2121403446

2121403446



76

Rys. 5.II. Stosunek składowych HJHy w funkcji szerokości szczeliny Fig. 5.11. The rełation of HJHt components in the function of gap width


Wraz z odległością sondy (rys. 5.11) maleje natężenie pola w szczelinie Jednak poprawia się czułość przetwornika.

5.2.2. Błąd powodowany zmianą odległości pomiaru

Błąd detekcji wad podczas magnetycznych nieniszczących badań defektoskopowych zależy głównie od odległości sondy pomiarowej od materiału. Jeżeli sonda pomiarowa jest wyposażona w przetwornik magnetorezystancyjny a nic w hallotron, to dodatkowy błąd powodowany jest negatywnym oddziały waniem składowej normalnej magnetycznego pola rozproszenia na przetwornik. Dla stosunku składowych H, ///,*= 0.1 błąd przetwarzania sięga 50% (129). Dodatkowa przyczyna wpływająca na błąd pomiaru i czułość detekcji wynika z niezachowania podczas pomiaru stałej odległości sondy pomiarowej od badanej powierzchni. Wartość tego błędu może sięgać 70%.

Mierzone natężenie pola magnetycznego magnesowanego elementu uzależnione jest od odległości przetwornika pomiarowego od powierzchni. Najczęstszą przyczyną zmian odległości jest bicie promieniowe elementu. Ze względu na złożoność analityczną zagadnienia wpływ bicia promieniowego elementu (rys 5.12) na pomiar natężenia pola magnetycznego wyznaczono symulacyjnie.


Rys. 5.12. Wpływ bicia promieniowego na odległość ł, przetwornika pomiarowego od powierzchni Fig. 5.12. The influence of radial beatingfor I, distance of measurement trans-ducer from the surface

Odległość /, przetwornika pomiarowego zmienia się po obwodzie obręczy w zakresie /,i < Ic < l%2 " /»i +S. Przeanalizowany zostanie wpływ bicia promieniowego w zakresie od 0,45 mm do + 0,55 mm na błąd pomiaru od przekroczenia założonej odległości pomiaru równej 0,5 mm (rys. 5.13).

Rys. 5.13. Zmienność składowej H,po obwodzie obręczy dla l, = 0,05 mm (HmaJ do l. 00 mm (Hmm)

Fig. 5.13. Variability of H, componeni on the hoop circumference for /, * 0,05 mm (HnaJ ta 1.00 rnm(HmJ

W przeliczeniu procentowym wpływ bicia na wartość błędu przedstawia się następująco (rys. 5.14):

Rys. 5. N. Wpływ Al, na błąd pomiaru

Fig. 5.14. The influence of Al, measuremenl misiake

Zmiana odległości przetwornika w zakresie 0,5 mm ± 0,1 mm jest przyczyną błędu w zakresie + 6% do -7 %. W celu ograniczenia wpływu błędu pomiaru należy zapewnić stałą odległość pomiaru. Dopuszczalne jest bicie promieniowe w zakresie setnych milimetra.



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
46 Rys. 3.17. Wynik analizy dotyczący pojęcia unifikacji i typizacji Fig. 3.17. The result of analys
II. OPRACOWANIE WYNIKÓW POMIARÓW 1. Wyznaczanie szerokości szczelin oraz grubości włosa Szerokość
II. OPRACOWANIE WYNIKÓW POMIARÓW 1. Wyznaczanie szerokości szczelin oraz grubości włosa Szerokość
Rys.9.15. Schemat dozownika ejektorowego Fig.9.15. The scheme of the proportioner Przewód tuż przed
Rys.9.19. Zależność 1+ę =f(G ) S    Z Fig.9.19. The relatiom 1+ę =f(G ) s
P4250084 JT    .■ . - Rys. II (.20. Sprawność termiczna obiegu z regeneracją w funk
076 tif 76 Rys. 1.79. Podstawowe elementy składowe gęstożebrowego stropu żelbetowego typu Teriva: a)
DSC05813 (2) b. Przy nagłym zmniejszeniu przekroju (rys. 0,0765 / 1 A*+(7-1)’ grfriw fi jest funkcją
Laboratorium Elektroniki cz II 9 76 Rys. 3.11. Wzmacniacz klasy A jako układ sterujący: a) schema
15995 skanuj0061 (10) B. Cieślar ł02_i_<_ II __ m8x n;(2d)4 ‘ 32 Funkcje momentów skręcających (r
ALG 5 11.5. Całkowanie funkcji metodą Simpsona 275 Rys. II -I. Przybliżone całkowanie funkcji. Na da

więcej podobnych podstron