POLITECHNIKA WROCŁAWSKA INSTYTUT FIZYKI |
Sprawozdanie z ćwiczenia Nr 74 |
|
AGNIESZKA SŁABA
|
Temat: Pomiary mikroskopowe |
|
Wydział PPT/IB Rok 2 |
Data: 1996-10-25 |
Ocena:
|
WPROWADZENIE
Mikroskop jest to przyrząd optyczny umożliwiający obserwację drobnych szczegółów. Najważniejszą cechą mikroskopu jest powiększenie informujące pod ilokrotnie większym kątem będzie widziany przedmiot przez mikroskop w stosunku do kąta, pod którym można go obserwować okiem nieuzbrojonym z odległości dobrego widzenia.
Najprostszym mikroskopem jest pojedyncza soczewka lub zespół soczewek leżących blisko siebie i tworzących układ o ogniskowej obrazowej dodatniej. Układ taki nazywamy mikroskopem prostym lub lupą. Natomiast mikroskopem złożonym nazywamy układ składający się w najprostszym przypadku z dwóch elementów(obiektywu i okularu) oraz układu pomocniczego, służącego do oświetlania obiektów oglądanych przez mikroskop.
Powiększenie mikroskopu jest to iloczyn powiększenia poprzecznego obiektywu i powiększenia wizualnego okularu :
gdzie:
a-odległość przedmiotu od obiektywu
b- odległość obrazu od obiektywu
natomiast:
D-odległość dobrego widzenia
δ-odległość obrazu A'B' od okularu
POMIARY
Pomiar powiększenia mikroskopu
A powiększenie okularu 10
powiększenie obiektywu 10×
Lp |
Na |
Nl |
p |
Δp |
δp |
|
mm |
mm |
|
|
% |
1 |
47 |
50 |
106,4 |
4, 4 |
4,2 |
2 |
38 |
40 |
105,3 |
5,5 |
5,2 |
3 |
29 |
30 |
103,5 |
7,1 |
6,8 |
a-odstęp między kreskami podziałki mikrometrycznej
Na-liczba działek na skali mikrometrycznej
Nl- liczba działek linijki
p- powiększenie mikroskopu
a=0.01mm
ΔNl=1mm
D=250mm (odległość linijki od osi mikroskopu)
B powiększenie okularu 5
powiększenie obiektywu 40×
Lp |
Na |
Nl |
p. |
dp |
dp |
|
mm |
mm |
|
|
% |
1 |
20 |
39 |
195 |
15 |
7,7 |
2 |
19 |
36 |
190 |
16 |
8,5 |
3 |
17 |
32 |
188 |
17 |
9,1 |
Wzory do obliczeń w tabelkach:
Cechowanie okularu mikrometrycznego
Na-liczba działek okularu mikrometrycznego
Nm- liczba działek linijki
k- wartość działki elementarnej okularu mikrometrycznego
A. Pomiary wykonałyśmy dla obiektywu 10x
Lp |
Na |
Nm |
k |
Δk |
δk |
|
mm |
mm |
μm |
μm |
% |
1 |
93 |
100 |
9,30 |
0,193 |
2,08 |
2 |
84 |
90 |
9,33 |
0,215 |
2,30 |
3 |
75 |
80 |
9,38 |
0,242 |
2,58 |
B Pomiary wykonałyśmy dla obiektywu 40x
Lp |
Na |
Nm |
k |
Δk |
δk |
|
mm |
mm |
μm |
μm |
% |
1 |
100 |
26 |
38,5 |
1,9 |
4,9 |
2 |
95 |
25 |
38 |
2 |
5,3 |
3 |
82 |
21 |
39 |
2,4 |
6,2 |
Wzory do obliczeń w tabelkach:
a = 0,01mm
ΔNa = ΔNm = 1
Wyznaczanie odległości między kreskami testu
m.- ilość działek testu
n- ilość działek na skali okularu mikrometrycznego
m |
n |
d |
|
|
mm |
3 |
80 |
1,03 |
13 |
98 |
0,29 |
Wyznaczanie odległości między uskokami na płytce metalowej
Jeden obrót śruby mikrometrycznej równa się przesuwowi 0.1 mm=10-4m.
Wartość działki=2∗10-6m
uskok |
h [μm] |
płytka 1 |
|
1 |
200 |
2 |
500 |
3 |
640 |
4 |
35 |
płytka 2 |
|
5 |
60 |
6 |
200 |
7 |
150 |
8 |
250 |
h średnie |
254.37 |
powiększenie okularu wynosi 10×
powiększenie obiektywu wynosi 10
DYSKUSJA BŁĘDÓW I WNIOSKI
Podczas pomiaru powiększenia należy ocenić błąd δNl, ponieważ liczbę
działek Na ustalamy z góry i nie jesteśmy w stanie uwzględnić ewentualnych niedokładności w wykonaniu podziałki mikrometrycznej. Błąd δNl jest tym mniejszy, im większą liczbę obu działek obu skal uwzględnimy podczas pomiaru.
Dokładność wyznaczania wartości k działki elementarnej okularu mikrometrycznego, jak i podczas obliczania wartości odległości między kreskami testu, szacuje się ze wzorów. Błąd δd jest tym mniejszy, im większa liczba działek testu zostanie uwzględniona przy odczytach.