METRO, sprawko lab7, AGH, Wydział EAIiE KATEDRA METROLOGII


AGH, Wydział EAIiE KATEDRA METROLOGII

Imiona, nazwiska

1. Piotr Bajorowicz

2. Karol Łukiewicz

3. Łukasz Tyrcha

LABORATORIUM METROLOGII

Semestr: 2

Rok szkolny 2007/2008

Rok studiów: I

Grupa studencka: 3

Kierunek: Elektronika i Telekomunikacja

Zespół: B

Temat ćwiczenia: Zastosowanie pomiarowe oscyloskopu:

Pomiary, czasu, częstotliwości, fazy

i obserwacja charakterystyk statycznych

Numer ćwiczenia: 7

Data wykonania ćwiczenia:

12.04.2008

Data zaliczenia sprawozdania

Przygotowanie oscyloskopu do pomiaru

-skompensowanie sondy pomiarowej

0x08 graphic

Sonda RC o tłumieniu 1:10

a) schemat ideowy;

b) układ zastępczy słuszny dla małych i średnich częstotliwości

Wierne przeniesienie impulsu wymaga równomiernej charakterystyki częstotliwościowej dzielnika R1, C1 i R2, Cz, co występuje wtedy, kiedy jest spełniony warunek R1C1 =R2 Cz.

0x08 graphic
Ponieważ pojemność zastępcza Cz nie jest ściśle określona, to skompensowanie dzielnika uzyskuje się przez strojenie pojemności C1. Sondę stroi się, doprowadzając do jej wejścia sygnał prostokątny z generatora impulsów lub własnego kalibratora oscyloskopu.

Mimo prawidłowej kompensacji sondy na początku impulsu otrzymaliśmy lekkie zafalowania, podobne jak na zamieszczonej ilustracji. Mogło być ono spowodowane złą kompensacją wewnętrznych układów toru Y albo zawilgoceniem elementów czoła sondy.

Pomiar częstotliwości i okresu przebiegów okresowych

za pomocą oscyloskopu

- pomiar metodą bezpośrednią

0x01 graphic

Układ do pomiaru częstotliwości za pomocą oscyloskopu metodą bezpośrednią,

W metodzie tej częstotliwość fx (lub okres Tx ) wyznaczane są na podstawie

zależności

0x01 graphic

gdzie:

lx - długość odcinka na ekranie odpowiadająca okresowi przebiegu Tx ,

Ctx - aktualnie nastawiona wartość stałej podstawy czasu

Pomiary

Obliczenia

 

lx

Ctx

fx [Hz]

Δfx [Hz]

Tx

ΔTx

f1

5,7

20 μs

8 771,93

±307,79

114 μs

±4 μs

f2

6,8

50 μs

2 941,18

±86,51

340 μs

±10 μs

f3

6,9

0,1ms

1 449,28

±42,01

0,69 ms

±0,02 ms

f4

7,1

0,2 ms

704,23

±19,84

1,42 ms

±0,04 ms

Błąd pomiaru okresu oraz częstotliwości tej metody można wyznaczyć z prawa przenoszenia błędu:

0x01 graphic

0x01 graphic

gdzie: ΔCtx - ponieważ nie ustaliliśmy poprawki dla wartości stałej podstawy czasu, wiec przyjmujemy, że jest to wartość rzeczywista, czyli jej błąd przyjmujemy ΔCtx=0

Δlx - błąd odczytu długości odcinka na ekranie oscyloskopu, przyjmujemy go jako najmniejszą możliwą do odczytu jednostkę na podziałce oscyloskopu Δlx=0,2

- pomiar metodą porównawczą - krzywe Lissajous

0x01 graphic

Układy do pomiaru częstotliwości za pomocą oscyloskopu metodą porównawczą (krzywych Lissajous)

W metodzie tej częstotliwość fx wyznaczana jest z zależności: 0x01 graphic

gdzie: f y - częstotliwość sygnału z wzorcowego generatora, dołączonego do wejścia Y oscyloskopu,

Nx , Ny -liczby przecięć figury Lissajous na ekranie oscyloskopu z liniami: poziomą (x) i pionową (y), nie przechodzącymi przez węzły uzyskanej figury

Nx

Ny

fw [Hz]

f [Hz]

Δf [Hz]

δf [%]

f1

1

1

8100

8 100

860

10,62

f2

1

1

3050

3 050

7

0,23

f3

6

2

4450

1 483

7

0,45

1

1

1510

1 510

20

1,32

f4

6

2

2200

733

1

0,18

1

1

740

740

8

1,08

Zauważamy, iż różnice wynikające z doboru krzywych Lissajous są nie wielkie. Co oznacza, że wpływ oscyloskopu na niedokładność pomiaru jest znikomy. Błąd metody wynikać z braku możliwości ustawienia nieruchomej figury Lissajousa, co spowodowane jest rozdzielczością generatora wzorcowego (małe przesunięcie pokrętła na generatorze powoduje widoczną zmianę prędkości i kształtu figury)

Błąd ten można oszacować przyjmując jako wartość poprawną częstotliwości tą zmierzoną częstościomierzem. Błąd bezwzględny: 0x01 graphic
Błąd względny: 0x01 graphic

Pomiar częstotliwości przebiegów okresowych za pomocą częstościomierza cyfrowego

- pomiar częstotliwości z automatycznym i ręcznym wyborem zakresu

Pomiary wykonaliśmy są za pomocą częstotliwościomierza cyfrowego typu PFL30 o zakresie częstotliwości mierzonej: 1 Hz-50 MHz; napięciu wejściowe sinusoidalnym: min 50 mV, max 50 V oraz poziomie wyzwalania automatycznym.

Pomiary:

 

f [Hz]

f1

8960

f2

3057

f3

1490

f4

732

0x08 graphic

Schemat układu do pomiaru częstotliwości

za pomocą częstościomierza PFL30

fx [Hz]

Metoda bezpośrednia

Metoda

porównawcza

Częstościomierz

PFL30

Oscyloskop

f1 [Hz]

8960

8 771,93

8 100

Δ f1 [Hz]

-

307,79

860

f2 [Hz]

3057

2 941,18

1 483

Δ f2 [Hz]

-

86,51

7

f3 [Hz]

1490

1 449,28

1 510

Δ f3 [Hz]

-

42,01

7

f4 [Hz]

732

704,23

740

Δ f4 [Hz]

-

19,84

20

Wnioski z pomiarów częstotliwości:

Wyniki pomiarów metodą bezpośrednią i metodą krzywych Lissajous dały podobne wyniki, jednak pomiar bezpośredni jest bardziej dokładniejszy. Na błędy metody bezpośredniej wpływa przede wszystkim błąd generatora podstawy czasu, a na pomiar metodą Lissajous - błędy generatora częstotliwości wzorcowej oraz trudnością uzyskania idealnie nieruchomego obrazu (im większa częstotliwość badana tym bardziej jest to trudne).

Pomiar przesunięcia fazowego za pomocą oscyloskopu

-metoda bezpośrednia

0x01 graphic

Układ pomiarowy

Pomiary

Obliczenia

f [Hz]

Ctx [mS]

lφ

Δt

φ

100

1

0,6

0,6

21,6

150

1

0,6

0,6

32,4

200

0,5

1

0,5

36,0

250

0,5

1

0,5

45,0

300

0,5

0,9

0,45

48,6

350

0,5

0,8

0,4

50,4

400

0,2

2

0,4

57,6

450

0,2

1,9

0,38

61,6

500

0,2

1,8

0,36

64,8

550

0,2

1,7

0,34

67,3

600

0,2

1,6

0,32

69,1

650

0,2

1,5

0,3

70,2

700

0,2

1,4

0,28

70,6

0x08 graphic
Obserwując na ekranie oscyloskopu sygnały wejściowy i wyjściowy filtru można wyznaczyć przesunięcie fazowe między nimi z zależności: 0x01 graphic

Na błąd metody składa się głównie błąd odczytu długości. Błąd ten można było zredukować stosując kursory jednak zespół popełnił błąd grupy przy pomiarach

-metoda elipsy

0x08 graphic
Pomiar przesunięcia fazowego sygnału metodą elipsy również wykorzystuje zjawisko powstawania krzywych Lissajous. Na jedno z wejść oscyloskopu podawany jest sygnał o danej częstotliwości, a na drugie - ten sam sygnał o tej samej częstotliwości, lecz przesunięty w fazie (za przesunięcie odpowiada włączony w tor sygnału czwórnik liniowy powodujący opóźnienia zależne od częstotliwości). Ponieważ na wejściach jest ta sama częstotliwość powstaje elipsa (krzywa Lissajous dla0x01 graphic
), która jest całkowicie nieruchoma. W zależności od przesunięcia fazowego podawanych sygnałów elipsa ta może być obrócona. Na podstawie jej wymiarów można wyznaczyć przesunięcie fazowe między sygnałami z zależności: 0x01 graphic

f [Hz]

x0

xM

y0

yM

φx

φy

101

1,8

4,4

0,6

2

24,1

17,5

147

2,3

4,3

0,8

1,7

32,3

28,1

196

2,8

4,1

0,8

1,5

43,1

32,2

252

3,1

4

0,9

1,4

50,8

40,0

301

3,3

3,9

0,9

1,1

57,8

54,9

349

3,4

3,8

0,8

1

63,5

53,1

397

3,5

3,8

0,8

1

67,1

53,1

448

3,6

3,7

0,75

0,8

76,6

69,6

Wyznaczenie przesunięcia fazowego metoda elipsy jest obarczone znacznym błędem (3%±10%). Błąd ten zależy głównie od niedokładności pomiaru odpowiednich odcinków na ekranie oraz różnicy przesunięć fazowych wprowadzanych przez tor X i Y, stanowiącej błąd fazowy oscyloskopu.

0x01 graphic

Charakterystyki fazowo-częstotliwościowa czwórnika liniowego, który jest filtrem dolnoprzepustowy II-go rzędu

Wnioski z pomiarów przesunięcia fazowego:

Dokładniejszą metodą wyznaczenia przesunięcia fazowego z zastosowanych przez nasz zespół okazała się metoda bezpośrednia. Powodem mniejszej dokładności pomiarów metodą elipsy jest błąd fazowy oscyloskopu. Błąd ten można określić podając na oba wejścia Y i X ten sam sygnał sinusoidalny. Jeśli błąd by nie występował otrzymalibyśmy odcinek linii prostej.

Wnioski ogólne:

Na każdy z pomiar oscyloskopem mają wpływ: niedokładna kalibracja generatora podstawy czasu i wzmacniacza w torze X (rzędu 2% - 3%), niedokładności wzmacniaczy i dzielników napięciowych toru sygnału badanego, negatywny wpływ impedancji przewodów doprowadzających na kształt sygnału. Niektóre z tych niepewności można zmniejszyć stosując kompensację za pomocą sondy i kalibrację podstawy czasu wzorcową częstotliwością. Oprócz tego na pomiar mają wpływ niedokładność wykonania podziałki na ekranie oscyloskopu.

Mimo tych błędów oscyloskop okazał się w miarę dokładnym przyrządem pomiarowym. Jego największym plusem okazała się jego uniwersalność. Dzięki niemu mogliśmy zmierzyć: napięcie, okres i częstotliwość sygnału oraz jego przesunięcie fazowe względem innego sygnału.

Wykaz aparatury

  1. oscyloskop HUNG CHANG typu 5604;

  2. częstościomierz cyfrowy PFL-30;

  3. generatory: RC typ PO-20 i KZ1118;

  4. zasilacz typu KP16102;

  5. źródło czterech mierzonych częstotliwości;

  6. czwórnik liniowy;



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Sprawko metro, Mechatronika AGH IMIR, rok 2, sprawozdania, metrologia, METROLOGIA
EAP Sprawozdanie Lab7, AGH, Semestr IV, Podstawy automatyki[Ornacki,Pakuła,Łukomski,Snamina], EAP Sp
Metro-jakas sciaga, AGH, Semestr IV, Metrologia[Nieciąg], Ściągi, Ściągi
sprawko10, Akademia Górniczo-Hutnicza AGH, Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki WIMiR IMiR, Au
sprawko6, Akademia Górniczo-Hutnicza AGH, Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki WIMiR IMiR, Aut
sprawko z pneumatyki, AGH, semestr 5, Metrologia (Jastrzębski), z chomika, pneumatyka sprawko, z dc,
PKM-wały, Akademia Górniczo-Hutnicza AGH, Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki WIMiR IMiR, Aut
sprawko M4, AGH Imir materiały mix, Studia
sprawko M4 (1), AGH Imir materiały mix, Studia
Sprawko z wymywalnosci, agh, ochrona środowiska
Sprawko poprawione, AGH, semestr 5, MIUT, miut, liny tarcie
Metro pyt. I kolos, ZiIP, ZiIP, R2, SI, Metrologia
sprawko 5, Politechnika Wrocławska, W-5 Wydział Elektryczny, Fizyka G2, fiza laborki, fiza kalit, fi
tabelka air mt, Akademia Górniczo-Hutnicza AGH, Wydział Inżynierii Mechanicznej i Robotyki WIMiR IMi
sprawko temat2, AGH, Nowoczesne technologie badania deformacji, Temat2
Ćwiczenie M 5 - Oscyloskop - Sprawozdanie, Energetyka AGH, semestr 4, IV Semestr, Metrologia, LABO
Tmm sprawko 1, Mechatronika AGH IMIR, rok 2, TMM

więcej podobnych podstron