C - Statystyczna analiza wyników pomiarów, MIER ĂW3, Laboratorium miernictwa elektronicznego


POLITECHNIKA WROCŁAWSKA

LABORATORIUM MIERNICTWA ELEKTRONICZNEGO

WĘGRZYN PRZEMYSŁAW

1 rok EiT

Grupa

4

Ćw.nr

3

Statystyczna analiza wyników

pomiarów

Data wykonania

02.04.98

Data oddania

16.04.98

Ocena

CEL ĆWICZENIA

Celem ćwiczenia było zapoznanie się ze statystyczną analizą wyników pomiarów, a w szczególności ze sposobami znajdowania i eliminowania tych, które były obarczone błędami „grubymi”. Ponadto należało się zaznajomić ze sposobami wyznaczania i analizy składowej przypadkowej oraz składowej systematycznej błędów pomiarów.

PRZEBIEG ĆWICZENIA

  1. zapoznanie się z obsługą suwmiarki.

  2. pomiar wymiarów a, b, c i ha, hb, hc trójkąta i wpisanie ich do tabeli w komputerze.

  3. pomiary takie przeprowadzono dla dwunastu trójkątów.

Po zebraniu wszystkich pomiarów od studentów, dzięki odpowiedniemu programowi komputerowemu mogliśmy obliczyć automatycznie średnie i odchylenia dla każdego boku, wysokości i pola powierzchni.

TABELA POMIARÓW I OBLICZENIA

Dla trójkąta nr.9 uzyskane wyniki pomiarów nie zawierają błędów grubych, z wyjątkiem wysokości hb, która odbiega w jednym przypadku od pozostałych. Dlatego zdecydowałem się odrzucić pomiar obarczony błędem grubym (zamiast powtarzać serię pomiarów). Musiałem policzyć odnowa wartość średnią wysokości i pola trójkąta oraz ich odchylenia standardowe. Pozostałe odchylenia mieszczą się w spodziewanych przedziałach. Tabela przedstawiona niżej zawiera zestawienie wyników obarczonych błędem przypadkowym oraz błędem systematycznym.

Wielkości

Wynik z błędem

przypadkowym

Wynik z błędem

systematycznym

a±Δa

94,98 ±0,12 [mm]

94,98 ±0,03 [mm]

b±Δb

85,81 ±0,02 [mm]

85,81 ±0,03 [mm]

c±Δc

76,02 ±0,02 [mm]

76,02 ±0,03 [mm]

ha±Δha

65,31 ±0,08 [mm]

65,31 ±0,03 [mm]

hb±Δhb

72,33 ±0,05 [mm]

72,33 ±0,03 [mm]

hc±Δhc

81,61 ±0,10 [mm]

81,61 ±0,03 [mm]

Pa±ΔPa

3101,8 ±4,93 [mm2]

3101,8 ±2,41 [mm2]

Pb±ΔPb

3103,5 ±2,05 [mm2]

3103,5 ±2,37 [mm2]

Pc±ΔPc

3102,2 ±3,81 [mm2]

3102,2 ±2,36 [mm2]

Ph±ΔPh

3094,6 ±1,82 [mm2]

3094,6 ±2,22 [mm2]

0x01 graphic

0x01 graphic
gdzie: s - odchylenie standardowe, n - liczba pomiarów

0x01 graphic
0x01 graphic

w przypadku pola trójkąta liczonego ze wzoru 0x01 graphic
mamy:

0x01 graphic

zaś dla pola liczonego ze wzoru Herona:

0x01 graphic

(wzór ten otrzymałem dzięki programowi matematycznemu)

WNIOSKI I UWAGI

Pomiary obarczone błędem przypadkowym są mniej dokładne niż gdyby nie było tego błędu. Spowodowane jest to trudnością jednakowego pomiaru tego samego trójkąta przez różnych studentów (rozbieżności w wynikach pomiarów). Przyczyną dodatkowych błędów mogła być trudność dokonania niektórych pomiarów, a zwłaszcza pomiary wysokości. Ponadto nieumiejętność, bądź brak doświadczenia w użytkowaniu przyrządu pomiarowego, w naszym przypadku suwmiarki, mogły wprowadzić dodatkowe błędy. Widać też, że pole trójkąta liczone ze wzoru Herona obarczone jest najmniejszym błędem systematycznym.

3



Wyszukiwarka