Sarna2, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia


Metrologia - laboratorium

Imię i nazwisko:

Katarzyna Peta, Arkadiusz Pietrowiak,

Wojciech Sarnecki

Semestr:

III

Wydział:

BM i Z

Kierunek:

ZiIP

Grupa:

ZP4

Temat ćwiczenia: Pomiary współrzędnościowe, optyczne i optyczno - stykowe.

Data wykonania ćwiczenia: 30.11.2009

Ocena:

1. Opis ćwiczenia:

  1. Celem ćwiczenia było zapoznanie się z metodami pomiarów na mikroskopie warsztatowym. Podczas ćwiczenia dokonaliśmy pomiaru:

  1. Podczas ćwiczenia wykonaliśmy pomiary średnicy otworu i pomiary odległości otworów.

W pierwszej kolejności wykonaliśmy pomiaru współrzędnych dwóch krawędzi otworu wzdłuż osi x i dwóch wzdłuż osi y. Pomiary wykonaliśmy dla wszystkich trzech otworów. Mając dane współrzędne krawędzi możemy obliczyć długość średnicy ze wzoru:

d = x2 - x1 lub d = y2 - y1

Możemy również wyznaczyć współrzędne środka otworu O(x,y) ze wzoru:

0x01 graphic
0x01 graphic

3) Pomiar odległości osi dwóch otworów mikroskopem pomiarowym przeprowadza się najczęściej z wykorzystaniem okularu podwójnego obrazu. Na stoliku mikroskopu kładzie się przedmiot z dwoma otworami. W polu widzenia okularu ukazuje się podwójny obraz jednego z otworów; przesuwając stół mikroskopu wraz z mierzonym przedmiotem należy doprowadzić do wzajemnego pokrycia się obrazów i odczytać współrzędne. Czynność powtarza się dla drugiego otworu. Odległość otworów P oblicza się wg wzoru

P=0x01 graphic

4) Pomiar łuku można zmierzyć mikroskopem warsztatowym lub uniwersalnym. Zarówno w przypadku krzywizny wypukłej, jak i wklęsłej mierzonym wymiarem jest strzałka łuku h i odpowiadająca jej długość cięciwy łuku S. Poszukiwaną wartość promienia r wyznacza się z równania:

0x01 graphic

Przebieg pomiaru jest identyczny dla krzywizny wklęsłej i wypukłej. Po uzyskaniu w okularze mikroskopu ostrego obrazu kresek krzyża i krawędzi przedmiotu należy ustawić poziomą kreskę krzyża stycznie do łuku w położeniu y1. Po odnotowaniu wskazania przesuwamy poziomą kreskę krzyża w położenie y2 i odnotowujemy ponownie wskazanie współrzędnych. Różnica wartości obu wskazań jest równa długości strzałki h. Nie zmieniając następnie położenia osi poziomej, należy przesunąć oś pionową do drugiego punktu (x2 lub x1) przecięcia cięciwy z łukiem. Różnica wartości wskazań w obu punktach odpowiada długości cięciwy S.

2. Pomiar współrzędnych 3 otworów i obliczenie ich średnic.

Poziomo

Pionowo

Średnica

Okular z podwójnym obrazem

x1

x2

x

dx

y1

y2

y

dy

d

x'

y'

1

7,79

8,47

8,13

0,68

12,54

11,87

12,21

0,67

0,675

8,05

12,4

2

8,15

9,29

8,72

1,14

12,57

11,3

11,94

1,27

1,205

8,38

11,69

3

8,74

9,66

9,2

0,92

13,11

12,19

12,65

0,92

0,92

9,13

12,88

3. Obliczenie odległości pomiędzy środkami otworów

Odległość otworów L oblicza się wg wzoru: L=0x01 graphic
(gdzie x i y to współrzędne środków otworów)

Pomiar odległości pomiędzy środkami otworów

Odległość

Wartość L (mm)

otwór1÷otwór2

0,78

otwór2÷otwór3

1,41

otwór1÷otwór3

1,18

Błąd pomiaru:

0x01 graphic
=0,02

0x01 graphic
=0,0199

0x01 graphic
=0,02

4. Pomiar promienia krzywizny

Środek łuku:

x = 12,5

y = 11,92

Przesuwamy w pionie o 1mm w górę:

w prawo: 1,00

w lewo: 26,73

S = 25,73 , gdzie S = x2- x1

R= 83,25 , gdzie 0x01 graphic

h = y2 - y1=1

0x01 graphic
=0,897

5. Wnioski

Podczas opracowywania wyników pomiarów współrzędnych, obliczaniu średnic okręgów i odległości między ich środkami, zauważyliśmy nieprawidłowości. Głównie w przypadku obliczania odległości między środkami. Mogło to być spowodowane przypadkowym przesunięciem płytki lub złym odczytywaniem wartości.

Natomiast w przypadku badania promienia łuku, nie starczyło skali na urządzeniu pomiarowym, więc musieliśmy użyć płytek wzorcowych, aby wykonać pomiar. Poza tym bardzo trudno było znaleźć dokładnie wierzchołek łuku co spowodowało błędy w pomiarach.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
SPRAWOZDANIE NR 1, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 1
metrologia - błędy kształtu, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
str tytuł-SKJ, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
Stożki, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
częstotliwość, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
SKJ wnioski, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
sprawozdanie nr 3, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdanie nr 3
Kopia LABORATORIUM-nasze, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1
sprawozdanie nr 5, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Sprawozdanie nr 5
LABORATORIUM, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1), Sprawozda
Pomiary błędów kształtu, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
LABORATORIUM-nasze v2, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, Charkterystyka statyczna przetworników (lab1),
Politechnika Poznańska, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania, Statystyczna kontrol
POPRAWIONE 01 - Pomiary współrzędnościowe, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
Pomiary stożków, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia
SKJ, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, SKJ-Statystyczna Kontrola Jakości, Sprawozdanie
Błędy pomiarów pośrednich, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
metrologia -r-a, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania
błędy pośrednie, ZiIP, II Rok ZIP, Metrologia, metrologia, Sprawozdania

więcej podobnych podstron