Sprawozdanie 44a, Mechanika i Budowa Maszyn PWR MiBM, Semestr I, Fizyka, laborki, sprawozdania z fizykii, fiza laborki, Sprawozdanie 8


Albert Makowski Data wykonania ćwiczenia: 29.04.2010r.

Piotr Billing

Malwina Galina

Wydział: W-3

Kierunek: Technologia chemiczna

Rok studiów: 1

Ćwiczenie numer 44a

Pomiar zależności oporu metali i półprzewodników od temperatury.

Prowadzący: mgr inż. Paweł Potasz

I. Zestaw przyrządów:

1. Urządzenie zawierające grzejnik, regulator temperatury, wentylator oraz badane próbki (w sprawozdaniu uwzględniliśmy próbkę 4 oraz 2).

2. Miernik oporu M.

II. Cel ćwiczenia:

Pomiar wartości oporu metalu i półprzewodnika w funkcji temperatury oraz wyznaczenie temperaturowego współczynnika rezystancji (oporu) metalu i szerokości przerwy energetycznej w półprzewodniku.

III. Schemat układu pomiarowego.

0x01 graphic
0x01 graphic

IV. Tabele.

  1. Dla próbki z metalu:

t( C )

R(kΩ)

ΔR(Ω)

a[Ω/C]

Δa[Ω/C]

b[Ω]

Δb[Ω]

α[1/C]

Δα[1/C]

Δα/α [%]

20

109,8

0,4294

1,71

0,01327

107,49

0,1359

0,01591

0,00014

0,90245376

25

111,3

0,4339

 

 

 

 

 

 

 

30

112,7

0,4381

35

114,1

0,4423

40

115,8

0,4474

45

117,4

0,4522

50

119,1

0,4573

55

121,1

0,4633

60

122,7

0,4681

65

124,4

0,4732

70

126,3

0,4789

75

127,9

0,4837

80

129,7

0,4891

85

131,5

0,4945

90

133,3

0,4999

95

135,0

0,505

100

136,8

0,5104

  1. Dla próbki z półprzewodnika:

T ( C )

T(K)

1000/T

R(kΩ)

Δ R(Ω)

ln(R)

Δ ln(R)

A

Δ A

Eg(J)

Eg(eV)

Δ Eg(J)

Δ Eg(eV)

20

293

3,41

54,6

0,18

4,00

0,003

1,715

0,09663

4,735 . 10-20

0,2955

2,65 . 10-21

0,0165

25

298

3,36

53,4

0,18

3,98

0,003

 

 

 

 

 

 

30

303

3,30

52,5

0,18

3,96

0,003

35

308

3,25

51,2

0,17

3,94

0,003

40

313

3,19

49,0

0,17

3,89

0,003

45

318

3,14

45,2

0,16

3,81

0,003

50

323

3,10

41,4

0,14

3,72

0,003

55

328

3,05

37,5

0,13

3,62

0,004

60

333

3,00

34,7

0,12

3,55

0,004

65

338

2,96

32,4

0,12

3,48

0,004

70

343

2,92

29,5

0,11

3,38

0,004

75

348

2,87

27,0

0,10

3,30

0,004

80

353

2,83

24,7

0,09

3,21

0,004

85

358

2,79

22,0

0,09

3,09

0,004

90

363

2,75

19,8

0,08

2,99

0,004

95

368

2,72

18,2

0,07

2,90

0,004

100

373

2,68

16,3

0,07

2,79

0,004

V. Obliczenia i użyte wzory.

  1. Dla próbki z metalu:

0x01 graphic

0x01 graphic

  1. Dla próbki z półprzewodnika:

0x01 graphic

0x01 graphic

VI. Sporządzone wykresy.

  1. Dla metalu:

0x01 graphic

  1. Dla półprzewodnika:

0x01 graphic

Gdzie:

y- równanie prostej

k- współczynnik korelacji

VII. Wnioski.

Na podstawie pomiarów można wysunąć wniosek, że oporność przewodnika metalowego wraz ze wzrostem temperatury rośnie, a rezystancja półprzewodnika wraz ze wzrostem temperatury maleje. Oznacza to, że w wyższej temperaturze przewodnik metaliczny gorzej przewodzi prąd niż w niskiej temperaturze, a w przypadku półprzewodnika sytuacja jest odwrotna czyli lepiej przewodzi prąd wraz ze wzrostem temperatury.

2



Wyszukiwarka