Poznań, dn. 5. I 2006r.

Aron Becker
Jakub Krajniak
Mateusz Dolata

grupa: I, kierunek: Informatyka, rok: I

    data oddania: 12. I 2006r.

Multiwibrator astabiln0y

a). Podłączyliśmy układ multiwibratora według (Rys.1). Gdzie:

C

1

=10nF i C

2

=10nF

R1=22kΩ i R2=22kΩ

Rys.1 Multiwibrator astabilny

+5V

U

B1

U

B2

BC107

BC107

U

WY1

U

WY2

1k

1k

R1

R2

C

1

C

2

T1

T2

Następnie do układu podłączyliśmy oscyloskop odpowiednio tak aby zbadać
sygnał na kolektorach 1 ,2 (Rys.3) i bazach tranzystorów T1 i T2(Rys.2).
Otrzymaliśmy następujące obrazy: 

 

Skala czasowa: 0,1ms/div

Skala napięciowa 2V/div 

          

Rys.2 Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na tranzystorach T1 i T2.

Rys. 3. Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na kolektorach 

C

1

 

i

 

 

C

2

Następnie wyliczyliśmy trzema sposobami częstotliwość generowanych drgań:

I – za pomocą wzoru:

 

f

m

=1 / (T

A

 + T

B

) 

gdzie: T

A

= R1Cln2; T

B

=R2Cln2; ln2=0,7

T

A

=22 kΩ*10nF*0,7=154*10

-6

s;  

T

B

=22 kΩ*10nF*0,7=154*10

-6

s;

T

A

 + T

B

=154*10

-6

s+154*10

-6

s=308*10

-6

s

f

m

=1/ 308*10

-6

s=3,246kHz

1,6

1,4

3,4

1,4

1,6

II – za pomocą multimetru:

f

m

=2,96kHz

III – za pomocą oscyloskopu:

f

m

=1/ T;

gdzie: T=3,4*0,1ms – ponieważ skala czasowa na oscyloskopie 0,1ms/div

tak więc 

f

m

1/ 3,4*10

-4

s=2,94kHz

 

b). Wymieniliśmy oporniki R1 i R2 z 22 kΩ na 47 kΩ. Otrzymaliśmy obraz
sygnału na oscyloskopie przy tranzystorach T1 i T2. (Rys.4)

Skala czasowa: 0,2ms/div
Skala napięciowa: 2V/div

Rys.4 Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na tranzystorach T1 i T2.

Następnie zmierzyliśmy częstotliwość generowanych drgań:

I – z multimetru:

 

f

m

=1,396kHz

II – za pomocą oscyloskopu:

f

m

=1/ 3,6*0,2ms=1,388kHz

3,6

1,8

1,6

c). W kolejnej części ćwiczeń zmieniliśmy opornik R1 na 22kΩ, a R2 pozostało
47kΩ. Na oscyloskopie podłączonym przy tranzystorze T1 otrzymaliśmy obraz
(Rys.5)

Skala czasowa: 0,2ms/div
Skala napięciowa: 2V/div

Rys.5 Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na tranzystorach T1 i T2

Następnie zmierzyliśmy częstotliwość generowanych drgań:

I – z multimetru

f

m

=1,891kHz

II – za pomocą oscyloskopu

f

m

=1/ 2,7*0,2ms=1,851kHz

d). Po zmianie oporników R1=47 kΩ i R2=22 kΩ. Na oscyloskopie
podłączonym przy tranzystorze T1 otrzymaliśmy obraz (Rys.6)

Skala czasowa: 0,2ms/div
Skala napięciowa: 2V/div

Rys.6 Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na tranzystorach T1 i T2

Następnie zmierzyliśmy częstotliwość generowanych drgań:

I – z multimetru

f

m

=1,891kHz

II – za pomocą oscyloskopu

f

m

=1/ 2,7*0,2ms=1,851kHz

2,7

1,8

0,7

2,7

1,8

0,7

e). W kolejnym ćwiczeniu połączyliśmy układ jak na (Rys.7), a jako źródło
napięcia U

REG

 zastosowaliśmy zasilacz regulowany. Podłączone oporniki miały

wartość: R1 i R2 = 22kΩ, a następnie wyznaczyliśmy charakterystykę
częstotliwości f

m

 w funkcji napięcia U

REG

. 

Rys.7 Multiwibrator astabilny o regulowanej częstotliwości.

Wyniki pomiarów z multiwibratora przy zmiennej częstotliwości:

U

REG

f

m

1,2V

1,031kHz

1,5V

1,209 kHz

2,0V

1,505 kHz

2,5V

1,772 kHz

3,0V

1,995 kHz

3,5V

2,26 kHz

4,0V

2,48 kHz

4,5V

2,72 kHz

5V

2,96 kHz

3. Wykaz aparatury
LG Oscilloscope OS-9020
HAMAG Triple POWER Supply HM8040-2 
Function Generator HM 8030-5 
Multimeter METEX ME-22

+5V

U

B1

U

B2

BC107

BC107

U

WY1

U

WY2

1k

1k

R1

R2

C

1

C

2

T1

T2