Z
X
2
4
1
3
a
= F (
(x,y,z); P
P
( x
p
,y
p
,z
p
)
;
G )
P
P
(
x
p
,
y
p
,
z
p
)
Oporność / przewodność pozorna – parametr charakteryzujący
niejednorodny ośrodek
a
mS/m] = 1000
/
a
[omm]
a
= F (
(x,y,z); P
P
( x
p
,y
p
,z
p
)
;
G
)
gdzie:
(x,y,z) – 3D
rozkład oporności (model)
P
P
(
x
p
,
y
p
,
z
p
) –
punkt pomiarowy
G –
czynnik determinujący
wielkość „pola widzenia” układu
rolę czynnika G może spełniać:
rozstaw układu
częstotliwość f lub okres T pola EM
czas
pomiaru liczony od momentu
wyłączenia impulsu wzbudzającego pole
EM
„
pole widzenia” układu pomiarowego
a
= F (
(x,y,z); P
P
( x
p
,y
p
,z
p
)
;
G )
P
P
(
x
p
,
y
p
,
z
p
)
Oporność / przewodność pozorna – parametr charakteryzujący
niejednorodny ośrodek
a
= F (
1
, h
1
,
2
,
h
2
,
3
,
P
P
( x
p
,y
p
,z
p
)
,
G )
Z
X
h
1
1
2
h
4
2
S 0 2
1
1 0
1 0 0
1 0
1 0 0
1 0 0 0
a
[m]
G = AB/2 [m]
„
pole widzenia” układu pomiarowego
P
P
a
= F (
(x,y,z); P
P
( x
p
,y
p
,z
p
)
;
G )
Sondowania
(soudings; geosoudings)
Profilowania
(profiling)
Tomografia
(tomography)
a
= F (G)
a
= F
( P
P
)
przy
P
P
=
constans
a
= F
(P
P
,G)
przy
G
= constans
P
P
= varians
G
= varians
gdzie:
(x,y,z) – rozkład oporności narzucony przez budowę geologiczną lub model
P
P
(x
p
,y
p
,z
p
) - położenie punktu pomiarowego
G – czynnik determinujący wielkość pola widzenia układu pomiarowego (głębokość
penetracji)
2 0
4 0
6 0
8 0
1 0 0
1 2 0
1 4 0
1 6 0
1 8 0
2 0 0
2 2 0
- 1 5
- 1 0
- 5
A
B
/2
(
m
)
N W
S E
P r o fi l P R Z E K R Ó J O P O R N O Ś C I P O Z O R N E J
B
0 . 7
0 . 8
0 . 9
1 . 0
1 . 1
1 . 2
1 . 3
1 . 4
1 . 5
1 . 6
1 . 7
1 . 8
1 . 9
2 . 0
1 0 0
7 5
5 0
2 5
1 0
5
a
( O h m m )
U k la d c z te r o e le k tr o d o w y s y m e tr y c z n y
S 0 2
1
1 0
1 0 0
1 0
1 0 0
1 0 0 0
G =AB/2 [m]
E
W
0
5 0
1 0 0
1 5 0
2 0 0
2 5 0
3 0 0
3 5 0
4 0 0
4 5 0
5 0 0
0
5
1 0
1 5
2 0
2 5
P
p
[m]
Wykres
profilowania
Krzywa
sondowania
Przekrój oporności pozornej