kscan93

kscan93





Rys. 10.18. Krzywa wzorcowa dla jonów fluor- Rys. 10.19. Krzywa wzorcowa dla jonów mlekowych    dziowych

10.3.2.2. Metoda dodawania wzorca

W metodzie tej należy wykonać pomiar SEM ogniwa dla roztworu badanego (cx) i roztworu badanego z dodatkiem roztworu wzorcowego substancji badanej (cx + Ac). Otrzymamy wówczas:

Et = E* ±S\ogcx    (10.39)

E2 = E* ± S log (cx + Ac)    (10.40)

gdzie Ac jest stężeniem roztworu wzorcowego po rozcieńczeniu w roztworze badanym. Różnica obydwu SEM przyjmie wartość:

(10.41)


A E=E2-E1= Slog^Ct

Po rozwiązaniu tego równania względem cx otrzymamy:

cx = Ac


(10.42)

Po uwzględnieniu dodanej objętości Vwz roztworu wzorcowego o stężeniu cwz do objętości Vp roztworu próbki i po uwzględnieniu efektu rozcieńczenia otrzymamy:

y r ae “I-i

(,0-43)

Metoda dodawania wzorca jest dogodnym sposobem pomiaru stężeń roztworów za pomocą elektrod jonoselektywnych. Jest metodą dokładną i precyzyjną i znalazła praktyczne zastosowanie w wielu oznaczeniach w ochronie środowiska, w analizie biochemicznej i klinicznej. Znane są różne warianty

201


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
kscan86 a)    b) Rys. 10.12. Krzywa kalibracyjna dla a) kationów i b) anionów rozpus
kscan52 Rys. 14.9. Krzywa miareczkowania konduktometryczne-go HC1 za pomocą NaOH Rys. 14.10. Krzywa
41462 kscan04 Rys. 11.4. Krzywa zależności I = f{E) dla mieszaniny dwóch metali A i B różniących si
pic 10 11 183557 2. Schronisko dla nieletnich (Irena Mudrecka)Podstawy prawne umieszczenia nieletni

więcej podobnych podstron