moje cw 2, Politechnika Lubelska, Elektrotechnika inż, ROK 3, Elektronika, Elektronika, Laboratorium elektroniki


Politechnika Lubelska

w Lublinie

Laboratorium elektroniki

Ćw. nr 2

Nazwisko:

Szychulec
Talarek
Sulima
Studniarski

Imię:

Adam

Łukasz
Kamil
Tomasz

Semestr

V

Grupa

ED 5.5

Rok akademicki

2011/2012

Temat ćwiczeń:

Badanie właściwości impulsowych tranzystora

Data wykonania:

2011.10.27

OCENA:

Cel ćwiczenia:

Zapoznanie się z charakterem pracy tranzystora zastosowanego jako przełącznik. Określanie punktów pracy tranzystora odpowiadających granicy stanu zatkania i granicy stanu nasycenia. Badanie pracy tranzystora w układzie przełączającym, oraz wpływ stosowanych w praktyce układów w celu korekcji przebiegu wyjściowego.

Użyte przyrządy:

  1. Zasilacz regulowany ZS-100 zakres 0-15V.

  2. Oscyloskop dwukanałowy DT-516A.

  3. Generator impulsowy PGP-5A.

  4. Miliamperomierze.

  5. Woltomierz.

  6. Tranzystor.

  7. Oporniki RC=1.5k, RB=2k.

Wykonanie ćwiczenia:

Na żadnym wykresie nie pojawia się funkcja czasu opóźnienia td=f(KF), ponieważ wartości tej funkcji nie mogliśmy odczytać na oscyloskopie, gdyż są to wartości bardzo małe.

Schemat pomiarowy do punktów 1. i 2.

1.Wyznaczanie wartości prądu bazy na granicy nasycenia.

UCEodc=1V IBmin=0.1mA

  1. Wyznaczanie wartości napięć sterujących przy których współczynnik przesterowania osiąga założone wartości.

Tabl. 2.

KF

IB

Uz

-----

mA

V

1

0.1

0.52

2

0.2

0.79

4

0.4

1.41

8

0.8

2.77

16

1.6

5.31

  1. Praca tranzystora w układzie przełącznika.

  1. Praca przy sterowaniu napięciem jednobiegunowym.

Schemat pomiarowy do punktu 3.1.

Tabl. 3.1.

KF

Uz

td

tn

tp

to

-----

V

s

s

s

s

1

0.52

---

56

16

40

2

0.79

---

20

40

40

4

1.41

---

10

50

40

8

2.77

---

4

64

40

16

5.31

---

2

76

40

Wykres do tabl. 3.1.

0x01 graphic

  1. Praca przy sterowaniu napięciem jednobiegunowym. Badanie wpływu pojemności przyspieszającej na czasy przełączania tranzystora.

Schemat pomiarowy do punktu 3.2.

Tabl. 3.2.

CB

KF

td

tn

tp

to

pF

-----

s

s

s

s

100

1

---

16

4

8

100

2

---

8

8

8

100

4

---

4

10

8

100

8

---

2

12

8

100

16

---

1

16

8

500

1

---

20

6

2

500

2

---

10

8

2

500

4

---

6

8

2

500

8

---

4

10

2

500

16

---

2

12

2

Wykres do tabl. 3.2.

0x01 graphic

  1. Praca przy sterowaniu napięciem jednobiegunowym. Badanie wpływu polaryzacji zaporowej bazy.

Schemat pomiarowy do punktów 3.3.1. i 3.3.2.

3.3.1 Wyznaczanie wartości prądu wejściowego obwodu sterującego na granicy nasycenia

tranzystora

UCEodc=11V IWEmin=0.1mA

  1. Wyznaczanie wartości napięć sterujących przy których współczynnik przesterowania osiąga założone wartości.

Tabl. 3.3.2.

KF

IWE

Uz

-----

mA

V

1

0.1

1.51

2

0.2

1.84

4

0.4

2.55

8

0.8

3.91

16

1.6

6.65

  1. Wyznaczanie wartości czasów przełączania.

Schemat pomiarowy do punktu 3.3.3.

Tabl. 3.3.3.

KF

Uz

td

tn

tp

to

-----

V

s

s

s

s

1

1.51

---

48

8

20

2

1.84

---

20

16

20

4

2.55

---

10

24

20

8

3.91

---

4

32

20

16

6.65

---

2

40

20

0x01 graphic

Wykres do tabl. 3.3.3.



Wyszukiwarka