Poznań, dn. 5. I 2006r.
Aron Becker
Jakub Krajniak
Mateusz Dolata
grupa: I, kierunek: Informatyka, rok: I
data oddania: 12. I 2006r.
Multiwibrator astabiln0y
a). Podłączyliśmy układ multiwibratora według (Rys.1). Gdzie:
C
1
=10nF i C
2
=10nF
R1=22kΩ i R2=22kΩ
Rys.1 Multiwibrator astabilny
+5V
U
B1
U
B2
BC107
BC107
U
WY1
U
WY2
1k
1k
R1
R2
C
1
C
2
T1
T2
Następnie do układu podłączyliśmy oscyloskop odpowiednio tak aby zbadać
sygnał na kolektorach 1 ,2 (Rys.3) i bazach tranzystorów T1 i T2(Rys.2).
Otrzymaliśmy następujące obrazy:
Skala czasowa: 0,1ms/div
Skala napięciowa 2V/div
Rys.2 Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na tranzystorach T1 i T2.
Rys. 3. Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na kolektorach
C
1
i
C
2
Następnie wyliczyliśmy trzema sposobami częstotliwość generowanych drgań:
I – za pomocą wzoru:
f
m
=1 / (T
A
+ T
B
)
gdzie: T
A
= R1Cln2; T
B
=R2Cln2; ln2=0,7
T
A
=22 kΩ*10nF*0,7=154*10
-6
s;
T
B
=22 kΩ*10nF*0,7=154*10
-6
s;
T
A
+ T
B
=154*10
-6
s+154*10
-6
s=308*10
-6
s
f
m
=1/ 308*10
-6
s=3,246kHz
1,6
1,4
3,4
1,4
1,6
II – za pomocą multimetru:
f
m
=2,96kHz
III – za pomocą oscyloskopu:
f
m
=1/ T;
gdzie: T=3,4*0,1ms – ponieważ skala czasowa na oscyloskopie 0,1ms/div
tak więc
f
m
1/ 3,4*10
-4
s=2,94kHz
b). Wymieniliśmy oporniki R1 i R2 z 22 kΩ na 47 kΩ. Otrzymaliśmy obraz
sygnału na oscyloskopie przy tranzystorach T1 i T2. (Rys.4)
Skala czasowa: 0,2ms/div
Skala napięciowa: 2V/div
Rys.4 Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na tranzystorach T1 i T2.
Następnie zmierzyliśmy częstotliwość generowanych drgań:
I – z multimetru:
f
m
=1,396kHz
II – za pomocą oscyloskopu:
f
m
=1/ 3,6*0,2ms=1,388kHz
3,6
1,8
1,6
c). W kolejnej części ćwiczeń zmieniliśmy opornik R1 na 22kΩ, a R2 pozostało
47kΩ. Na oscyloskopie podłączonym przy tranzystorze T1 otrzymaliśmy obraz
(Rys.5)
Skala czasowa: 0,2ms/div
Skala napięciowa: 2V/div
Rys.5 Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na tranzystorach T1 i T2
Następnie zmierzyliśmy częstotliwość generowanych drgań:
I – z multimetru
f
m
=1,891kHz
II – za pomocą oscyloskopu
f
m
=1/ 2,7*0,2ms=1,851kHz
d). Po zmianie oporników R1=47 kΩ i R2=22 kΩ. Na oscyloskopie
podłączonym przy tranzystorze T1 otrzymaliśmy obraz (Rys.6)
Skala czasowa: 0,2ms/div
Skala napięciowa: 2V/div
Rys.6 Obraz na oscyloskopie sygnału napięciowego na tranzystorach T1 i T2
Następnie zmierzyliśmy częstotliwość generowanych drgań:
I – z multimetru
f
m
=1,891kHz
II – za pomocą oscyloskopu
f
m
=1/ 2,7*0,2ms=1,851kHz
2,7
1,8
0,7
2,7
1,8
0,7
e). W kolejnym ćwiczeniu połączyliśmy układ jak na (Rys.7), a jako źródło
napięcia U
REG
zastosowaliśmy zasilacz regulowany. Podłączone oporniki miały
wartość: R1 i R2 = 22kΩ, a następnie wyznaczyliśmy charakterystykę
częstotliwości f
m
w funkcji napięcia U
REG
.
Rys.7 Multiwibrator astabilny o regulowanej częstotliwości.
Wyniki pomiarów z multiwibratora przy zmiennej częstotliwości:
U
REG
f
m
1,2V
1,031kHz
1,5V
1,209 kHz
2,0V
1,505 kHz
2,5V
1,772 kHz
3,0V
1,995 kHz
3,5V
2,26 kHz
4,0V
2,48 kHz
4,5V
2,72 kHz
5V
2,96 kHz
3. Wykaz aparatury
LG Oscilloscope OS-9020
HAMAG Triple POWER Supply HM8040-2
Function Generator HM 8030-5
Multimeter METEX ME-22
+5V
U
B1
U
B2
BC107
BC107
U
WY1
U
WY2
1k
1k
R1
R2
C
1
C
2
T1
T2