Lp.	I1	I2[Au]	I3[Au]	Is[Au]	Lp.	I1[Au]	I2[Au]	I3[Au]	Is[Au]
1	10	10,7	10,5	8,05	34	27,7	28,3	27,4	27,8
2	10,7	9,5	9,9			35	24,6	27,8		27,7
3	9,7	9,6	9,4			36	27,7	27,7		28,3
4	9	10,2	9,9			37	27,8	27,7		27,8
5	10,2	10	9,8			38	27,6	27,4		28,1
6	9	9,5	9,94			39	27,7	28,5		27,8
7	12,2	13,3	13		11,375	40	27,8	27,7		27,4
8	12,4	13,4	12,7			41	32	34,2		31,4	30,7
9	12,2	13,2	12,9			42	31,2	34		30
10	12,4	12,9	13,2			43	32,0	34,4		32,2
11	11,8	12	11,9			44	33,5	35		33
12	12	12,4	11,6			45	33,2	33		34,1
13	12,1	12,5	11,9			46	33,1	32,2		33,9
14	12,2	12,1	11,6			47	32,4	33,7		34,5
15	12,2	11,8	12,7			48	32,3	33		33,6
16	16,8	16,4	15,8		16,25	49	36	35		35
17	16,5	15,8	15,6			48	36	38		35,7
17	17,1	15,7	15,7			50	39,5	40,5		42,3	43,075
18	16,4	15,2	16,2			51	39,3	43,5		44
19	17,1	16,4	15,8			52	36,4	38		45,9
20	17,2	15,2	16			53	37,2	37,8		40
21	20,2	19,2	20		20,1	54	52,1	49,6		54,0
22	20,8	19,2	19,4			55	45,9	50,8		52,6
23	20	19	20,2			56	46,7	49,7		54,1
24	19,4	19,4	19,5			57	45,6	47,6		48,8
25	19	19	20			58	43,3	43,8		43,7
26	20,4	20,9	21,6
27	23,8	24,4	25,3		25,125
28	26,8	24,1	24
29	24,1	24,5	23,4
30	23,7	23	22,9
31	24,5	22,7	22,8
32	23,1	24,3	22,7
33	22,7	24	23,5

Wyniki:

Lp.	I[Au]	Is[Au]	Lp.	I[Au]	Is[Au]
1	47,1		29	61,7
2	50,4		30	63
3	54,3		31	60,4
4	58,8		32	57,9
5	55,3		33	53,6
6	59,9		34	58,7
7	62,3		35	55
8	62,1		36	55,3
9	66		37	59
10	65		38	61,7
11	67		39	53,7
12	55		40	56,6
13	58,2		41	60,8
14	51,8		42	61
15	57,7		43	64,4
16	57,4		44	62,3
17	57,8		45	66,3
18	57,6		46	67,5
19	64,2		47	60,3
20	68,6		48	60
21	61,3		49	59,3
22	63,8		50	61,7
23	61,8		51	60
24	61,2		52	44
25	61,7		53	46,3
26	67,9		54	55
27	62,1		55	64,5
28	62,3		56	55,3

Obliczenia:

Lp.	I[uA]	Io/I	Ln[I0/I]	X[mm]
1	8,1	7,4	2	2,22
2	11,3	5,3	1,7	3,65
3	16,2	3,7	1,3	4,55
4	20,1	2,9	1,1	5,55
5	25,1	2,3	0,8	6,46
6	27,8	2,1	0,7	7,44
7	30,7	1,9	0,6	8,35
8	43,0	1,4	0,3	9,34

Rachunek błędu:

Błąd średniej:

X_n - otrzymany wynik w danym pomiarze

n - liczba pomiarów

X_śr - otrzymana średnia

ΔX - błąd pomiaru

ΔX₁=1,81

ΔX₂=1,02

ΔX₃=0,65

ΔX₄=0,53

ΔX₅=1,6

ΔX₆=0,25

ΔX₇=2,9

ΔX₈=4,5

ΔX_śr∗100%=ΔX_śr%

ΔX_śr=1,7%

Obrazy z mikroprojektora defektów, które wystąpiły w badanych próbkach w powiększeniu 6:1

defekt

Zastosowanie metody:

Promieniowanie Rontgena wykorzystuje się w tzw. Defektroskopii. Defektoskopia to nie niszcząca metoda badań uszkodzeń i wykrywania defektów w przedmiotach, głównie metalowych (odlewach, odkuwkach, spawach itp.). Ze względu na wykorzystywane w badaniu zjawiska fizyczne rozróżnia się defektoskopię gamma, rentgenowską, luminescencyjną, magnetyczną i elektromagnetyczną oraz ultradźwiękową. Defektoskopia gamma i rentgenowska polega na prześwietlaniu przedmiotu odpowiednim promieniowaniem przenikliwym i rejestracji obrazu za pomocą odpowiednich klisz, wizualizacji na ekranach elektrooptycznych i scyntylacyjnych lub rejestracji licznikowej. Dzięki promieniowaniu Rontgena w hutach wykrywa się wady odlewnicze typu: wtrącenia niemetaliczne ,

wnęki odlewnicze, itp.

---