Cz II Układy pomiarowe, Sondy

background image

Instytut Metrologii i Inżynierii Biomedycznej

Wydział Mechatroniki

Część II

background image

1.Układy pomiarowe

2. Głowice (sondy) pomiarowe

3. Oprogramowania

Część II

background image

Rodzaje układów pomiarowych:

inkrementalne

kodowe

interferencyjne

tarczowe

– odmierzają wartości kąta

liniowe – odmierzają wartości długości

1.Układy pomiarowe

background image

Rodzaje:

optoelektroniczne

wzorzec w postaci liniału z ciemnymi i jasnymi polami

ułożonymi na przemian, o okresie (stałej wzorca) w przedziale

10÷100 μm (niepewność 2-3 μm/1 m przy rozdzielczości

1 μm)

induktosynowe

wykorzystują zjawisko indukcji magnetycznej, powstające

pomiędzy uzwojeniami suwaka i liniału w postaci meandrów o

okresie 2÷4 μm (niepewność 3-5 μm/1 m)

pojemnościowe

podstawowym elementem pomiarowym jest kondensator

różnicowy

Inkrementalne układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

refleksyjne – pracujące

w świetle odbitym

Inkrementalne optoelektroniczne układy pomiarowe

transmisyjne – pracujące

w świetle przechodzącym

1.Układy pomiarowe

background image

1 – oświetlacz

2 – soczewka

3 – fotoelement

4 – płytka stanowiąca

przeciwwzorzec

5 – liniał

inkrementalny

Zjawisko moire’a - przeciwwzorzec

Inkrementalne optoelektroniczne układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

d

1

D

d

2

d

w

Układ odczytowy

z

przeciwwzorcem dającym efekt moire’a

Inkrementalne optoelektroniczne układy pomiarowe

D

1.Układy pomiarowe

background image

Układ odczytowy z przeciwwzorcem z okienkami

przesuniętymi w fazie

1 – oświetlacz

2 – soczewka

3 – fotoelement

4 – płytka stanowiąca

przeciwwzorzec

5 – liniał

inkrementalny

Inkrementalne optoelektroniczne układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

+

-

+

-

wzorzec

Układ odczytowy

z przeciwwzorcem z okienkami przesuniętymi w fazie

Inkrementalne optoelektroniczne układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

Przebieg sygnałów w układach optoelektronicznych

Inkrementalne optoelektroniczne układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

Przebieg sygnałów w układach optoelektronicznych

przesuniecie

fazowe

rezultat

kompensacja

składowej stałej

wykrycie kierunku

ruchu

Inkrementalne optoelektroniczne układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

Charakterystyka układów pomiarowych RGS 20 i RGS 42

Błąd nieliniowości: ±0,75µm na 60mm lub ±3µm na 1m

Inkrementalne optoelektroniczne układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

Zerodur

jest opatentowaną ceramiką szklaną, którą pierwotnie opracowano

do termicznej stabilizacji dużych teleskopów kosmicznych.

Normalne

szkło

Stal

7.8

± 0.5 µm/metr/

o

C

Zerodur

Materiał na wzorce optoelektroniczne

α=7,8,5

x

10

-6

x

1/

o

C

0.0

±0.05 µm/metr/

o

C

11.5

± 0.5 µm/metr/

o

C

ΔL = [α

x

L

x

ΔT] ±s

Δα

α = 11,5

x

10

-6

x

1/

o

C

1.Układy pomiarowe

background image

1- liniał

2 i 3 – uzwojenia suwaka

 =

2

mm

rozdzielczość = 1 μm

niepewność 2-3 μm/1 m

Inkrementalne induktosynowe układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

Zasada działania kondensatora różnicowego, składającego się z

dwóch okładek umieszczonych w jednej płaszczyźnie (1 i 2)

oraz równoległej do nich okładki ruchomej (3)

Inkrementalne pojemnościowe układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

1 – liniał kodowy

2 – źródło światła

3 – soczewka

4 – fotodetektory

5 – kodowe sygnały

elektryczne

Kodowe układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

Kodowe układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

wprowadzenie dodatkowej ścieżki synchronizującej

metoda dwóch równoległych kolumn czujników odczytujących

metoda V

Kodowe układy pomiarowe

Sposoby eliminacji błędów w układach kodowych

1.Układy pomiarowe

background image

Najprostszy schemat pomiarowy interferometru

laserowego oparty jest na układzie Twymana-Greena.

1 – laser

2 – fotodetektory

3 – ukł. formowania impulsów

4 – licznik rewersyjny

5 – zwierciadło pryzmatyczne

6 – płytka światłodzieląca

7 – zwierciadło pryzmatyczne

Interferencyjne układy pomiarowe

1.Układy pomiarowe

background image

Głowice (sondy) pomiarowe

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Służą do lokalizacji punktów pomiarowych – sygnał

z przetwornika sondy pozwala odcytać współrzędne

lokalizowanego punktu

Rodzaje:

głowice stykowe

:

głowice bezstykowe:

głowice sztywne

głowice przełączające (impulsowe)

głowice mierzące

laserowe głowice triangulacyjne

optoelektroniczne głowice wyposażone w kamerę CCD

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Rodzaje:

głowice z przetwornikiem elektrostykowym

głowice z podwójnym przetwornikiem

piezoelektrycznym i elektrostykowym

Impulsowe głowice pomiarowe

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

1 – korpus

2 – sprężyna

3 – ramiona

4 – pryzmy

5 – trzpień

6 – mierzony element

Impulsowe głowice pomiarowe z przetwornikiem elektrostykowym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Prod. firmy ang. Renishaw

TP200

Max powtarzalność

jednokierunkowa ±0,40µm

(0,14)*,
Powtarzalność w płaszczyźnie

±0,80µm (0,105)*
Przy l=50mm, V=480mm/min,

*

W zakupionym egzemplarzu

Powtarzalność jednokierunkowa ±0,35µm,
- „ - w płaszczyźnie ±0,80µm
Przy l=10mm, V=480mm/min,

TP-5WAY

Głowice pomiarowe z przetwornikiem elektrostykowym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Prod. firmy ang. Renishaw

TP6

±X, ±Y, +Z

Powtarzalność jednokierunkowa ±0,35µm,

- „ - w płaszczyźnie ±0,60µm

Przy l=21mm, V=480mm/min,

TP12

±X, ±Y, +Z

Powtarzalność jednokierunkowa ±0,25µm,

- „ - w płaszczyźnie ±0,15µm

Przy l=10mm, V=480mm/min,

Głowice pomiarowe z przetwornikiem elektrostykowym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowice pomiarowe TP20 o konstrukcji modułowej firmy Renishaw

Moduł trzpienia

pomiarowego

+przetwornik

elektrostykowy

Moduł główny

do połączenia

Głowice pomiarowe z przetwornikiem elektrostykowym

Do wymiany automatycznej zespołu trzpienia pomiarowego

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Charakterystyka głowicy elektrostykowej

Głowice pomiarowe z przetwornikiem elektrostykowym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

1–korpus

2–zespół ruchomy

3 – trzpień pomiarowy

4 – sensory piezoelektryczne
5

– elektrostyki

6 -

sprężyna

Głowice pomiarowe z przetwornikiem piezo- i elektrostykowym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Przykłady głowic prod. firmy C.Zeiss

ST

RST

Głowice pomiarowe z przetwornikiem piezo- i elektrostykowym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Moduł
główny

Moduł
trzpienia

pomiar.
SF,LF, EO

Moduł
główny

Moduł
trzpienia
pomiarowego
SH800

TP200

TP800-2

Głowice pomiarowe z przetwornikiem piezo- i elektrostykowym

Prod. firmy Renishaw

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Rodzaje:

głowice z przetwornikiem indukcyjnym

głowice z przetwornikiem optoelektronicznym

Głowice mierzące

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

1 – układ sprężyn płaskich

2 – przetworniki indukcyjne

3 – zestaw trzpieni

pomiarowych

Głowica

MT

Produkcji

firmy C.Zeiss

Głowice z przetwornikiem indukcyjnym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

2002

VAST Navigator

Głowice mierzące z przetwornikiem indukcyjnym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

MK – wartość odczytana z układów pomiarowych maszyny

TA – wartość odczytana z układów pomiarowych głowicy

Zasada pomiaru głowicą z przetwornikiem indukcyjnym

Głowice mierzące z przetwornikiem indukcyjnym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica HIGH SPEED SCANNING

powiązana z 16-bitowym

multiprocesorowym sterowaniem,

umożliwia wykonanie pomiarów

skaningowych 100-krotnie szybciej od

pomiaru głowicą przełączającą.

Głowice mierzące z przetwornikiem indukcyjnym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

PARAMETRY
6 way, nacisk pomiarowy od 0,05 do 1N
Rozdzielczość 0,05µm
Prędkość pomiarowa:

-pojedynczych punktów >2s/punkt,

-skaning >200punktów/s
Zakres skaningu:

>±0,3mm – głowica VAST 1

>±1,0mm – głowica VAST 2
Max wychylenie: ±5mm VAST, ±2 VAST

XT

Dop.dł.trzpienia:450mm VAST,

500mm VAST

XT

Głowica VAST i VASTXT firmy Zeiss

Głowice mierzące z przetwornikiem indukcyjnym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica VAST

Głowice mierzące z przetwornikiem indukcyjnym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica indukcyjna firmy Leitz

Głowice mierzące z przetwornikiem indukcyjnym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Schemat głowicy SP25M firmy Renishaw

Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym

Głowica SP25M firmy Renishaw

Korpus
głowicy

Moduł
kinematyczny

Moduł
skanujący

Zakres pomiarowy:

±0,5mm
Rozdzielczość:

0,1µm
Nacisk pomiarowy:

0,2 do 0,6N/mm
Zakres ruchu jałowego:

X,Y ±2mm,

+Z 1,7mm,

-Z 1,2mm

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica SP80 firmy Renishaw

Zakres pomiarowy:

±2,5mm w każdej osi

Rozdzielczość:

0,02µm

Nacisk pomiarowy:

ok.1,8N

Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Schemat głowicy SP80 firmy Renishaw

Wzorce

refleksyjne

Zespół ruchomy

połączony z trzpieniem

Czytnik

optyczny

Wiązka

światła

Elektryczne

połączenia

Głowice mierzące z przetwornikiem optoelektronicznym

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw

Prędkość przemieszczania 500mm/s
Prędkość skanowania 6000p/s

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Łożyska aerostatyczne w

obu osiach – wysoka

sztywność i małe tarcie

0,08 arc-sek obrotowy

enkoder – synchronizacja

z CMM

Ultralekkiej konstrukcji

końcówka odczytująca

ze zintegrowanym

laserem i odbiornikiem

Przyspieszeniomierz

wykrywający ruch głowicy i

przyspieszenie, zapewnia

dynamiczną kompensację

geometrii i skręcenia tulei

łożyskowej CMM

Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica Revo Renscan 5 firmy Renishaw

FILM

Revo.m1v

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowice (sondy) bezstykowe

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Zasada triangulacji

1 – fotolinijka

2 – ukł. optyczny

3 – przedmiot

mierzony

4 – pomiarowa

wiązka światła

5 – dioda laserowa

Bezstykowa, laserowa głowica triangulacyjna

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Zalety i wady pomiaru laserowymi głowicami

triangulacyjnymi

Zalety:

»

brak odkształceń mierzonego elementu (brak nacisku pomiarowego)

» duża szybkość pomiarów (przy skanowaniu)

» stosunkowo duży zakres pomiarowy

Wady:

»

zależność dokładności pomiaru od własności rozpraszających

powierzchni mierzonego elementu

» mniejsza, w stosunku do głowic stykowych, dokładność

Cechy pomiaru laserowymi głowicami triangulacyjnymi

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica OP2, produkcji

firmy Renishaw

Głowica TP60,

produkcji firmy Zeiss

Bezstykowe, laserowe głowice triangulacyjne

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica laserowa OTP6M firmy Renishaw

Laser półprzewodnikowy 5mW

=0,68 µm

Średnica plamki ok. 50µm

Powtarzalność (2s) 2µm

Niedokładność lokalizacji

punktu ±25 µm w zakresie

pomiarowym ±4mm

Prędkość pomiaru 0,5-

50mm/s

Bezstykowe, laserowe głowice triangulacyjne

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Parametry techniczne

Jedno

stka

OP2

Renishaw

OTP6M

Renishaw

OP5M

Renishaw

LTP 60

Zeiss

Laser: dł. fali

nm

830

680

670

780

max. moc wyj.

mW

5

5

2

2

wiązki pom.

µm

25

50

60

300

odl. pracy Y

mm

20

36

50

125

zakres pomiarowy Z

mm

4

8

10

60

rozdzielczośd

µm

1

2.5

1 (0.1)

powtarzalnośd

µm

2

±2

2.5

2

niedokładnośd pom.

µm

10

±25

5÷25

10

częstotliwośd pom.

Hz

50

2000

100

100

Ważniejsze parametry laserowych głowic triangulacyjnych

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica AutoScan firmy C.Zeiss

Bezstykowe, laserowe głowice triangulacyjne

2.Głowice (sondy) pomiarowe

Skanowanie powierzchni, krawędzi i linii konturowych

z prędkością ok.400p/s na szerokości 10mm

background image

Głowica EAGLEEYE Navigator firmy C.Zeiss

Laser generuje linię świetlną - uzyskanie 20 000 wartości

punktów na sek.

Bezstykowe, laserowe głowice triangulacyjne

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowice z kamerą CCD

Pomiary w zakresie 2D:

małe wymiary, np. obwody

drukowane, elementy z miękkich

materiałów

Matryca CCD 1/3”,

Rozdzielczość: 769(pozioma)x575(pionowa)

Rozmiar piksli 6,0x6,0µm

Aktywna powierzchnia 4,8x3,6mm

Powiększenia od 0,14, 0,3, 0,5 do 8x

2.Głowice (sondy) pomiarowe

Głowica ViSCAN firmy C.Zeiss

background image

Głowica

QVP

firmy Mitutoyo

Kamera CCD ½”
Kołowe oświetlenie
Powiększenia obiektywów 1x,

3x (standard), 5x i 10x
Pole obserwacyjne:
9,6x12,8mm, 3,2x4,3mm
1,9x2,2mm, 1x1,3mm
Powtarzalność (3s) ±1µm
Pomiary otworów, szczelin,

rowki, zarysy, kontury,

krawędzie, itp.

Głowice z kamerą CCD

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych

Rodzaje:

1. Zestaw trzpieni pomiarowych, np. układ typu gwiazda,

2. Głowice obrotowo-uchylne (tzw. przegubowe)

3. Magazynki ramowe i karuzelowe,

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Kalibracja na kuli wzorcowej

Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych

Zestaw trzpieni pomiarowych typu gwiazda

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Konfiguracja trzpieni

pomiarowych typu „gwiazda”,

np. pięć trzpieni pomiarowych.

Dotarcie do przedmiotu z

różnych stron.

Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Przykłady konfiguracji trzpieni

głowic firmy C.Zeiss

ER

CMM

Konfiguracje głowic i trzpieni pomiarowych

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica obrotowo-uchylna umożliwia:

• przestrzenne ustawienie sondy pomiarowej zgodnie z

kierunkiem pomiaru,

• zapewnia dotarcie do powierzchni wewnątrz elementu

.

Głowice obrotowo-uchylne (tzw. przegubowe)

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica PH9, produkcji firmy

Renishaw

105

- w osi A

180

- w osi B

rozdzielczość 7,5°

Głowice obrotowo-uchylne (tzw. przegubowe)

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Głowica RDS, firmy C.Zeiss

rozdzielczość kątowa: 2.5

ponad 20 tys. pozycji przestrzennych

powtarzalność

1”

zakresy przemieszczeń:

180

.

Głowice obrotowo-uchylne (tzw. przegubowe)

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

Magazynki ramowe i karuzelowe

2.Głowice (sondy) pomiarowe

background image

3. Oprogramowania

Procedury pomiarowe i ich oprogramowania

background image

1. Numerowanie elementów przeznaczonych do pomiaru –

podział na pomiarowe i na obliczeniowe

2. Dobór trzpieni pomiarowych do sondy (uzbrojenie sondy)

3. Proces kalibracji głowicy pomiarowej

4. Proces transformacji - ustalenie zależności pomiędzy

układem współrzędnych przedmiotu, a układem współrzędnych

maszyny

5. Pomiary poszczególnych elementów przedmiotu mierzonego

6. Procedury obliczeniowe – odległości, rzuty, przekroje, itp

7. Procedury statystyczne, itp

Podstawowe elementy procedury pomiarowej

3. Oprogramowania

background image

2. Dobór trzpieni pomiarowych do sondy (uzbrojenie sondy)
3. Proces kalibracji głowicy pomiarowej

y

z=0

x

3. Oprogramowania

background image

4.

Proces transformacji -

ustalenie zależności pomiędzy

układem współrzędnych przedmiotu, a układem

współrzędnych maszyny

3. Oprogramowania

background image

Część III

Oprogramowania

6. Procedury obliczeniowe

– odległości, rzuty, przekroje, itp

3. Oprogramowania

background image

przestrzenne

Element

Pomiarowa min.

liczba punktów

Punkt

1

Prosta

3

Płaszczyzna

4

okrąg

4

kula

6

elipsa

6

walec

8

stożek

12

5. Pomiary poszczególnych elementów przedmiotu mierzonego

3. Oprogramowania

background image

7.Procedury statystyczne, itp

3. Oprogramowania

background image

Ważniejsze oprogramowania komputerowe

UMESS firmy C.Zeiss,

CALYPSO firmy C.Zeiss,

PC-DMIS firmy DEA,

QUINDOS firmy Leitz,

WINIOS Instytutu Obróbki Skrawaniem (IOS),

GEOPAK firmy Mitutoyo (obecnie MiCAT),

pakiet METROMEC szwajc. firmy Metromec AG

obecnie firmy Wenzel,

METROLOG XG francuskiej firmy Metrologic Group

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie UMESS UX

Menu-

obsługa

programu

i maszyny

Pasek

narzędzi -

funkcje

Okno

podglądu-

obserwacja

wykonanych

operacji

wersja przeznaczona do pracy w systemie UNIX

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie UMESS UX

Paski narzędzi - przykłady

Przygotowanie

do cyklu

pomiarowego

Okno

pomiarów

Okno

programowania

CNC

3. Oprogramowania

background image

Pakiet UMESS korzysta z następujących modułów, stanowiących

część biblioteki oprogramowania firmy C.Zeiss:

»

GRAPHIC

» FORMPLOT

» ROM

» GON

» KUM

» DATACOM

» HOLOS

» SAM

» MFT

Dodatkowe pakiety oprogramowania

3. Oprogramowania

background image

Pakiety oprogramowania - UMESS

3. Oprogramowania

background image

Pakiety oprogramowania - UMESS

3. Oprogramowania

background image

Pakiety oprogramowania - UMESS

3. Oprogramowania

background image

Pakiety oprogramowania - UMESS

3. Oprogramowania

background image

Charakterystyka programu CALYPSO

Firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Pracuje w środowisku Windows.

Bazuje na CAD.

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

Graficzny interfejs programu pomiarowego

odzwierciedla strukturę rysunku

Na podstawie rysunku lub modelu CAD

tworzy się charakterystyki z tolerancjami.

Następnie definiuje elementy pomiarowe

oraz tworzy powiązania pomiędzy

elementami a charakterystykami.

3. Oprogramowania

background image

Widok opcji programu CALYPSO:

Edycja, Pomiary, Kształt i położenie

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Widok opcji programu CALYPSO:

Przygotowanie, Powiązania, CNC

Przygotowanie:

zmiana trzpieni,

Kalibracja, ustawienie planu kontroli,

Ustalenie „kostki bezpieczeństwa”.

Powiązania:

Wyznaczenie

Prostopadłe,przekroje,

Symetria,itp..

CNC:

Uruchamianie

programów CNC,

definiowanie „kostki

bezpieczeństwa”, itp.

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Okno dialogowe „Wymiary

Obliczanie odległości, symetrii, kątów, średnic wartości średnich

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Okno dialogowe czynności wstępnych

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Kompensacja temperatury, umożliwia wprowadzenie danych

potrzebnych do kompensacji temperatury

Zdefiniowanie kostki bezpieczeństwa do której maszyna

będzie się odwoływać podczas trybu pracy CNC

Rozkaz jazdy na punkt zerowy maszyny współrzędnościowej

lub wskazanie aktualnych współrzędnych maszyny.

Kalibracja końcówek pomiarowych, przyporządkowanie

trzpienia do gniazda magazynu

Wyznaczenie układu nowego współrzędnych lub

praca w układzie współrzędnych maszyny

Kolory w programie CALYPSO:

Czerwony

konieczność wykonania tej czynności przed przystąpieniem do pomiarów

Zółty

warunki wstępne nie zostały zdefiniowane ale można przystąpić do pomiarów

Zielony

warunki wstępne są kompletne i poprawnie wykonane

Odpowiedzialność poszczególnych ikon w czynnościach wstępnych

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Kalibracja trzpienia i końcówek pomiarowych

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Automatyczna wymiana sond i zestawu trzpieni pomiarowych

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Wyznaczanie układu współrzędnych

Możliwość utworzenia

nowego układu

współrzędnych

lub wczytanie istniejącego

Okna dialogowe „układ współrzędnych”

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Wyznaczenie tzw. „kostki bezpieczeństwa”

Określenie obszaru

w którym zawiera się

mierzony przedmiot

-zapobiega m.in. kolizji

maszyny z przedmiotem

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

ER

CMM

Ekran obsługi pomiarów

Możliwe tryby pracy:
•Tryb ręczny,
•Programowanie uczące

(learn),
•Programowanie off-line,
•Programowanie lub edycja

CAD

CALYPSO

rozpoznaje

podstawowe kształty (prosta,

okrąg,walec, itp.

Wynik: postać graficzna na

ekranie oraz protokół

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

R

CMM

Przykładowy ekran z wynikami pomiaru okręgu z tolerancjami

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

background image

Przykład protokołu pomiarowego tekstowego

Dostępne są dwa rodzaje protokołów:

• protokół testowy,

• protokół graficzny, np. rysunek mierzonego przedmiotu

Oprogramowanie CALYPSO firmy C.Zeiss

3. Oprogramowania

background image

Dodatkowe pakiety oprogramowania CALYPSO

GEAR PRO – koła zębate walcowe i stożkowe

BLADE PRO

pomiary w przekrojach

poprzecznych łopatek

VAST NAVIGATOR – pomiary skaningowe z

eliminacja odkształceń pod wpływem zmiennych

nacisków:

-

kalibracja dynamiczna trzpieni pomiarowych,

- automatyczne obliczanie parametrów skanowania,

- wybór ścieżek dojazdu do mierzonej powierzchni

3. Oprogramowania

background image

Pakiet VAST NAVIGATOR

Wysoka prędkość

skanowania

Próbkowanie styczne

–”tangential probing”

wzdłuż linii HELIX

-skanowanie wzdłuż

podwójnej linii spiralnej

3. Oprogramowania

background image

Pakiet oprogramowania - HOLOS

3. Oprogramowania

background image

HOLOS Geo

Opcja do pomiaru blach karoseryjnych
Pomiary standardowych elementów geometrycznych
RPS
Automatyczne opcje pomiarów odniesienia
Łatwe rozszerzenie do HOLOS Light

HOLOS Light

Pomiary powierzchni swobodnych
Ręczne i automatyczne pomiary
Dopasowanie 3D
Pomiary przekrojów
Graficzna prezentacja wyników
Standardowy interfejs VDA oraz IGES

HOLOS Extended

Pomiary bardzo skomplikowanych powierzchni swobodnych

HOLOS Digitize

Digitalizacja punktów i linii skanowania

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie QUINDOS

Interfejs „warsztat” – dostęp do najczęściej wykonywanych

poleceń pomiarowych

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie QUINDOS

Kalibracja końcówek pomiarowych

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie QUINDOS

Budowa układu współrzędnych

Komendy do generacji ścieżek

pomiarowych wybranych elementów

geometrycznych

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie QUINDOS

Dodatkowe pakiety CURVES i FREE FORM SURFACES

Pomiary krzywych 2D i 3D, digitalizacja powierzchni swobodnych

3. Oprogramowania

background image

Możliwości programu QUINDOS

Oprogramowanie QUINDOS

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie PC-DMIS

Opracowanie przez firmę Wilcox Associate Inc.

Stosowany przez firmy grupy Hexagon Metrology

(DEA, Leitz, Brown&Sharpe, CE Johansson...)

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie PC-DMIS

Wersje:

PC-DMIS PRO - kompleksowe oprogramowanie metrologiczne

PC-DMIS CAD – możliwość importowania plików CAD

PC-DMIS CAD++ - pomiary skanujące i pomiary
elementów cienkościennych

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie PC-DMIS

Główne elementy okna programowania PC-DMIS

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie PC-DMIS

Funkcje układu
współrzędnych

Nazwa cechy w
programie

Graficzna
ikona typu
cechy

Aktualny typ
mierzonej
cechy

Funkcje
szukania
wartości
nominalnych

Konfiguracja
ustawień

Parametry
pomiaru

Funkcje
przesuwu
głowicy

Podgląd
aktualnych
współrzędnych

Podgląd
aktualnych
wyników

Ilość
wymaganych
punktów dla
danej cechy

Aktualna stan zmierzonych
punktów z liczby wymaganych

Kasowanie
ostatniego
zmierzonego
punktu

Okno dialogowe funkcji „Quick Start”

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie PC-DMIS

1 2

3

4

6

7

8

9

5

Przykładowy zestaw pasków narzędzi w oknie „Quick start”

1.Menu główne,
2.Menu sterowania kodem

programu,
3.Menu cech pomiarowych,
4.Menu cech konstruowanych,
5.Menu konfiguracji programu,

6.Menu reprezentacji graficznej,
7.Menu zapamiętanych widoków,
8.Menu konstruowania wymiarów,
9.Menu przełączania pomiędzy

trybami CNC i MNUAL

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie

GEOPAK

Firmy Mitutoyo

Obecnie nowsza

wersja MiCAT

(Mitutoyo Intelligent

Computer Aided

Technology)

Modułowy system

oprogramowania MICAT

to MCOSMOS

3. Oprogramowania

background image

Oprogramowanie

GEOPAK

Firmy Mitutoyo

3. Oprogramowania

background image

Program METROLOG XG

®

firmy Metrology Group

Okno startowe oprogramowania METROLOG XG

®

System
operacyjny
Windows NT, XP

3. Oprogramowania

background image

Program METROLOG XG

®

Okno związane z wyznaczaniem
układu współrzędnych

3. Oprogramowania

background image

Program METROLOG XG

®

Automatyczna kalibracja zespołu głowic pomiarowych

Program kompatybilny z większością magazynków, modułów trzpieni pomiarowych,

przedłużaczy i głowic pomiarowych produkcji takich firm jak

Renishaw, C.Zeiss, Leitz Messtechnik.

3. Oprogramowania

background image

Program METROLOG XG

®

Programowanie w środowisku METROLOG XG

®

Dwa języki programowania:
-METROLOG ,
-DMIS

Tworzenie programów:
dla maszyn manual i CNC
-AUTO

–UCZENIE,

-OFF-LINE

Przykładowy ekran programowania w środowisku METROLOG XG

3. Oprogramowania

background image

Program METROLOG XG

®

Pomiary geometryczne w środowisku METROLOG XG

Okno z podstawowymi
elementami geometrycznymi
punkt, prosta,
okrąg, łuk, płaszczyzna,
sfera, walec, stożek, torus

Okno z odchyłkami kształtu,

położenia i bicia

3. Oprogramowania

background image

Pomiary powierzchni swobodnych

Program METROLOG XG

®

Ekran z przykładem pomiaru powierzchni swobodnych

3. Oprogramowania

background image

Program METROLOG XG

®

Przykład graficzno-tekstowego
raportu wyników w środowisku
METROLOG XG

®

Wszechstronność zastosowań
pakietów pomiarowych firmy
METROLOGIC GROUP

®

3. Oprogramowania

background image

Program do analizy statystycznej (SPC)

Pakiet qs-stat z opcją PROCELLA

program statystyczny firmy Q-DAS

PROCELLA – do rejestracji danych i ich prezentacji graficznej

w celu nadzoru procesu produkcji

PROCELLA wyświetla następujące grafiki:

a) karty kontrolne dla n prób losowych,

b) formularze kart kontrolnych jakości,

c) rozkłady wyników pomiaru,

d) wykresy słupkowe, histogramy, sieć prawdopodobieństwa, itp

Przykład ilustracji graficznej

dwuwymiarowego rozkładu

normalnego

3. Oprogramowania

background image

PROCELLA

Przykłady kart Shewarta do analizy procesu

Karta Shewarta dla procesu o

rozkładzie różnym od normalnego

Karta Shewarta o ruchomej

średniej

Program do analizy statystycznej (SPC)

3. Oprogramowania

background image

Program do analizy statystycznej (SPC)

Wykres słupkowy ze schematycznym

obrazem wyrobu i punktów pomiarowych

3. Oprogramowania

background image

Widok ekranu PROCELLA z danymi graficznymi i liczbowymi procesu

Program do analizy statystycznej (SPC)

Maska rejestracji danych w programie PROCELLA

3. Oprogramowania

background image

Dziękuję za uwagę

Część III ta obejmuje roboty i centra pomiarowe


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:

więcej podobnych podstron