C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, stat analiz wynik, Laboratorium miernictwa elektronicznego


Laboratorium miernictwa elektronicznego

Statystyczna analiza wyników pomiaru.

Patryk Wojciechowski , Wydział Elektroniki, 6 kwietnia 1998

Celem ćwiczenia było zapoznanie się ze statystyczną analizą wyników pomiarów, a szczególnie ze sposobami znajdowania i eliminowania pomiarów obarczonych błędami „grubymi”. Należało się też zaznajomić ze sposobami wyznaczania i analizy składowej przypadkowej oraz składowej systematycznej błędów pomiarów.

  1. zapoznanie się z obsługą suwmiarki.

  2. pomiar wymiarów a, b, c i ha, hb, hc trójkąta oraz zapisanie ich w komputerze.

  3. pomiary wykonywano dla wszystkich 12 trójkątów.

Po zebraniu pomiarów od wszystkich studentów, odpowiedni program komputerowy umożliwił zebranie ich w jedną całość, obliczenie automatyczne średnich i odchyleń dla każdego boku, wysokości i pola powierzchni.

Po przeanalizowaniu otrzymanych wyników dla trójkąta nr 6, stwierdziłem istnienie błędów grubych. Błędy te wprowadzili studenci 1 i 2. Spowodowało to duża wartość odchylenia średniego kwadratowego. Dlatego też konieczne okazało się ponowne przeliczenie niektórych wielkości. Odrzucone zostały dwa pierwsze pomiary z boków b i c oraz wysokości ha i hc. Ponownemu obliczeniu uległy także wszystkie pola powierzchni, po odrzuceniu dwóch pierwszych wartości. Ponownie przeliczone średnie i odchylenia mają wartości:

a

b

c

ha

hb

hc

m

95,507

84,219

75,326

63,794

72,352

80,887

s

0,1017

0,0233

0,0163

0,0780

0,1520

0,1397

Pa

Pb

Pc

Ph

m

3045,1

3044,2

3046,4

3037,6

s

3,5

2,6

5,3

0,8

Poniższa tabela zawiera zestawienie wyników uzyskanych, obarczonych błędem przypadkowym użytkownika oraz wyników jakie uzyskano by gdyby błąd wprowadzało tylko narzędzie pomiarowe.

Wynik z błędem przypadkowym

Wynik tylko z błędem systematycznym

a±Δa

95,51±0,09 [mm]

95,51±0,03 [mm]

b±Δb

84,22±0,02 [mm]

84,22±0,03 [mm]

c±Δc

75,33±0,02 [mm]

75,33±0,03 [mm]

ha±Δha

63,79±0,08 [mm]

63,79±0,03 [mm]

hb±Δhb

72,35±0,13 [mm]

72,35±0,03 [mm]

hc±Δhc

80,89±0,13 [mm]

80,89±0,03 [mm]

Pa±ΔPa

3045,1±3,4 [mm2]

3045,1±2.4 [mm2]

Pb±ΔPb

3044,2±2,5 [mm2]

3044,2±2,4 [mm2]

Pc±ΔPc

3046,4±5,0 [mm2]

3046,4±2.3 [mm2]

Ph±ΔPh

3037,6±0,8 [mm2]

3037,6±2.1 [mm2]

obliczanie błędu przypadkowego pomiaru przy założonej ufności 0,997:

0x01 graphic

obliczanie błędu standardowego przy pomocy różniczki zupełnej:

0x01 graphic

dla pola liczonego standardowo:

0x01 graphic

dla pola liczonego wzorem Herona:

0x01 graphic

Na pierwszy rzut oka po odrzuceniu pomiarów, które (moim zdaniem )są obarczone błędami grubymi widać znaczne zmniejszenie się odchyleń standardowych.

Dziwi mnie fakt, że błędy te pojawiają się na przemian i np. pomiar boku A nie jest obarczony tym błędem, a pomiar boku B już jest. To sprawia trudność przy analizie przyczyn powstania tych błędów. Jak widać pomiary obarczone błędem przypadkowym są mniej dokładne niż gdyby nie było tego błędu. Rozrzut ten spowodowany jest trudnością jednakowego pomiaru tego samego trójkąta przez różnych użytkowników. Dodatkowo ewentualny brak doświadczenia w używaniu przyrządu pomiarowego jakim tu była suwmiarka, czy też trudność dokonania niektórych pomiarów jak np.: wysokości mogły wprowadzić dodatkowe błędy. Widać też, pole trójkąta obliczone ze wzoru Herona obarczone jest najmniejszym błędem systematycznym i przypadkowym.

1

1



Wyszukiwarka