IMG14 (7)

Rys. 4.

3.2. Metodyka pomiaru

(jzch^o^jJ^,

W*

-iO^Uow-u^ C - 35—j<- u

.l^U>VAC~f c_ Si^ KA4^- jPClAuac^ jyMLcIL    cAeAA-eX/>,

( -.    j *-j' -f*—-**•    ---«4**^>x^eAwv . lo^teroJeaA^^ea.® - UjlUCc^^^

jeTroJU--*^ utyj-acŁu . LuU, |    ku*wtluj^^ca^

i    •nat****;. d<J*o«^<t ^    -l--av^|)«2cJw_rv,

JaW^wej^^f ttAdftu^^ ,.    Io^-o^Jo,, ‘ -c»c«sdLu^_    %^-

k-rwo eic£jb iu-uaj ic - jo,t4'<LiŁóŁ». ic-t uAcpoctA , o-- xi la^ ęci ,j^v Ucj<^    lawv;p.ek.clu    wjb2ełA£>v^'.

strona 5/11

3.3. Tabela pomiarowa Tabela 3. Wyniki cechowania termopar

LP	Termometr rtęciowy wzorcowy t«z	Termopara
		Cu-Konst	3 x (Cu-Konst)	NiCr-Ni
	[°C]	[mV]	[mV]	[mV]
1	i*	/.M		A.O0J
2		Aiśzr	2>, 9-3/♦	At*tO^
3	*1&, s	A, 99*		A,9€d
4	S9.S	3 ,h&?	G.20>»	J..2.AZ
5	Q°>	A, 6 30	hszs	2fS«30 _
6		2>ji,U 2>	9.09-0	3,^3
7
8
9
10