Optoelektronika 2

background image

Optoelektronika 2

Laboratorium

„Pomiar niewielkich odległości metodą triangulacji”

Opracowanie:

Mirosław Berg

Jakub Szklarz

Tianxiao Yang

Krzysztof Zielonka

Adrian Wojak

Konrad Wydmuch

background image

Triangulacja jest metodą pomiaru odległości za pomocą dalmierza optycznego

(laserowego). Składa się on ze źródła światła (nadajnik) i odbiornika - obiektywu (za którym
znajduje się matryca CCD/linijka CCD lub czujnik PSD) o znanym wzajemnym położeniu i
równoległych osiach optycznych. Odbiornik oddalony jest od nadajnika o stałą odległość
zwaną bazą (b) i nachylony jest pod kątem α. Wiązka światła odbita od przedmiotu w
odległości r pada na detektor za obiektywem odbiornika. Znając ogniskową obiektywu oraz
miejsce padania wiązki światła na detektor (dx) możemy wyznaczyć odległość od obiektu:

gdzie:
r - odległość od przedmiotu,
b - baza dalmierza,
f – ogniskowa,
α - kąt nachylenia nadajnika,
dx - miejsce padania wiązki światła na detektor,

Poszczególne wielkości uzyskamy następująco :

baza dalmierza zostanie zmierzona,

ogniskową obliczymy ze wzoru lub odczytamy z noty katalogowej,

kąt nachylenia nadajnika wynosi ok. 25

0

,

miejsce padania wiązki światła na detektor ustalimy na podstawie odczytu różnicy
potencjałó jego powierzchni.

background image

Alternatywna metoda :

Rozważaliśmy również zastosowanie innej metody. Odległość przedmiotu od

dalmierza można również obliczyć jeśli znamy czas przebiegu lasera. Korzystając ze wzoru :

s=

vt

2

.

Ta metoda nadaje się jednak jedynie do obliczania znacznie większych odległości.

Przy odległościach z naszej skali (2-200)[mm] czas powrotu fali lecącej z prędkością

3⋅10

8

m

s

wynosiłby

(

1.32⋅10

11

1.33⋅10

9

)[

s ]

. Przetworniki nie byłyby w stanie

pracować w tak małych przedziałach czasu. Prowadziłoby to do błędów kwantowych.

Przykłady zastosowań :

Nasz dalmierz można by zastosować do :

pomiaru niewielkich odchyłów kształtu produktu,

pomiaru odchyleń części,

precyzyjnym montażu urządzeń,

sprawdzanie położenia produktu na taśmie produkcyjnej.


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
optoelektronika02
Korbutowicz,optoelektronika,Technologia wytwarzania półprzewodnikowych struktur optoelektronicznych
Podzespoły optoelektroniczne z ZWLE
optoelektronika cw 1 zima
Optoelektronika
optoelektronika
OPTOELEKTRONIKA m p
optoelektronikaPytania
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 5 , LABORATORIUM FIZYCZNE
Badanie ementów optoelektronicznych, ELEKKI~1, 1
Optoelektronika, Informatyka -STUDIA, PODSTAWY ELEKTRONIKI I MIERNICTWA
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 1 , Pomiar pierwszy
Przyżądy Optoelektroniczne, AiR Sem IV gr I Sekcja
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 4 , ˙ukasz Czerlonek
Przyrządy Optoelektroniczne
Badanie optoelektrycznych właściwości przyrządów półprzewodnikowych 4 , ˙ukasz Czerlonek
Przyrządy Optoelektroniczne

więcej podobnych podstron