MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE 30 04 2012 Mech

background image

Grupa dziekańska:1

Pkt 1 kol

127499 Karaszewski

Paweł

2,0

127510 Ozimkowski

Adam

3,0

Grupa dziekańska:4

127508 Okuniewski

Piotr

2,5

Grupa dziekańska:7

133333 Adamkiewicz

Paweł

4,0

133334 Badowska

Kamila

4,5

127482 Balcerowski

Marek

2,0

133335 Baniel

Damian

2,0

127485 Bernacki

Michał

2,0

133336

Białas

Justyna

3,5

127486 Bobrowski

Jakub

4,0

133340 Czech

Artur

nb

133341 Czujko

Natalia

4,5

133342 Danielewicz

Marcin

4,5

133343

Daszyńska

Monika

5,0

133344 Derra

Piotr

3,0

133346 Gierczak

Michał

3,5

133348

Jastrzębski

Jacek

3,0

127500 Karwowski

Karol

nb

133350 Kil

Karol

1,0

127502 Kitowski

Dawid

4,0

133351 Kokoszewski

Piotr

2,5

133353 Kreft

Wiktor

4,0

133355

Książek

Grzegorz

4,0

133356 Kulczykowski

Jakub

2,0

133357 Kwiatek

Aleksander

6,0

133358 Lemkowska

Patrycja

9,0

133359 Majda

Piotr

2,0

133360 Michalak

Maciej

3,0

127516

Sławinska

Sara

4,0

Grupa dziekańska:8

127504 Kopka

Mariusz

5,0

133361

Mirończuk

Bartosz

6,0

133362

Młyński

Stanisław

3,0

126628

Moryń

Krzysztof

1,5

133364 Mrotek

Paulina

6,5

133365

Niestrój

Mateusz

3,0

127511

Pączkowski

Dariusz

7,5

133367

Piątkowski

Emil

2,0

133368 Piosik

Anita

4,0

133369

Popławski

Michał

3,0

127513 Puchowski

Piotr

4,5

133371

Sierżęga

Wojciech

2,0

133372 Stasiak

Kamil

3,0

133373 Staszkiewicz

Aleksandra

5,0

133374 Szczepan

Tomasz

nb

133375 Szultka

Seweryn

5,5

133376 Szymula

Kamil

nb

background image

133377 Tomaszewski

Adam

3,0

133378 Turno

Adam

2,0

133380 Wiltos

Mateusz

2,0

133381 Wittbrodt

Angelika

3,0

133382 Wojtak

Artur

2,0

133384

Woźnowska

Małgorzata

7,0

133385

Wroński

Mateusz

4,0

133386 Zachodny

Piotr

nb

133388 Zinkel

Magdalena

5,0


Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE 30 04 2012 WEiA
nie ma na liscie MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE 30 04 2012
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE I 30 04 2012 OiO
Miernictwo i systemy pomiarowe II LAB
1. Podstawowe określenia. Jednostki miary, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- D
30 04 2012 zalacznik nr 1 do-zapytania, Przegrane 2012, Rok 2012, mail 30.04 Lesko tablica
KP1 POMIARY WYMIARÓW ZEWNĘTRZNCH, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- Daszyk
8. Klasyfikacja i właściwości metrologiczne narzędzi pomiarowyc, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo
ZIMK21 Miernictwo i systemy pomiarowe
ZIMK72 Miernictwo i systemy pomiarowe
Miernictwo i systemy pomiarowe II lista
MIERNICTWO I SYSTEMY POMIAROWE
2. Przyrzady pomiarowe podziałki, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- Daszy
7. Racjonalny dobór narzędzi, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomiarowe- Daszyk
3. Błędy pomiarów. Bł.systematyczny i przypadkow, AM Gdynia, Sem. III,IV, Miernictwo i systemy pomia

więcej podobnych podstron