zdjęcie (1)

i U»SłW * tfMNtaa A fm iM0nliw*m aM*r |«u. I • łl. i *■«►

RM I • iMąNłti W»»n r)!^t\ g«& U> i !6, uttbt yr«>

WVA'») M'S UMl Pt(A'BUA8 (j P|4SU* «') wtoteą*.t*; PfA)» M Ml" 0,6 WUt)*U

Kł    1    IbJ.    RłA    IU4.

ąpwród Mcb dostawców drwa V daafttta    10    %    29 %    .OH    40 %

medalów prtfnaów wirtd któruh dobrał Jaa 95    %    00%    19%    10 %

• tąraiir dobrych modułom w dostaw Ic jaat    00    %    15 %    00 %    79 %

•kntt4 prawdopodobieństwo poebodttaiat P(B|W) F0%18> P(B|W) P(U|B) I* Obliczy 4 wartok oczekiwaną I odch>lcnic standardowe nnicnnuh opisanych ptdauą Hinkcją ftitofci ich rozkładu;

laądi.    tUf)^    5/    6    +.v*    oru    f(x)»    o    dla    x<0    I    x>1.

M2.    f(x)»    6/    7    +A-*    oraz    f(x)«    0    dla    x<0    I    x>1.

Riądl.    f(*)•    7/8    +*'    ora/    f(x)-    o    dla    x<0    f    x> 1.

Rad4.    1(x}«    l/o+s¹    oraz    f(x)«    0    dla    x<0    1    x>1.

ŁakladaJac 4»nmlaaow> rozkład zawodności Jednej u składowych hardware:
Sud l 1	|Rząd 2 |	|Rząd 3 |	Irm
N* 4	N- 4	N- 4	N- 4
P- 13	P- 0,6	P- 0,7	P- 03
okrasió prawdopodobieństwa wystąpienia liczby X awarii tej składował:
Rząd 1 | V v 1	Rząd 2 |	Rząd 3 |	lM<i <J

^x > 1    X < IjĆłricY X > 2    X < 3

*• SprwdziC statyityczaą iatotaottJfiifdz) wskaźnikiem struktury z próby a włkattikjęm hipotetycznym pm dwustroauej hipotezie alternatywnej, fdy:

Rząd 1	|R*ad 2 f	jRząd 3 )	Ifeiii.]
Pa* MO	Pa- 030	Pi- 030	Po- 030
• • no	n- 200	u - 500	u- 250
*f* 0,5	w- 035	w- 0,6	w« 733
«w* IM	• mi- 233	a o,i- 1.65	a mi* 233