymanie tak bardzo różniących się pomiarów sprawiło, że nie można zaprojektować karty kontroli wartości średniej wg met. projektowej. Świadczy o tym np. wskaźnik zdolności procesu, którego wartość wynikająca z obliczeń wyniosła 0,6 natomiast minimalna wartość tego współczynnika wynosi 1.

Laboratorium z metrologii

Data wykonania ćwiczenia:

8.X.2003

Skład grupy:

  1. Akuszewski Grzegorz

  2. Kaczmarek Krzysztof

Ocena:

Temat ćwiczenia:

Statystyczna kontrola jakości



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
SPRAWOZDANIE NR 1, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 1
sprawozdanie nr 5, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 5
SPRAWOZDANIE NR 1, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 1
metrologia - błędy kształtu, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
str tytuł-SKJ, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
Stożki, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
częstotliwość, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
SKJ wnioski, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
sprawozdanie nr 3, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdanie nr 3
Kopia LABORATORIUM-nasze, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1
LABORATORIUM, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1), Sprawozda
Pomiary błędów kształtu, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
LABORATORIUM-nasze v2, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1),
Politechnika Poznańska, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania, Statystyczna kontrol
POPRAWIONE 01 - Pomiary współrzędnościowe, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
Pomiary stożków, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
SKJ, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
Błędy pomiarów pośrednich, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
metrologia -r-a, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania

więcej podobnych podstron