background image

 

 

Z

X

2

4

1

3

a

= F ( 

(x,y,z); P

P

( x

p

,y

p

,z

p

)

 

;

 

G )

 

P

P

(

 

x

p

,

y

p

,

z

p

)

 

  

Oporność / przewodność pozorna – parametr charakteryzujący 

  niejednorodny ośrodek

 

a

mS/m] = 1000 

/

 

a

[omm]

a

= F ( 

(x,y,z); P

P

( x

p

,y

p

,z

p

)

 

;

 G 

)

gdzie:

(x,y,z) – 3D 

rozkład oporności (model)

P

P

(

 

x

p

,

y

p

,

z

p

) –

 

punkt pomiarowy

G – 

czynnik determinujący       

      wielkość „pola widzenia” układu

rolę czynnika G może spełniać:

 rozstaw układu

 częstotliwość f lub okres T pola EM
 czas 

 

pomiaru liczony od momentu   

  wyłączenia impulsu wzbudzającego pole 
EM

pole widzenia” układu pomiarowego

background image

 

 

a

= F ( 

(x,y,z); P

P

( x

p

,y

p

,z

p

)

 

;

 

G )

 

P

P

(

 

x

p

,

y

p

,

z

p

)

 

  

Oporność / przewodność pozorna – parametr charakteryzujący 

  niejednorodny ośrodek

 

a

= F ( 

1

, h

1

,

 

2

,

 

h

2

,

 

3

,

 P

P

( x

p

,y

p

,z

p

)

 ,

 G )

Z

X

h

1

1

2

h

4

2

S 0 2

1

1 0

1 0 0

1 0

1 0 0

1 0 0 0

[m]

G = AB/2 [m]

pole widzenia” układu pomiarowego

P

P

background image

 

 

a

= F ( 

(x,y,z); P

P

( x

p

,y

p

,z

p

)

 

;

 

G )

Sondowania

(soudings; geosoudings)

Profilowania

(profiling)

Tomografia

(tomography)

= F (G)

a

 

= F

 

( P

P

)

przy  

P

P

 = 

constans         

a

 

= F

 

(P

P

,G)

przy  

G

 = constans

P

P

 = varians

= varians

gdzie: 



(x,y,z) – rozkład oporności narzucony przez budowę geologiczną  lub model 

          P

P

(x

p

,y

p

,z

p

) -  położenie punktu pomiarowego 

          G – czynnik determinujący wielkość pola widzenia układu pomiarowego (głębokość 
penetracji)

2 0

4 0

6 0

8 0

1 0 0

1 2 0

1 4 0

1 6 0

1 8 0

2 0 0

2 2 0

- 1 5

- 1 0

- 5

A

B

/2

 (

m

)

N W

S E

P r o fi l                                P R Z E K R Ó J     O P O R N O Ś C I     P O Z O R N E J

B

0 . 7

0 . 8

0 . 9

1 . 0

1 . 1

1 . 2

1 . 3

1 . 4

1 . 5

1 . 6

1 . 7

1 . 8

1 . 9

2 . 0

1 0 0

7 5

5 0

2 5

1 0

5

a

( O h m m )

U k la d   c z te r o e le k tr o d o w y   s y m e tr y c z n y

S 0 2

1

1 0

1 0 0

1 0

1 0 0

1 0 0 0

G =AB/2 [m]

E

W

0

5 0

1 0 0

1 5 0

2 0 0

2 5 0

3 0 0

3 5 0

4 0 0

4 5 0

5 0 0

0

5

1 0

1 5

2 0

2 5

P

p

 

[m]

Wykres 
profilowania

Krzywa 
sondowania

Przekrój oporności pozornej

background image

 

 


Document Outline