Zdjęcie133

PI l\\n kl.ADl

J Podstaw one metody pomiarowe metod* btzpcwicdnt.c

pośredni j> bezpośredniego porównania* roinknv.t, wyzhyleniowa

różnicowa, n»/nuowj wy chy leniów &, koincydencyjna, z crown

2 Ogólne zasady doboru przyrządów pomiarowych 3. Pomiar wymiarów zewnętrznych (suwmiarką, mikrometrem.

pomiary c/ujmkami i płytkami wzorcowymi, pomiar mikroskopem)

i Pomiar wvmiar»w wewnętrznych ( suwmiarka mikrometrem i

>rcdntcowka mikrometry :/na. czujnikowi* nu kr okopem \

5.    Pomiary- wymiarów mieszanych i pośrednich

(gjębokoseiomierycm suw murkowy ni i mikrometry c/m m-mies/nnych i suwmurką-pośrednie )

6.    Pomiar katów (k.iiumierz uniwersalny lim i! musów\ i

^T. Pomiary o<lch\łek kształtu i poło/cm i p ii i > oi.owc. czujniki)    I