Image631

TJg

Zasada działania układu jest następująca. Jeżeli układ badany ma n wejść i m wyjść, to należy podać — z licznika zadającego wejściowe ciągi zero-jedyn-kowe, poprzez układy separatorów — 2ⁿ kombinacji (słowo równolegle n-bito-we) na wejście układu badanego i wzorcowego, podczas gdy m wyjść układu badanego i wzorcowego porównuje się w układzie komparatora. W przypadku, gdy komparator stwierdza niezgodność stanów, układ jest niesprawny.

Na rysunku 5.15 przedstawiono schemat ideowy układu do testowania bramki 30 (ośmiowejściowe bramki I-NIE (NAND)). Należy zwrócić uwagę, że dla

____i

2*\

i    Separator \

l_____r___J

V

Separator

Koniec testu (0*1)

<tLĄ

zrr

Licznik

7

Rys. 5.16. Schemat ideowy układu służącego do testowania sumatora 83

tego typu bramek układ generuje 256 słów testowych, co byłoby bardzo uciążliwe w testowaniu ręcznym. Na rysunku 5.16 przedstawiono schemat ideowy układu do testowania układu 83 (sumator 4-pozycyjny, równoległy).

Do grupy układów sekwencyjnych można zaliczyć m.in.:

—    przerzutniki JK-MS i D,

—    liczniki dziesiętne,

—    liczniki dwójkowe,

—    rejestry,

—    liczniki programowane.

Na rysunku 5.17 przedstawiono schemat ideowy układu, według którego mogą być testowane układy sekwencyjne. Do testowania tęgo typu układów wykorzystuje się ciągi impulsów X (X) i Y (rys. 5.18) przesunięte w czasie, generowane