background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

 

Defektoskopia ultradźwiękowa - wstęp 

 
 

1.  Definicja fal ultradźwiękowych  

 
Ultradźwiękowe badanie materiałów pozwala na określenie szeregu ich własności. Metody 
ultradźwiękowe pozwalają nie tylko na badania makrostrukturalne, wykorzystywane w defektoskopii 
wyrobów przemysłowych czy diagnostyce medycznej, ale również na badanie mikrostruktury dające 
możliwość wyznaczenia takich wielkości jak: moduły sprężystości, współczynnik tłumienia, zawartość 
domieszek, gęstość dyslokacji, średnią długość pętli dyslokacyjnej, średnią wielkość ziarna materiałów 
polikrystalicznych. Dla poznania struktury krystalicznej metali szczególnie cenne są badania 
rozchodzenia się fal ultradźwiękowych w stanie przewodnictwa. Badanie wpływu minimalnych 
zanieczyszczeń na własności akustyczne monokryształów pozwala, między innymi ustalić strukturę 
dyslokacji oraz mechanizm ich powstawania i poruszania się. W płynach do najczęściej wyznaczanych 
za pomocą badań ultradźwiękowych wielkości należą: stosunek ciepła właściwego przy stałym 
ciśnieniu i przy stałej objętości, lepkość,  ściśliwość adiabatyczna, średnice cząsteczek, wartości sił 
międzycząsteczkowych a dla płynów niejednorodnych koncentracja zawiesin.  
 
Częstości drgań sprężystych, jakim może być poddane jakieś ciało rozciągają się od bardzo niskich, 
związanych z rozmiarami ciała stałego, do bardzo wysokich ograniczonych od góry wielkością stałej 
sieciowej (odległością  sąsiednich atomów). Zakres ten można umownie podzielić na częstości 
infradźwiękowe (poniżej 16Hz), częstości akustyczne (16 Hz – 16 kHz), ultradźwiękowe (16 kHz – 
100 MHz), hiperdźwiękowe (100 MHz – 10

10

Hz).  

 
2. Prędkość fal ultradźwiękowych.  
 
Prędkość fal akustycznych w ciałach stałych izotropowych zależy od sposobu drgań oraz  rozmiarów 
tych ośrodków w odniesieniu do długości fali. Wyróżnia się prędkości fal podłużnych V

oraz 

poprzecznych V

T

  dla tak zwanych ośrodków „nieograniczonych” oraz analogiczne prędkości dla 

ośrodków „ograniczonych”. Ośrodek „ograniczony” to ośrodek, którego wymiary są  porównywalne z 
długością fali  λ.  
Dla ośrodka izotropowego, to znaczy takiego, w którym prędkość nie zależy od kierunku propagacji, 
prędkości fal są  wyznaczane poprzez stałe materiałowe:  λ, µ  - stałe Lamego i gęstość ośrodka ρ  lub 
przez moduły  ( E -  moduł sprężystości podłużnej, G – moduł sprężystości poprzecznej, K – moduł 
sprężystości objętościowej) ,  ν – współczynnik Poissona oraz gęstość ośrodka  ρ.  
Oto wyrażenia opisujące te zależności dla fal podłużnych  (c

L

)  i poprzecznych  (c

T

 
 

( )

(

)(

)

c

E

L

=

+

=

+

λ

µ

ρ

ν

ρ

ν

ν

2

1

1

1 2

 

 

(1) 

              prędkość fal podłużnych:  
 
 
 
 

(

)

c

E

T

=

=

+

µ

ρ

ρ

2 1

ν

(2) 

 
 

 

prędkość fal poprzecznych 

 
 

 

1

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

UWAGA: Dla ośrodków ograniczonych przestrzennie prędkości te są MNIEJSZE 
Ośrodek, którego jeden lub dwa wymiary ab prostopadłe do kierunku rozchodzenia się fali są 
ograniczone: 
 

(3) 

fale podłużne, 
 

(

)

c

E

L

=

ρ

ν

1

2

 płyta  a>

λ

, b < 

λ

  

 
 
 

(4) 

c

E

L

=

ρ

pręt   a < 

λ

, b < 

λ

  

 
 
 
Prędkości  fal ultradźwiękowych są niezależne od częstotliwości w zakresie od 20 kHz do 20 MHz.  
 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

UWAGA: dla ośrodków izotropowych i nieograniczonych iloraz prędkości fali poprzecznej i podłużnej  
jest zależny tylko od współczynnika Poissona υ 
 
 

( )

c
c

T

L

=

1

2

2 1

ν

ν

(5) 

 
 
 
W tabeli 1.1 podane są informacje o właściwościach akustycznych wielu  ciał stałych. W ostatniej 
kolumnie podano wartość iloczynu prędkości fal podłużnych i gęstości ośrodka. Ten iloczyn jest miarą 
tzw. akustycznej oporności falowej ośrodka: =  

ρ

 

⋅ c

L

.  

 
Warto znać prędkości fal podłużnych i poprzecznych w stali i PMM (stosowany w głowicach 
ultradźwiękowych) oraz w wodzie i  w powietrzu a także akustyczne  oporności falowe tych 
ośrodków.  Wielkości te są zawarte w poniżej tabelce. 
 
 Tabela 1. Wartości prędkości fal podłużnych i poprzecznych oraz akustycznej oporności falowej dla 
czterech ośrodków  
 

Lp Ośrodek 

C

L

 

[m/s ] 

C

T

 

[m/s ] 

ρ

 

⋅ C

L

 [10

6

 ] 

[Pa

⋅m/s] 

1 stal 

6000 3200  46 

2 PMM 

2700 1100  3,2 

3 woda 

1480 -  1,48 

4 powietrze 

330 - 0,003 

 
 
 
 

 

2

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 

 

3

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

3. Tłumienie fal ultradźwiękowych 
 
Każda substancja posiada charakterystyczne widmo drgań  własnych odpowiadające stanowi 
równowagi termodynamicznej. Pobudzenie ciała do drgań z jakąś szczególną częstością, różniącą się 
od częstości drgań  własnych, stanowi więc odchylenie od stanu równowagi. Na skutek tłumienia 
nierównowagowe widmo energii przechodzi po pewnym czasie w widmo równowagowe. Tłumienie 
określa się jako przemianę części energii rozchodzących się fal o danej częstotliwości na energię drgań 
o innych częstotliwościach, z reguły na energię drgań cieplnych.. Przemianę taką powodują różne 
mechanizmy fizyczne. Jednym z nich jest tłumienie termosprężyste. W materiale przez który 
przechodzi fala ultradźwiękowa, w miejscach w których następuje zagęszczenie materiału zachodzi 
podwyższenie temperatury. Na skutek przewodności cieplnej ciepło rozchodzi się z obszarów 
zagęszczenia (ogrzanych) do obszarów chwilowo rozrzedzonych (oziębionych). 

 

Powyższy proces przepływu ciepła odbywa się kosztem energii fali ultradźwiękowej. Wielkość strat 
termosprężystych zależy od częstotliwości fali ultradźwiękowej. Straty te są większe dla niezbyt 
wysokich częstotliwości, czyli gdy przywrócenie równowagi cieplnej nadąża za drganiami 
ultradźwiękowymi, niż dla bardzo dużych częstotliwości rzędu 10

9

Hz, gdy przepływ ciepła jest zbyt 

wolny co powoduje, że ten rodzaj tłumienia zanika. Tłumienie termosprężyste charakterystyczne jest 
dla rodzajów fal którym towarzyszą lokalne zmiany gęstości a więc przede wszystkim dla fal 
podłużnych. Dla fal poprzecznych, którym nie towarzyszą zmiany gęstości ten rodzaj tłumienia nie 
występuje. Inny mechanizm tłumienia, nazywamy tłumieniem od zjawisk relaksacji strukturalnej, 
spowodowany jest tym, że energia fali ultradźwiękowej może być zużyta na przejście do wyższych 
stanów energetycznych, jak np. na zmianę położenia atomu międzywęzłowego względem sieci 
krystalicznej czy tez na przejście z jednej konfiguracji makrocząsteczki do drugiej. Maksimum 
tłumienia w funkcji częstotliwości występuje wówczas, gdy częstotliwość drgań ultradźwiękowych 
staje się równa częstotliwości własnej zmiany stanu energetycznego przez dany układ, czyli tzw. 
częstotliwości relaksacji. Tłumienie fali ultradźwiękowej może być również spowodowane takimi 
defektami struktury jak dyslokacje, domieszki i granice ziaren. Dla częstotliwości wysokich, dla 
których długość rozchodzących się w ośrodku fal jest porównywalna z wielkością ziarna materiału, 
zaczyna występować zjawisko rozproszenia fali ultradźwiękowej. Rozproszenie jest tym większe im 
bardziej zbliżone są wymiary ziarna do długości fali. Na granicy każdego ziarna następuje wówczas 
częściowe odbicie fali, przy czym ze względu na nieregularne kształty ziaren fale odbijają się we 
wszystkich kierunkach. Wskutek tego natężenie fali biegnącej w rozpatrywanym kierunku stale się 
zmniejsza, straty spowodowane rozproszeniem szybko rosną wraz ze wzrostem częstotliwości fali 
ultradźwiękowej.  
 
Współczynnik tłumienia określa szybkość ubytku energii drgań mechanicznych fali wraz z odległością 
przebytą przez falę w tym ośrodku. Naturalnym założeniem jest, że natężenie fali zmniejszy się o 
wartość proporcjonalną do natężenia początkowego i długości przebytej drogi.  
 

dx

I

dI

=

α

 

 

 

         (6)

 

Po scałkowaniu otrzymujemy wykładniczą zależność natężenia fali od odległości.  

 

x

o

e

I

I

α

=

 

 

 

 

 

 

(7)

 

 
 
Podobnie amplituda fali maleje wykładniczo  

 

4

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

x

o

e

A

A

2

α

=

 

 

 

                     (8)

 

 

ze współczynnikiem tłumienia dwukrotnie mniejszym.  
Współczynnik tłumienia podaje się w  dB/cm. Zgodnie z w/w zależnościami liczy się go następująco:  
 

x

A

A

x

I

I

n

n

cm

dB

1

1

log

20

log

10

=

=

α

   

 

 

 

(9)

 

 
gdzie  A

1

 i A

n

  są amplitudami fali, a x odległością (w cm) między punktami ośrodka, w których 

mierzono te amplitudy .  
Współczynnik tłumienia zależy od częstotliwości fali , struktury materiału oraz amplitudy impulsu. 
Dla niskich częstotliwości w ośrodkach stałych współczynnik tłumienia wzrasta liniowo wraz z 
częstotliwością. W tym zakresie częstotliwości dominują straty energii na skutek przewodnictwa 
cieplnego. Dla wysokich częstotliwości zależność ta przechodzi w parabolę. W tym obszarze 
częstotliwości główną rolę odgrywa rozproszenie na granicach ziaren. Jak już wspomniano 
elementami struktury, które odgrywają istotną rolę w tłumieniu fal ultradźwiękowych są: wielkość 
ziarna krystalicznego, domieszki i dyslokacje.  
 
 
 

Rys.1. Typowa zależność współczynnika
tłumienia od częstotliwości dla ośrodków
stałych.  
 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
Tabela 2 . Współczynniki tłumienia fal ultradźwiękowych dla kilku ośrodków 
 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 

 

5

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

 
W tabeli 2 podano wartości współczynników tłumienia dla x = 1 mm i dla drgań o częstotliwości  f

1

 

1 MHz. UWAGA: Współczynnik ten dla innej częstotliwości  fx   [MHz] oraz dla bazy pomiaru  
wyrażonej w  cm można oszacować mnożąc wartość z tabeli przez współczynnik k = 10· fx 
 
 
4. Wytwarzanie fal ultradźwiękowych 
Fale ultradźwiękowe wytwarzamy zazwyczaj za pomocą tzw. przetworników ultradźwiękowych. 
Przetwornikami nazywamy takie urządzenia, za pomocą których przetwarza się jeden rodzaj energii w 
drugi. Zwykle chodzi o zamianę energii drgań elektrycznych lub magnetycznych na energię drgań 
mechanicznych i odwrotnie. W celu przetworzenia energii drgań może być wykorzystane zjawisko 
piezoelektryczne lub zjawisko magnetostrykcji. Zjawisko piezoelektryczne, występujące w 
krystalicznym kwarcu, ceramice niobanowej lub tytanianowo-barowej, polega na powstawaniu 
ładunków elektrycznych na powierzchni ciała poddanego działaniu naprężenia. Zjawisko to jest 
odwracalne tzn. pod wpływem przyłożonego napięcia elektrycznego w krysztale powstają 
odkształcenia. Zjawisko piezoelektryczne występuje tylko w kryształach o niskiej symetrii, a więc 
krystalizujących w układzie heksagonalnym, trygonalnym lub tetragonalnym. Wspólną cechą 
kryształów należących do tych układów krystalograficznych jest, że w zbiorach elementów  symetrii 
tych układów brak jest środka symetrii. Brak środka symetrii w kryształach warunkuje występowanie 
w nich zjawiska piezoelektrycznego. W zależności od tego, w jaki sposób wytniemy płytkę z kryształu 
kwarcu, w odniesieniu do osi krystalograficznych kryształu, zmieniają się własności  
przetwornika. W przetwornikach ultradźwiękowych zazwyczaj stosuje się dwa podstawowe typy cięć 
kwarcu: cięcie X (płytka jest prostopadła do osi X) oraz cięcie Y ( płytka jest prostopadła do osi Y). 
Do budowy przetworników generujących fale podłużne wykorzystuje się najczęściej cięcie X.. 
Zjawisko piezoelektryczne występuje również w ferroelektrycznych polikryształach. Ferroelektryki 
jak wykazały badania składają się z oddzielnych obszarów tak zwanych domen, w których 
elementarne momenty dipolowe ustawione są zgodnie i które dzięki temu wykazują polaryzację 
spontaniczną. zjawisku magnetostrykcyjnym. Zjawisko to jest odwracalne podobnie jak zjawisko 
piezoelektryczne i występuje niklu, kobalcie i żelazie. Zjawisko magnetostrykcyjne polega na 
powstawaniu odkształceń pod wpływem zmian pola magnetycznego. Drgania powstające w 
przetworniku, na skutek przyłożonego pola, są drganiami wymuszonymi. Amplituda tych drgań jest 
największa jeśli częstotliwość przyłożonego napięcia wymuszającego jest równa częstotliwości drgań 
własnych przetwornika czyli częstotliwości rezonansowej. Amplituda drgań przetwornika, drgającego 
z częstotliwością rezonansową, zależy od amplitudy przyłożonego napięcia elektrycznego oraz od 
czułości przetwornika. Gdy drgający przetwornik piezoelektryczny znajduje się w kontakcie 
akustycznym z jakimś  ośrodkiem sprężystym, to w ośrodku tym powstają fale o częstości równej 
częstości drgań przetwornika. Kształt wytworzonej w ten sposób wiązki fal ultradźwiękowych zależy 
od średnicy przetwornika i długości fali w ośrodku. Jeśli przetwornik wysyła fale do półprzestrzeni, to 
w polu ultradźwiękowym można wyróżnić tzw. strefę bliską o długości  L, w obrębie której wiązka 
ultradźwiękowa jest nie rozbieżna  i strefę daleką w kształcie stożka.   

 
 
 
 
 
 
 
 
 

 
Rys.2. Kształt wiązki
ultradźwiękowej. D –średnica
przetwornika, L1 –

pole

bliskie, L2 – pole dalekie 

 

 

6

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

5. Odbicie i załamanie fal ultradźwiękowych. 
 

Gdy fala pada na granicę dwóch ośrodków wówczas zachodzi zjawisko  odbicia i przenikania. 

Część fali odbija się od granicy ośrodków, część natomiast przechodzi poprzez granicę do ośrodka 
przyległego. Niech indeks 1 dotyczy ośrodka w którym rozchodzi się wiązka fal padających, a indeks 
2 ośrodka do którego fale przenikają. W przypadku padania prostopadłego współczynnik odbicia R i 
współczynnik przenikania T wynoszą:  
 
 

2

1

1

2

2

1

1

2

2

⎟⎟

⎜⎜

+

=

=

V

V

V

V

I

I

R

p

o

ρ

ρ

ρ

ρ

                    

 

 

 

 

 

(10) 

 

  

1

1

2

2

2

2

1

1

4

V

V

V

V

I

I

T

p

t

ρ

ρ

ρ

ρ

+

=

=

 

 

 

 

 

 

 

 

(11) 

 
 

gdzie  IpIo i It  są to odpowiednio natężenia fali padającej, odbitej i przenikającej. 

ρ

 - gęstość ośrodka 

a  V prędkość fali .  
Iloczyn 

ρ

 V nazywa się falową opornością akustyczną ośrodka. Oporność akustyczna ciał stałych jest 

dużo większa od oporności cieczy i gazów. Współczynnik odbicia jest więc szczególnie duży (bliski 
1), gdy fala ultradźwiękowa przechodzi z ośrodka stałego do cieczy lub gazu. Tym właśnie tłumaczy 
się fakt, że fale ultradźwiękowe rozchodząc się w ciałach stałych praktycznie nie wnikają do 
otaczających ciało stałe cieczy czy też gazu. Z definicji współczynnika odbicia wynika, że powodem 
odbicia fali ultradźwiękowej na granicy dwóch ośrodków jest różnica ich oporności akustycznych. 
Jeśli więc fala ultradźwiękowa rozchodząca się w danym materiale rozchodząca się w danym 
materiale na drodze swojej napotyka obszar o nieco innej oporności akustycznej (wada typu 
nieciągłości, tkanka chora) ulegnie odbiciu. Gdy fala ultradźwiękowa pada pod kątem skośnym na 
granicę dwóch ośrodków stałych o różnych własnościach akustycznych, odbiciu i załamaniu 
towarzyszy też transformacja fali. Zjawisko transformacji polega na tym, że gdy na granicę ośrodków 
pada fala tylko podłużna (L) czy też tylko poprzeczna (T) zarówno w wiązce odbitej jak i załamanej 
wystąpią oprócz fal podłużnych  fale poprzeczne,  rozchodzące się z inną prędkością, a więc pod 
innym kątem niż fale pierwotne’. Rysunek 3 pokazuje takie transformacje  dla przypadku, gdy 
prędkość fal w ośrodku ‘2’ jest większa  od prędkości fal w  ośrodku ‘1’

.  

 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

Rys.3. Załamanie, 
odbicie i transformacja 
fali podłużnej padającej 
na granicę ośrodków 
stałych  

 

7

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

Na rys.3 pokazano transformację podłużnych fal ultradźwiękowych padających na granicę dwóch 
ciał stałych. Dla fal płaskich zależności pomiędzy kątami padania i załamania opisuje znane z 
optyki równanie Sneliusa.  
 
 

2

1

2

1

sin

sin

sin

sin

T

T

L

L

V

V

V

V

γ

δ

β

α

=

=

=

    (12) 

 
gdzie:  

 

 prędkości fal podłużnych i poprzecznych w ośrodku ‘1’ a V

L2 

 i   V

T2 

 - prędkości fal 

podłużnych i poprzecznych w ośrodku ‘2’ .  
 
Podział energii pomiędzy fale podłużne i poprzeczne fali załamanej zależy od kąta padania α i 
dla dużych kątów padania w wiązce poprzecznej znajduje się większość energii, która wniknęła 
do ośrodka 2. Zjawisko to jest wykorzystywane w skośnych głowicach ultradźwiękowych 
służących do wytwarzania fal poprzecznych. Zwiększając kąt padania fali L1 możemy 
doprowadzić do takiej sytuacji, że kąt 

β

 osiągnie wartość 90

0

. Jeśli kąt α jeszcze powiększymy 

wówczas fala L w ogóle nie wniknie do ośrodka 2. Zjawisko to przebiega analogicznie do 
zjawiska całkowitego wewnętrznego odbicia w optyce. Dobierając odpowiednio kąt α możemy 
więc przekształcić podłużną falę ultradźwiękową L1 w ośrodku ‘1’  w falę poprzeczną T2 w 
środku ‘2’.
 
 
UWAGA:  W przypadku padania fali podłużnej L1 na granicę ośrodków stal-powietrze  pod 
dużym  kątem  (

α ≈ 90

o

 ), powstająca fala poprzeczna T1  rozchodzi  się w głąb stali pod kątem 

około 

δ ≈ 30

o

 . Ze wzorów Sneliusa (12) wynika też wniosek, iż fala poprzeczna T1 rozchodząca 

się w stali,  padając na  granicę stal-powietrze pod kątem około 

δ ≈ 30

o

 generuje także falę 

podłużną rozchodzącą się prawie stycznie do  granicy ośrodków. Uwaga ta wskazuje na 
występowanie złożonych ‘transformacji’ wiązki fali podłużnej biegnącej wzdłuż granicy 
ośrodków stal-powietrze.     
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 

8

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

6. Opis defektoskopu analogowego.  
 
W skład aparatu ultradźwiękowego (defektoskopu) wchodzą następujące główne podzespoły: 
nadajnik impulsów, odbiornik impulsów oraz generator podstawy czasu. Uproszczony schemat 
blokowy defektoskopu przedstawiony jest na rys.4.  
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Rys. 4. Schemat blokowy defektoskopu: 1 – generator impulsów synchronizujących, 2 – układ 
opóźniający start nadajnika impulsów, 3 – nadajnik impulsów, 4 – układ opóźniający start 
generatora podstawy czasu, 5 – generator podstawy czasu, 6 – lampa oscyloskopowa 
(zaznaczono płytki odchylania pionowego i poziomego), 7 – przełącznik elektroniczny rodzaju 
pracy, 8 – wzmacniacz impulsów, badany przedmiot, 10 – głowica ultradźwiękowa,  R i T – 
gniazda do podłączenia głowic 
 

Generator (1)  – generuje impulsy wysokiego napięcia rzędu 500V, o czasie trwania kilku 
mikrosekund i częstotliwości powtarzania około 400Hz (rys.5). Wielkość impulsów można 
regulować za pomocą odpowiedniego potencjometru. Powyższe impulsy podawane są na 
przetwornik piezoelektryczny, który „uderzony” impulsem zaczyna drgać z częstotliwością 
drgań  własnych. Drganiom przetwornika towarzyszą drgania elektryczne w obwodzie 
rezonansowym LC, w którym pojemność stanowi sam przetwornik piezoelektryczny (P), zaś 
przewodząca próbka ciała badanego przez kontakt z zewnętrzną obudową przetwornika zamyka 
obwód elektryczny (rys.6). Sygnał napięciowy z przetwornika jest podawany na wzmacniacz 
szerokopasmowy (8). Napięcie z tego wzmacniacza podawane jest na  okładki ‘pionowego’ 
odchylania oscyloskopu. Wzmocnienie toru odbiorczego (w dB) reguluje się zazwyczaj płynnie 
i skokowo odpowiednim potencjometrem. Generator podstawy czasu wytwarza napięcie, 
którego wielkość zmienia się w sposób przedstawiony na rysunku 7.  

 

 

9

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

 

 

Rys. 5. Impulsy wysokiego napięcia 
podawanego na przetwornik 

Rys. 6. Schemat zastępczy przetwornika 

 
 
 

Rys. 7. Napięcie piłokształtne 

generatora ‘podstawy czasu’ 

 
 
 
 
 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

Rys.8. Schemat powstawania ciągu 
impulsów od dna próbki. P – próbka,        
K –  przetwornik piezokwarcowy,              
S – kabel doprowadzający napięcie,          
A – impuls elektryczny nadajnika,1 – 4 
kolejne echa dna na ekranie 
defektoskopu.
 

Czas przejścia plamki od jednego krańca ekranu do drugiego można zmieniać w sposób ciągły i 
skokowy pokrętłem zasięgu podstawy czasu. Start podstawy czasu jest jednoczesny z wysłaniem 
przez nadajnik impulsu pobudzającego przetwornik do drgań. Przetwornik, na który podawane są 
z nadajnika krótkie impulsy elektryczne wysyła impulsy fal ultradźwiękowych. Pomiędzy 
kolejnymi aktami generacji przetwornik pozostaje w spoczynku. Jeśli w czasie, gdy przetwornik 
znajduje się w spoczynku dotrze do niego impuls fal odbitych, to pod wpływem ciśnienia fali 
przetwornik wytworzy impuls elektryczny, którego napięcie będzie proporcjonalne do ciśnienia 
fali (zjawisko piezoelektryczne). Przetwornik pracuje teraz jako odbiornik fal ultradźwiękowych. 
Powstałe na przetworniku napięcie, po wzmocnieniu i detekcji powoduje wychylenie pionowe 
strumienia elektronów lampy oscyloskopowej. Na ekranie zostanie nakreślony impuls (tzw. 
echo). Odległość wzdłuż linii podstawy czasu od jej początku do „echa” jest miarą czasu 
przejścia fal ultradźwiękowych od przetwornika do przeszkody, od której fale się odbijają i z 
powrotem do przetwornika. W przypadku materiałów słabo tłumiących  łatwo uzyskać szereg 
kolejnych ech od przeszkody.  
 
 
 

 

10

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
  
 
 
 
 
 
 
 
 

Rys. 9. Schemat 
powstawania na ekranie 
defektoskopu echa  od 
wady znajdującej się w 
odległości Lx od 
powierzchni obiektu. L1 – 
strefa bliska, L2  - 
odległość wady o dużej 
powierzchni (może to być 
przeciwległa płaszczyzna 
obiektu  

 
W przypadku, gdy nieciągłość występuje na drodze wiązki ultradźwiękowej, obserwuje się ‘echo 
wady’ przed echem ‘dna’ . Na rysunku 9 zilustrowano taki przypadek przy założeniu, że zakres 
badania oscyloskopu odpowiada czasowi przejścia fali od nadajnika do dużej wady, odległej o L2 
od powierzchni obiektu. Wysokość echa od wady jest złożoną funkcją wielkości tej wady w 
odniesieniu do szerokości wiązki ultradźwiękowej oraz odległości tej wady od przetwornika.  
Rozkład ciśnienia fali przed i po odbiciu od ‘wady’ pokazano schematycznie na rysunku 10.   
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Rys. 10. Rozkład ciśnienia wzdłuż osi wiązki ultradźwiękowej przed odbiciem i po odbiciu od 
wady. Odległość unormowana   - wartości wyrażone  w jednostkach ‘strefy bliskiej’.   

 

 
 
 
 
 

 

11

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

 
7. Defektoskop cyfrowy  
Na rysunku 11 przedstawiono schemat blokowy cyfrowego impulsowego o defektoskopu 
ultradźwiękowego z podłączonymi głowicami ultradźwiękowymi, które są akustycznie sprzężone 
z badanym obiektem. Głowice, ośrodek sprzęgający i badany obiekt zaliczamy do toru 
akustycznego.  
 

 
 
 
 

Rys. 11. Schemat blokowy defektoskopu z ilustracją idei przetwarzania analogowo-cyfrowego  

Tor elektryczny stanowią urządzenia elektroniczne do pobudzania głowicy, odbierania sygnałów 
z głowicy oraz układ zobrazowania sygnałów na ekranie defektoskopu. Praca  defektoskopu 
polega na cyklicznym powtarzaniu następującej sekwencji zdarzeń:- pobudzenie głowicy przez 
nadajnik - emisja impulsowej fali ultradźwiękowej do obiektu - zjawiska związane z propagacją 
fali w obiekcie – konwersja fali ( odbitej/ przechodzącej) na sygnał elektryczny w głowicy 

 

12

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

odbiorczej – „obróbka” odebranego sygnału (wzmacnianie, filtracja) – zobrazowanie sygnału w 
formie wykresu „ napięcie-czas”. Przy dostatecznie dużej częstości powtarzania cyklu (tzw. PRF) 
na ekranie mamy „żywy” obraz ech ultradźwiękowych. Odpowiednia interpretacja tych ech przez 
operatora (bądź wyspecjalizowane układy elektroniczne i algorytmy programowe) pozwala na 
identyfikację i ocenę nieciągłości badanego ośrodka (wady, krawędzie) lub pomiary wybranych 
własności akustycznych materiału ( prędkość fali, tłumienie). W prezentowanym schemacie 
mamy do czynienia z tzw. „defektoskopem cyfrowym” , w którym zobrazowanie sygnału jest 
oparte na zamianie sygnału analogowego na ciąg „próbek” (liczb ) w przetworniku A/C a 
następnie wyświetlenie na ekranie wykresu przez mikrokomputer. Przetwornik A/C (analogowo-
cyfrowy) przetwarza sygnał napięciowy na szereg liczb z regulowaną częstotliwością 
próbkowania (rząd wartości od  10 MHz do 100 MHz). Częstotliowość próbkowania powinna 
być na tyle wysoka, aby umożliwić wierne  ‘odwzorowanie’ przebiegu czasowego napięcia 
badanego.   O dokładności i rozdzielczości odwzorowania decyduje również ilość bitów (długość 
słowa N) tego przetwornika. Dla N = 8, napięcie mierzone jest ze skokiem  1/256 Uo, gdzie Uo 
jest maksymalnym napięciem, jaki może być przetwarzane przez dany przetwornik. Sygnały 
cyfrowe (próbki) są przetwarzane i analizowane przez mikrokomputer. Użyteczne dla operatora 
informacje są wyświetlane na ekranie monitora. Na rysunku 12 pokazano dla przykładu wygląd 
ekranu defektoskopu typ UMT-17.    
 
 
 
 
 
 
 
 
[1 ]  Filipczyński L., Pawłowski Z., Ultradźwiękowe badania materiałów, Materiały na kurs 

SITMP, wyd. INCO, Warszawa 1962,  

 [ 2] Obraz J.: Ultradźwięki w technice pomiarowej. WNT, Warszawa 1983.  
[ 3 ] Śliwiński A.: Ultradźwięki i ich zastosowanie. WNT, Warszawa 2001

 

[4 ] Rojek B, Korneta A,  Tor akustyczny i elektryczny defektoskopu ultradźwiękowego; XIV 

Seminarium Nieniszczące Badania Materiałów;  Zakopane, 4-7 marca 2008 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
Rys. 12. Ekran defektoskopu cyfrowego UMT-17
 
 
 

 

13

background image

Defektoskopia ultradźwiękowa -wstęp 

 
Literatura 
 
[1 ]  Filipczyński L., Pawłowski Z., Ultradźwiękowe badania materiałów, Materiały na kurs 

SITMP, wyd. INCO, Warszawa 1962,  

[ 2] Obraz J.: Ultradźwięki w technice pomiarowej. WNT, Warszawa 1983.  
[ 3 ] Śliwiński A.: Ultradźwięki i ich zastosowanie. WNT, Warszawa 2001

 

[4 ] Rojek B, Korneta A,  Tor akustyczny i elektryczny defektoskopu ultradźwiękowego; XIV 

Seminarium Nieniszczące Badania Materiałów;  Zakopane, 4-7 marca 2008 

[5] Politechnika Warszawska, Wydział Fizyki; Laboratorium Fizyki II p. Ultradźwiękowe 

Badanie Materiałów. 

 
 
 

 

14