4 (1421)

Instytut Technologii Maszyn i Automatyzacji Politechniki Wrocławskiej Zakład Metrologii i Badań Jakości

6* Pomiar odchyłek waleowości 6*1• Wyniki pomiarów

Kolejne punkty

pomiaru

1

2

3

4

5

6

7

8

3

10

n

12

13

14

oC-,-30

0

-/jU

-kZ

-52

A2

-3

-43

-3M

-53

:§*

-2K

-y|4

-lz|

Zarys CC

cć 2® 60

0“

-VJ^H

A

G

■g

T

-ty

-M

AU

4$

26

cC j*Ą0)

0

-40

-y>

-3?

4

/f M

25

20.

0

Al

5

2r

tfz

fc

^4 -450

0

-40

m

-3

\\

21

23

32^1

124^:

g

5S

ŚI

35

i£

°c^2^0

-il

3i

-2

-J

-Ą

*5

-5

i?

ZaryspC+130°j

<-2li0

o'^1

'42?

'30

Hi

a

IZ

<ę

-f

4

w

°^3* 285”

0

Ab

'52

-zc

-8

<

-5U

-ag

oCV),5)

O

-46

-Uk

-5Y

-2A

Pś

-i

-H

-3?

-S3

-26

h^7-

Ą; pUW"V"~

AA®

/\]a~t^vi~    i-A^'7

6.2* Wykres wskazać, czujnika

%

[u. u]

2arys

£34

(cć +180°)

2axysoC^a

Zarys cc - fe»£ + 180° )	1	r~v	3	r n
Wartość odchyłki walcowości	f i W L^l \o&\ ? i L._J	i §		!

4