background image

PODSTAWY 

METROLOGII

Wykład 1

background image

Tematyka wykładów:

Podstawowe pojęcia metrologiczne

Podstawowe pojęcia metrologiczne

Jednostki miar i ich powiązanie (układ 

Jednostki miar i ich powiązanie (układ 

SI)

SI)

Wzorce jednostek miar

Wzorce jednostek miar

Błędy i metody pomiarów

Błędy i metody pomiarów

Niepewność pomiarowa i jej wyznaczenie

Niepewność pomiarowa i jej wyznaczenie

Sygnały i ich przetwarzanie

Sygnały i ich przetwarzanie

Przyrządy pomiarowe i ich właściwości

Przyrządy pomiarowe i ich właściwości

Opracowanie wyników pomiarów

Opracowanie wyników pomiarów

Zasady prowadzenia eksperymentów

Zasady prowadzenia eksperymentów

background image

Zasady zaliczania kursu

Obecność na wykładzie nie jest 
obowiązkowa.

Podstawą zaliczenia kursu jest 
kolokwium na ostatnim wykładzie.

Osoby niezadowolone z wyników testu 
mają prawo do terminu poprawkowego.

Za obecność na wykładzie (sprawdzaną 
wybiórczo) można uzyskać dodatkowe 
punkty do zaliczenia.

background image

Literatura:

Jaworski J.:

Jaworski J.:

 

 

Matematyczne podstawy 

Matematyczne podstawy 

metrologii,

metrologii,

 WNT Warszawa, 1979, ss. 365

 WNT Warszawa, 1979, ss. 365

Szydłowski H. i inni

Szydłowski H. i inni

:

:

 

 

Teoria pomiarów

Teoria pomiarów

PWN Warszawa, 1981, ss.441

PWN Warszawa, 1981, ss.441

Piotrowski J.: 

Piotrowski J.: 

Teoria pomiarów

Teoria pomiarów

, PWN 

, PWN 

Warszawa, 1986, ss. 281

Warszawa, 1986, ss. 281

Piotrowski J.: 

Piotrowski J.: 

Pomiarowe zastosowanie 

Pomiarowe zastosowanie 

analizy sygnałów

analizy sygnałów

, PWN Warszawa, 1991, 

, PWN Warszawa, 1991, 

ss. 159 

ss. 159 

Abramowicz H.: 

Abramowicz H.: 

Jak analizować wyniki 

Jak analizować wyniki 

pomiarów?

pomiarów?

,

,

 PWN Warszawa, 1992, ss. 120 

 PWN Warszawa, 1992, ss. 120 

background image

Jaworski J., Morawski R., Olędzki J.: 

Jaworski J., Morawski R., Olędzki J.: 

Wstęp do  metrologii i techniki 

Wstęp do  metrologii i techniki 

eksperymentu

eksperymentu

, WNT Warszawa, 1992, ss. 

, WNT Warszawa, 1992, ss. 

212 

212 

Taylor J.R.: 

Taylor J.R.: 

Wstęp do analizy błędu 

Wstęp do analizy błędu 

pomiarowego

pomiarowego

, Wydawnictwo Naukowe 

, Wydawnictwo Naukowe 

PWN Warszawa, 1995, ss. 297 

PWN Warszawa, 1995, ss. 297 

Międzynarodowy słownik podstawowych 

Międzynarodowy słownik podstawowych 

i ogólnych terminów metrologii

i ogólnych terminów metrologii

 

 

(tłum. J. 

(tłum. J. 

Dudziewicz), GUM Warszawa, 1996 

Dudziewicz), GUM Warszawa, 1996 

Guide to the Expression of Uncertainty in 

Guide to the Expression of Uncertainty in 

Measurement, II międzynarodowe wyd., 

Measurement, II międzynarodowe wyd., 

ISO, 1995, polski tytuł: 

ISO, 1995, polski tytuł: 

Wyrażanie 

niepewności pomiaru. Przewodnik

uzupełniony o dodatek J. Jaworskiego 

uzupełniony o dodatek J. Jaworskiego 

Niedokładność, błąd, niepewność

Niedokładność, błąd, niepewność

 

 

background image

Bielski A., Ciuryło R.: 

Bielski A., Ciuryło R.: 

Podstawy metod 

Podstawy metod 

opracowania pomiarów

opracowania pomiarów

, UMK Toruń, 

, UMK Toruń, 

1998, ss. 210 

1998, ss. 210 

Gajda J., Szyper M.: 

Gajda J., Szyper M.: 

Modelowanie i 

Modelowanie i 

badania symulacyjne systemów 

badania symulacyjne systemów 

pomiarowych

pomiarowych

, AGH & Jartek S.C. Kraków, 

, AGH & Jartek S.C. Kraków, 

1998, ss. 411

1998, ss. 411

Gundlach W., Ciepłucha J., Kozanecka 

Gundlach W., Ciepłucha J., Kozanecka 

D.: 

D.: 

Podstawy metrologii

Podstawy metrologii

, część I - III, wyd. 

, część I - III, wyd. 

2, Politechnika Łódzka, 1989, ss. 417

2, Politechnika Łódzka, 1989, ss. 417

Zakrzewski J.:

Zakrzewski J.:

 

 

Podstawy metrologii dla 

Podstawy metrologii dla 

kierunku mechanicznego

kierunku mechanicznego

, skrypt nr 1670, 

, skrypt nr 1670, 

Politechnika Śląska, Gliwice, 1991, ss. 84

Politechnika Śląska, Gliwice, 1991, ss. 84

Urban A.: 

Urban A.: 

Podstawy miernictwa

Podstawy miernictwa

, skrypt 

, skrypt 

Politechniki Warszawskiej, 1992

Politechniki Warszawskiej, 1992

background image

Poprawski R., Salejda W.: 

Poprawski R., Salejda W.: 

Podstawy 

Podstawy 

rachunku błędów i opracowania wyników 

rachunku błędów i opracowania wyników 

pomiaru

pomiaru

 - Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki, 

 - Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki, 

część I, wyd.2, Politechnika Wrocławska, 

część I, wyd.2, Politechnika Wrocławska, 

1998, ss. 99 

1998, ss. 99 

Turzeniecka D.: 

Turzeniecka D.: 

Ocena niepewności 

Ocena niepewności 

wyniku pomiarów

wyniku pomiarów

, Politechnika Poznańska, 

, Politechnika Poznańska, 

1997

1997

Zawada J.: 

Zawada J.: 

Wybrane zagadnienia z 

Wybrane zagadnienia z 

podstaw metrologii

podstaw metrologii

, Politechnika Łódzka, 

, Politechnika Łódzka, 

1997, ss. 120 

1997, ss. 120 

Piotrowski J.: 

Piotrowski J.: 

Procedury pomiarowe i 

Procedury pomiarowe i 

estymacje sygnałów

estymacje sygnałów

, skrypt nr 1889, 

, skrypt nr 1889, 

Politechnika Śląska, Gliwice, 1994, ss. 296

Politechnika Śląska, Gliwice, 1994, ss. 296

Łukaszek W.: 

Łukaszek W.: 

Podstawy statystycznego 

Podstawy statystycznego 

opracowania pomiarów

opracowania pomiarów

, wyd. 3, skrypt nr 

, wyd. 3, skrypt nr 

1896, Politechnika Śląska, Gliwice, 1995

1896, Politechnika Śląska, Gliwice, 1995

background image

METROLOGIA

Metrologia

 jest nauką o pomiarach. 

 jest nauką o pomiarach. 

Nazwa 

Nazwa 

Metrologia

 pochodzi od greckich 

 pochodzi od greckich 

słów:

słów:

„metro” – miara   i   „logia”- nauka.

W „Małej encyklopedii metrologii” podano 

W „Małej encyklopedii metrologii” podano 

taką definicję metrologii:

taką definicję metrologii:

„Dziedzina nauki i techniki zajmująca się 

pomiarami i wszystkimi czynnościami 
niezbędnymi do wykonywania pomiarów”.

background image

METROLOGIA

Metrologia

Metrologia

  jest nauką z 

  jest nauką z 

pogranicza techniki i prawa i dzieli 

pogranicza techniki i prawa i dzieli 

się ją na:

się ją na:

1)

1)

metrologię techniczną

metrologię techniczną

, w której 

, w której 

wyróżnia się metrologię 

wyróżnia się metrologię 

naukową

naukową

przemysłową

przemysłową

 i 

 i 

laboratoryjną

laboratoryjną

,

,

2)

2)

metrologię prawną

metrologię prawną

.

.

background image

MT - Metrologia przemysłowa 

zajmuje się 

zajmuje się 

wszystkimi usługami metrologicznymi, które są 

wszystkimi usługami metrologicznymi, które są 

związane z procesami produkcyjnymi w 

związane z procesami produkcyjnymi w 

przemyśle.

przemyśle.

MT - Metrologia laboratoryjna 

zajmuje się 

zajmuje się 

pomiarami w laboratoriach badawczych i 

pomiarami w laboratoriach badawczych i 

wzorcujących w których wykonuje się 

wzorcujących w których wykonuje się 

wzorcownie przyrządów pomiarowych i 

wzorcownie przyrządów pomiarowych i 

badania typu (pełne) przyrządów 

badania typu (pełne) przyrządów 

pomiarowych.

pomiarowych.

Metrologia prawna 

jest działem metrologii 

jest działem metrologii 

odnoszącym się do jednostek miar, metod 

odnoszącym się do jednostek miar, metod 

pomiarowych i narzędzi pomiarowych z punktu 

pomiarowych i narzędzi pomiarowych z punktu 

widzenia urzędowo ustalonych wymagań technicznych 

widzenia urzędowo ustalonych wymagań technicznych 

i prawnych mających na celu zapewnienie jednolitości 

i prawnych mających na celu zapewnienie jednolitości 

miar, poprawności uzyskiwanych wyników pomiarów i 

miar, poprawności uzyskiwanych wyników pomiarów i 

należytej dokładności pomiarów.

należytej dokładności pomiarów.

background image

Metrologia współczesna 
dotyczy:

pomiarów wartości wielkości,

pomiarów wartości wielkości,

rozkładów wielkości (przestrzennych i 

rozkładów wielkości (przestrzennych i 

czasowych),

czasowych),

funkcjonałów lub transformat – określonych 

funkcjonałów lub transformat – określonych 

na wielkościach lub rozkładach wielkości,

na wielkościach lub rozkładach wielkości,

charakterystyk  wielkości –  (zależności 

charakterystyk  wielkości –  (zależności 

między wielkościami, rozkładami wielkości, 

między wielkościami, rozkładami wielkości, 

funkcjonałami i transformatami wielkości),

funkcjonałami i transformatami wielkości),

parametrów reprezentacji rozkładów 

parametrów reprezentacji rozkładów 

transformat i zależności między nimi

transformat i zależności między nimi

background image

Trochę historii

Metrologia 

Metrologia 

-  jako dziedzina wiedzy 

-  jako dziedzina wiedzy 

obejmująca wszystko, co związane jest z 

obejmująca wszystko, co związane jest z 

pomiarami, ma długą, nieźle 

pomiarami, ma długą, nieźle 

udokumentowaną historię, sięgającą 10 tys. 

udokumentowaną historię, sięgającą 10 tys. 

lat.

lat.

Historycznie najstarsze były pomiary długości 

Historycznie najstarsze były pomiary długości 

i odległości, objętości ciał płynnych i sypkich, 

i odległości, objętości ciał płynnych i sypkich, 

masy oraz czasu. 

masy oraz czasu. 

Wymiary przedmiotów mierzono początkowo 

Wymiary przedmiotów mierzono początkowo 

porównując je na przykład z elementami ciała 

porównując je na przykład z elementami ciała 

człowieka, jego wydolnością, otoczeniem.

człowieka, jego wydolnością, otoczeniem.

 

 

background image

Wykształciły się takie jednostki długości, 

jak np.:

 

cal (szerokość dużego palca, szerokości 

cal (szerokość dużego palca, szerokości 

ośmiu ziaren jęczmienia),

ośmiu ziaren jęczmienia),

 

 

piędź (odcinek miedzy czubkami kciuka i 

piędź (odcinek miedzy czubkami kciuka i 

małego palca),

małego palca),

 

 

stopa, łokieć. 

stopa, łokieć. 

Odległości, czyli większe długości, 

mierzono takimi jednostkami, jak:

 

krok, 

krok, 

bruzda (długość bruzdy, po zaoraniu, której 

bruzda (długość bruzdy, po zaoraniu, której 

należy pozwolić wołom odpocząć: 100 stóp w 

należy pozwolić wołom odpocząć: 100 stóp w 

Grecji i 120 w Rzymie), 

Grecji i 120 w Rzymie), 

staje (grecki stadion - dystans, który można 

staje (grecki stadion - dystans, który można 

przebiec z maksymalna prędkością .

przebiec z maksymalna prędkością .

background image

Z czasem następowała obiektywizacja jednostek 

Z czasem następowała obiektywizacja jednostek 

drogą wprowadzenia średniej długości stopy 

drogą wprowadzenia średniej długości stopy 

lub łokcia pewnej zbiorowości ludzkiej. 

lub łokcia pewnej zbiorowości ludzkiej. 

Wg definicji średniej stopy, autorstwa Jacoba 

Wg definicji średniej stopy, autorstwa Jacoba 

Kobela z 1575 r. należało wyznaczyć średnią z 

Kobela z 1575 r. należało wyznaczyć średnią z 

pomiaru stóp 

pomiaru stóp 

"...16 mężczyzn małych i dużych, wybranych 

"...16 mężczyzn małych i dużych, wybranych 

przypadkowo w kolejności wychodzenia z 

przypadkowo w kolejności wychodzenia z 

kościoła po mszy niedzielnej".

kościoła po mszy niedzielnej".

 

 

Wobec oczywistych wad naturalnych wzorców 

Wobec oczywistych wad naturalnych wzorców 

długości, zachowując nazwy jednostek, 

długości, zachowując nazwy jednostek, 

wprowadzono ich wzorce sztuczne w postaci 

wprowadzono ich wzorce sztuczne w postaci 

odcinków zaznaczonych na ścianach świątyń i 

odcinków zaznaczonych na ścianach świątyń i 

ratuszów lub starannie przechowywanych 

ratuszów lub starannie przechowywanych 

sztabach i prętach. 

sztabach i prętach. 

background image

Jednostki miary

1875 - Podpisanie konwencji metrycznej 

1875 - Podpisanie konwencji metrycznej 

przez 30 państw (zmiany długości względne 

przez 30 państw (zmiany długości względne 

wzorca głównego ±2×10-4 [m]), (

wzorca głównego ±2×10-4 [m]), (

20 maja

20 maja

)

)

1791 - Uchwała Francuskiego Zgromadzenia

1791 - Uchwała Francuskiego Zgromadzenia

Narodowego 

Narodowego 

„Metr jest to dziesięciomilionowa 

„Metr jest to dziesięciomilionowa 

część  ćwiartki południka ziemskiego.”

część  ćwiartki południka ziemskiego.”

1799 - Wzorzec archiwalny – końcowy 

1799 - Wzorzec archiwalny – końcowy 

(platyna) - na podstawie pomiarów południka 

(platyna) - na podstawie pomiarów południka 

(zmiany długości względne wzorca głównego 

(zmiany długości względne wzorca głównego 

±10-5 [m])

±10-5 [m])

background image
background image

Naukowcy zajmujący się Metrologią 

Naukowcy zajmujący się Metrologią 

zawsze próbują zdefiniować jednostki 

zawsze próbują zdefiniować jednostki 

miar ( obecnie np. 

miar ( obecnie np. 

kilogram

kilogram

)

)

 

 

w oparciu 

w oparciu 

o stałe fizyczne  a nie przez artefakty .

o stałe fizyczne  a nie przez artefakty .

Jedną z dróg jest zdefiniowanie  

Jedną z dróg jest zdefiniowanie  

kilograma zgodnie z relatywistyczną 

kilograma zgodnie z relatywistyczną 

teorią 

teorią 

Einstein‘

Einstein‘

a

a

 

 

określającą związek 

określającą związek 

masy z energią

masy z energią

Tak więc  

Tak więc  

kilogram 

kilogram 

może być zdefiniowany przez masę 

może być zdefiniowany przez masę 

określonej liczby fotonów.

określonej liczby fotonów.

background image

Odkrycia XVIII i XIX wieku wprowadziły 

Odkrycia XVIII i XIX wieku wprowadziły 

metrologię w okres nowoczesności i 

metrologię w okres nowoczesności i 

dynamicznego rozwoju. 

dynamicznego rozwoju. 

W 1718 r. gdańszczanin Fahrenheit 

W 1718 r. gdańszczanin Fahrenheit 

skonstruował termometr rtęciowy. 

skonstruował termometr rtęciowy. 

W 1820 r. Oersted zbudował galwanometr, 

W 1820 r. Oersted zbudował galwanometr, 

zapoczątkowując rozwój elektromechanicznych 

zapoczątkowując rozwój elektromechanicznych 

przyrządów pomiarowych oraz metod i technik 

przyrządów pomiarowych oraz metod i technik 

pomiarów wielkości elektrycznych.

pomiarów wielkości elektrycznych.

 

 

Kolejne wynalazki: termoogniwo (1855 r.), 

Kolejne wynalazki: termoogniwo (1855 r.), 

termorezystor (1875 r.), tensometr elektryczny 

termorezystor (1875 r.), tensometr elektryczny 

(lata 20 XX w), umożliwiły przetwarzanie 

(lata 20 XX w), umożliwiły przetwarzanie 

rożnych wielkości nieelektrycznych na sygnały 

rożnych wielkości nieelektrycznych na sygnały 

elektryczne, zapoczątkowując nowy kierunek 

elektryczne, zapoczątkowując nowy kierunek 

metrologii, miernictwo elektryczne wielkości 

metrologii, miernictwo elektryczne wielkości 

nieelektrycznych. 

nieelektrycznych. 

background image

Postępy elektroniki, a zwłaszcza rozwój 

Postępy elektroniki, a zwłaszcza rozwój 

techniki cyfrowej, wprowadziły metrologie 

techniki cyfrowej, wprowadziły metrologie 

w etap cyfrowej techniki pomiarowej,  

w etap cyfrowej techniki pomiarowej,  

zapoczątkowany w końcu lat 50, cechą 

zapoczątkowany w końcu lat 50, cechą 

charakterystyczną tego etapu jest: 

charakterystyczną tego etapu jest: 

kwantyzacja sygnału pomiarowego za pomocą 
przetwornika analogowo-cyfrowego, 

zobrazowanie wyniku pomiaru na cyfrowym 
polu odczytowym (co skróciło czas pomiaru do 
milisekund, a w rozwiązaniach szybkich do 
mikrosekund),

 wyeliminowało błędy subiektywne pomiarów, 

umożliwienie automatyzacji pomiarów i łatwej 
rejestracji wyników. 

background image

Od 1974 r., kiedy to pojawił się na rynku 

Od 1974 r., kiedy to pojawił się na rynku 

mikroprocesor Intel 8080, metrologia weszła 

mikroprocesor Intel 8080, metrologia weszła 

w etap skomputeryzowanej techniki 

w etap skomputeryzowanej techniki 

pomiarowej, cechą charakterystyczną tego 

pomiarowej, cechą charakterystyczną tego 

etapu jest:

etapu jest:

sprzężenie procesów pomiarowych i 

sprzężenie procesów pomiarowych i 

obliczeniowych,

obliczeniowych,

ulepszenie parametrow metrologicznych znanych 

ulepszenie parametrow metrologicznych znanych 

dotąd przyrządów, np. korektę nieliniowości, 

dotąd przyrządów, np. korektę nieliniowości, 

polepszenie dokładności przez wielokrotne 

polepszenie dokładności przez wielokrotne 

powtarzanie pomiarów i ich uśrednienie oraz inne 

powtarzanie pomiarów i ich uśrednienie oraz inne 

rodzaje cyfrowej obróbki sygnałów,

rodzaje cyfrowej obróbki sygnałów,

 

 

organizacje komputerowo wspomaganych 

organizacje komputerowo wspomaganych 

systemów pomiarowych (system pomiarowy jest 

systemów pomiarowych (system pomiarowy jest 

zbiorem przetworników i przyrządów pomiarowych 

zbiorem przetworników i przyrządów pomiarowych 

objętych wspólnym sterowaniem, tworzących 

objętych wspólnym sterowaniem, tworzących 

całość organizacyjną)

całość organizacyjną)

background image

Szczególnie szerokie zastosowanie znalazły 

Szczególnie szerokie zastosowanie znalazły 

systemy o architekturze magistralowej, w której 

systemy o architekturze magistralowej, w której 

przyrządy pomiarowe i inne jednostki 

przyrządy pomiarowe i inne jednostki 

funkcjonalne, w tym komputer sterujący, są 

funkcjonalne, w tym komputer sterujący, są 

podłączone do wspólnej wieloprzewodowej 

podłączone do wspólnej wieloprzewodowej 

magistrali interfejsowej, którą przesyła się 

magistrali interfejsowej, którą przesyła się 

sygnały informacyjne (dane) i rozkazy sterujące. 

sygnały informacyjne (dane) i rozkazy sterujące. 

Opracowano standardy takich interfejsów, np. 

Opracowano standardy takich interfejsów, np. 

IEC-625, VME, VXI. 

IEC-625, VME, VXI. 

Aparatura pomiarowa obecnie produkowana ma 

Aparatura pomiarowa obecnie produkowana ma 

karty sprzęgu ze standardowymi magistralami 

karty sprzęgu ze standardowymi magistralami 

interfejsu, co umożliwia jej prace w systemach, 

interfejsu, co umożliwia jej prace w systemach, 

niezależnie od pracy autonomicznej. 

niezależnie od pracy autonomicznej. 

background image

Obok systemów organizowanych z 

Obok systemów organizowanych z 

konwencjonalnej aparatury, upowszechniają 

konwencjonalnej aparatury, upowszechniają 

się systemy organizowane z przyrządów 

się systemy organizowane z przyrządów 

wykonanych na jednej płycie montażowej 

wykonanych na jednej płycie montażowej 

nazywanej kartą pomiarową.

nazywanej kartą pomiarową.

Systemy takie są bardzo elastyczne i przez 

Systemy takie są bardzo elastyczne i przez 

odpowiedni dobór kart można je łatwo 

odpowiedni dobór kart można je łatwo 

przystosować do różnych zadań pomiarowych, 

przystosować do różnych zadań pomiarowych, 

Na bazie takich kart projektować można tak 

Na bazie takich kart projektować można tak 

zwane wirtualne przyrządy pomiarowe.

zwane wirtualne przyrządy pomiarowe.

 

 

Postępy elektroniki w ostatnich kilku latach 

Postępy elektroniki w ostatnich kilku latach 

wprowadzają metrologie w etap 

wprowadzają metrologie w etap 

mikrosystemów pomiarowych. 

mikrosystemów pomiarowych. 

background image
background image
background image

Informacje o obiekcie

Najczęściej informacje o świecie zewnętrznym 

Najczęściej informacje o świecie zewnętrznym 

człowiek otrzymuje za pośrednictwem 

człowiek otrzymuje za pośrednictwem 

obserwacji i wywoływanych nimi wrażeń. 

obserwacji i wywoływanych nimi wrażeń. 

Zjawiskom będącym przedmiotem obserwacji 

Zjawiskom będącym przedmiotem obserwacji 

towarzyszą zmiany energetyczne (jako 

towarzyszą zmiany energetyczne (jako 

przyczyny lub skutki, które wywołują 

przyczyny lub skutki, które wywołują 

odpowiednie pole zjawiskowe dostępne 

odpowiednie pole zjawiskowe dostępne 

zmysłom obserwatora. 

zmysłom obserwatora. 

background image

Obserwacja

Obserwacje, za pomocą których buduje się 

Obserwacje, za pomocą których buduje się 

obraz świata, są jakościowe, subiektywne i 

obraz świata, są jakościowe, subiektywne i 

niepełne.

niepełne.

Obserwacje dostarczają tylko pośrednio 

Obserwacje dostarczają tylko pośrednio 

informacji o rzeczach i istotach, a 

informacji o rzeczach i istotach, a 

bezpośrednio tylko o zjawiskach przez nie 

bezpośrednio tylko o zjawiskach przez nie 

wywoływanych.

wywoływanych.

Podstawową wadą obserwacji jest jej 

Podstawową wadą obserwacji jest jej 

charakter jakościowy.

charakter jakościowy.

 

 

background image

Pomiar

Pomiary są ilościową oceną zjawisk 

Pomiary są ilościową oceną zjawisk 

zachodzących w otoczeniu człowieka.

zachodzących w otoczeniu człowieka.

Do jego realizacji konieczne jest utworzenie 

Do jego realizacji konieczne jest utworzenie 

wzorców tych zjawisk (lub wytwarzanych przez 

wzorców tych zjawisk (lub wytwarzanych przez 

nie efektów). 

nie efektów). 

Wzorce te powinny być powtarzalne, niezależne 

Wzorce te powinny być powtarzalne, niezależne 

od obserwatora.

od obserwatora.

Pomiar polega na porównaniu mierzonej 

Pomiar polega na porównaniu mierzonej 

wartości ze znaną wartością tej wielkości

wartości ze znaną wartością tej wielkości

   

   

przyjmowaną za jednostkę miary. 

przyjmowaną za jednostkę miary. 

background image

Kontrola

Jeżeli pomiar odpowiada na pytanie 

Jeżeli pomiar odpowiada na pytanie 

„ile”

„ile”

to kontrola odpowiada na pytanie 

to kontrola odpowiada na pytanie 

„tak 

„tak 

czy

 

 

nie”

nie”

, tj. czy dany parametr mieści się w 

, tj. czy dany parametr mieści się w 

określonych granicach, czy obiekt jest 

określonych granicach, czy obiekt jest 

sprawny, czy niesprawny.

sprawny, czy niesprawny.

Każdy pomiar może być wykorzystywany 

Każdy pomiar może być wykorzystywany 

do kontroli, ale nie każda operacja 

do kontroli, ale nie każda operacja 

kontrolna może być uważana za pomiar, 

kontrolna może być uważana za pomiar, 

np. wrażenie smakowe, zapachowe, 

np. wrażenie smakowe, zapachowe, 

estetyczne itp.

estetyczne itp.

background image

Diagnostyka

Diagnostyka jest pojęciem szerszym 

Diagnostyka jest pojęciem szerszym 

niż pomiar 

niż pomiar 

Diagnostyka obejmuje wiele 

Diagnostyka obejmuje wiele 

czynności

czynności

    

    

kontrolnych, a także ustalenie 

kontrolnych, a także ustalenie 

źródła lub przyczyny stwierdzonego 

źródła lub przyczyny stwierdzonego 

stanu badanego obiektu.

stanu badanego obiektu.

background image

ISTOTA POMIARU

Pomiar jest czynnością doświadczalną, 

Pomiar jest czynnością doświadczalną, 

mającą na celu wyznaczenie z odpowiednią 

mającą na celu wyznaczenie z odpowiednią 

dokładnością wartości wielkości mierzonej. 

dokładnością wartości wielkości mierzonej. 

Pomiar jest zespołem działań i doświadczeń 

Pomiar jest zespołem działań i doświadczeń 

obejmujących:

obejmujących:

• 

• 

teoretyczne i praktyczne przygotowanie,

teoretyczne i praktyczne przygotowanie,

• 

• 

techniczną realizację,

techniczną realizację,

• 

• 

opracowanie i interpretację wyników 

opracowanie i interpretację wyników 

pomiarów.

pomiarów.

background image

Pomiar jest zbiorem czynności mającym na celu wyznaczenie 

Pomiar jest zbiorem czynności mającym na celu wyznaczenie 

aktualnej wartości wielkości fizycznej

aktualnej wartości wielkości fizycznej

 

 

(wielkość mierzona = mezurand)

(wielkość mierzona = mezurand)

.

.

background image

Podstawowy aksjomat 

meteorologii:

Nie ma pomiarów bezbłędnych !!!!

Nie ma pomiarów bezbłędnych !!!!

z każdym pomiarem wiąże się błąd, który 

z każdym pomiarem wiąże się błąd, który 

wyraża niezgodność wartości uzyskanej 

wyraża niezgodność wartości uzyskanej 

w wyniku pomiaru z rzeczywistą 

w wyniku pomiaru z rzeczywistą 

wartością wielkości mierzonej.

wartością wielkości mierzonej.

background image

POMIAR

Pomiar to zbiór czynności po wykonaniu, 

Pomiar to zbiór czynności po wykonaniu, 

których możemy stwierdzić, że w danej 

których możemy stwierdzić, że w danej 

chwili w określonych warunkach wielkość 

chwili w określonych warunkach wielkość 

mierzona miała wartość (x) spełniającą 

mierzona miała wartość (x) spełniającą 

następujący warunek: 

następujący warunek: 

    

    

a  ≤  x  ≤  b

a  ≤  x  ≤  b

 

 

W wyniku pomiaru jesteśmy w stanie 

W wyniku pomiaru jesteśmy w stanie 

jedynie wskazać przedział wartości 

jedynie wskazać przedział wartości 

< a,b 

< a,b 

w którym znajduje się faktyczna 

w którym znajduje się faktyczna 

wartość wielkości mierzonej.

wartość wielkości mierzonej.

background image

Podstawowe pojęcia 
metrologiczne

background image

WIELKOŚĆ (

MIERZALNA

)

cecha 

zjawiska, ciała lub substancji, 
którą można wyróżnić 
jakościowo i wyznaczyć 
ilościowo.

PRZYKŁADY 

PRZYKŁADY 

Wielkości w znaczeniu ogólnym: długość, czas, 

Wielkości w znaczeniu ogólnym: długość, czas, 

masa, temperatura, opór elektryczny, stężenie 

masa, temperatura, opór elektryczny, stężenie 

molowe.

molowe.

Wielkości określone: długość danego pręta, opór 

Wielkości określone: długość danego pręta, opór 

elektryczny danej próbki drutu, stężenie ilości 

elektryczny danej próbki drutu, stężenie ilości 

etanolu w danej próbce wina.

etanolu w danej próbce wina.

Wielkości, które można klasyfikować jedne 

Wielkości, które można klasyfikować jedne 

względem drugich w porządku rosnącym (lub 

względem drugich w porządku rosnącym (lub 

malejącym).

malejącym).

Wielkości tego samego rodzaju można grupować 

Wielkości tego samego rodzaju można grupować 

w kategorie wielkości

w kategorie wielkości

na przykład: praca, 

na przykład: praca, 

ciepło, energia, grubość, obwód, długość fali. 

ciepło, energia, grubość, obwód, długość fali. 

background image

WYMIAR WIELKOŚCI

- wyrażenie, 

które reprezentuje wielkość danego 
układu wielkości jako iloczyn potęg 
czynników oznaczających wielkości 
podstawowe tego układu.

PRZYKŁADY

PRZYKŁADY

w układzie, który ma jako wielkości 

w układzie, który ma jako wielkości 

podstawowe długość, masę i czas i których 

podstawowe długość, masę i czas i których 

wymiary są oznaczone odpowiednio przez L, 

wymiary są oznaczone odpowiednio przez L, 

M i T, wymiarem siły jest LMT

M i T, wymiarem siły jest LMT

-2

-2

;

;

w tym samym układzie wielkości ML

w tym samym układzie wielkości ML

-3

-3

 jest 

 jest 

wymiarem stężenia masowego, jak również 

wymiarem stężenia masowego, jak również 

wymiarem gęstości masy.

wymiarem gęstości masy.

Czynnik, który reprezentuje 

Czynnik, który reprezentuje 

wielkość 

wielkość 

podstawową

podstawową

, nazywa się "wymiarem" tej 

, nazywa się "wymiarem" tej 

wielkości podstawowej.

wielkości podstawowej.

background image

JEDNOSTKA (

MIARY

)

wielkość 

określona, zdefiniowana i przyjęta 
umownie, z którą porównuje się inne 
wielkości tego samego rodzaju w celu 
ich ilościowego wyrażania w stosunku 
do tej wielkości przyjętej umownie.

 

Jednostki miar mają umownie nadane 

Jednostki miar mają umownie nadane 

nazwy i oznaczenia.

nazwy i oznaczenia.

Jednostki miar wielkości o tym samym 

Jednostki miar wielkości o tym samym 

wymiarze mogą mieć te same nazwy i 

wymiarze mogą mieć te same nazwy i 

to samo oznaczenie, nawet jeśli te 

to samo oznaczenie, nawet jeśli te 

wielkości nie są tego samego rodzaju.

wielkości nie są tego samego rodzaju.

background image

MIĘDZYNARODOWY UKŁAD 
JEDNOSTEK MIAR (SI)

International System of Units, SI

Układ jednostek miar spójny, przyjęty 

Układ jednostek miar spójny, przyjęty 

i zalecany przez Generalną 

i zalecany przez Generalną 

Konferencję Miar (CGPM). 

Konferencję Miar (CGPM). 

background image

WARTOŚĆ (

WIELKOŚCI

)

wyrażenie ilościowe wielkości 
określonej na ogół w postaci 
iloczynu liczby i jednostki miary.

 

PRZYKŁADY

PRZYKŁADY

długość pręta 5,34 m lub 534 cm; 

długość pręta 5,34 m lub 534 cm; 

masa ciała 0,152 kg lub 152 g;

masa ciała 0,152 kg lub 152 g;

liczność materii próbki wody (H

liczność materii próbki wody (H

2

2

0) 

0) 

0,012 mol lub 12 mmol. 

0,012 mol lub 12 mmol. 

Wartość wielkości może być dodatnia, 

Wartość wielkości może być dodatnia, 

ujemna lub zero

ujemna lub zero

.

.

background image

WARTOŚĆ PRAWDZIWA (

WIELKOŚCI

)

 

wartość zgodna z definicją 
wielkości określonej.

 

 

 

Jest to wartość, jaką uzyskałoby się jako 

Jest to wartość, jaką uzyskałoby się jako 

wynik bezbłędnego pomiaru.

wynik bezbłędnego pomiaru.

Wartości prawdziwe są ze swej natury 

Wartości prawdziwe są ze swej natury 

nieznane.

nieznane.

background image

WARTOŚĆ UMOWNIE PRAWDZIWA 
(

WIELKOŚCI

), WARTOŚĆ POPRAWNA 

(

WIELKOŚCI

)

 

Wartość przypisana wielkości określonej i 

Wartość przypisana wielkości określonej i 

uznana, niekiedy umownie, jako wartość 

uznana, niekiedy umownie, jako wartość 

wyznaczona z niepewnością 

wyznaczona z niepewnością 

akceptowalną w danym zastosowaniu.

akceptowalną w danym zastosowaniu.

Wartość umownie prawdziwa jest niekiedy 

Wartość umownie prawdziwa jest niekiedy 

nazywana wartością przypisaną, 

nazywana wartością przypisaną, 

najlepszym oszacowaniem wartości, 

najlepszym oszacowaniem wartości, 

wartością umowną lub wartością 

wartością umowną lub wartością 

odniesienia.

odniesienia.

background image

METODA POMIAROWA

 logiczny 

ciąg wykonywanych podczas 
pomiaru operacji, opisanych w 
sposób ogólny.

 

Metody pomiarowe mogą być określane 

Metody pomiarowe mogą być określane 

w różny sposób, na przykład:

w różny sposób, na przykład:

metoda podstawienia;

metoda podstawienia;

metoda różnicowa; 

metoda różnicowa; 

metoda zerowa.

metoda zerowa.

 

 

background image

ZASADA POMIARU-

 naukowa 

podstawa pomiaru.

PRZYKŁADY

PRZYKŁADY

zjawisko termoelektryczne wykorzystane 

zjawisko termoelektryczne wykorzystane 

do pomiaru temperatury;

do pomiaru temperatury;

zjawisko Josephsona wykorzystane do 

zjawisko Josephsona wykorzystane do 

pomiaru napięcia elektrycznego; 

pomiaru napięcia elektrycznego; 

zjawisko Dopplera wykorzystane do 

zjawisko Dopplera wykorzystane do 

pomiaru prędkości;

pomiaru prędkości;

zjawisko Ramana wykorzystane do pomiaru 

zjawisko Ramana wykorzystane do pomiaru 

liczby falowej drgań molekularnych. 

liczby falowej drgań molekularnych. 

background image

PROCEDURA POMIAROWA-

 zbiór 

operacji opisanych w sposób 
szczegółowy i realizowanych 
podczas wykonywania pomiarów 
zgodnie z daną metodą.

 

Procedura pomiarowa jest zazwyczaj 

Procedura pomiarowa jest zazwyczaj 

opisana w dokumencie, który sam nosi 

opisana w dokumencie, który sam nosi 

nazwę "procedura pomiarowa" (albo 

nazwę "procedura pomiarowa" (albo 

"metoda pomiarowa") i który jest 

"metoda pomiarowa") i który jest 

wystarczająco szczegółowy, aby 

wystarczająco szczegółowy, aby 

operator mógł przeprowadzić pomiar 

operator mógł przeprowadzić pomiar 

bez potrzeby dodatkowych informacji. 

bez potrzeby dodatkowych informacji. 

background image

WIELKOŚĆ MIERZONA 

  

(measurand)

wielkość określona, stanowiąca 
przedmiot pomiaru
.

 

PRZYKŁAD

PRZYKŁAD

Ciśnienie pary wodnej próbki wody przy 20°C.

Ciśnienie pary wodnej próbki wody przy 20°C.

Średnica pręta,  jego długość itp.

Średnica pręta,  jego długość itp.

Określenie wielkości mierzonej może 

Określenie wielkości mierzonej może 

wymagać wskazania innych wielkości, 

wymagać wskazania innych wielkości, 

takich jak czas, temperatura i ciśnienie

takich jak czas, temperatura i ciśnienie

.

.

 

 

background image

WIELKOŚĆ WPŁYWAJĄCA 

wielkość nie będąca wielkością 
mierzoną, która ma jednak 
wpływ na wynik pomiaru.

 

PRZYKŁADY

PRZYKŁADY

temperatura mikrometru podczas pomiaru 

temperatura mikrometru podczas pomiaru 

długości;

długości;

częstotliwość podczas pomiaru amplitudy 

częstotliwość podczas pomiaru amplitudy 

przemiennego napięcia elektrycznego;

przemiennego napięcia elektrycznego;

stężenie bilirubiny podczas pomiaru 

stężenie bilirubiny podczas pomiaru 

stężenia hemoglobiny w próbce plazmy 

stężenia hemoglobiny w próbce plazmy 

krwi ludzkiej 

krwi ludzkiej 

background image

WYNIK POMIARU

 - wartość 

przypisana wielkości mierzonej, 
uzyskana drogą pomiaru.

 

Gdy podaje się wynik, należy wyraźnie 

Gdy podaje się wynik, należy wyraźnie 

zaznaczyć, czy dotyczy on:

zaznaczyć, czy dotyczy on:

- wskazania wyniku surowego

- wskazania wyniku surowego

- wyniku poprawionego i czy jest średnią 

- wyniku poprawionego i czy jest średnią 

uzyskaną z wielu obserwacji.

uzyskaną z wielu obserwacji.

Całkowite wyrażenie wyniku pomiaru zawiera 

Całkowite wyrażenie wyniku pomiaru zawiera 

dane dotyczące niepewności pomiaru 

dane dotyczące niepewności pomiaru 

background image

WSKAZANIE (

PRZYRZĄDU 

POMIAROWEGO

)

 

- wartość wielkości podawana jest 
przez przyrząd pomiarowy.

Wartość odczytana na urządzeniu 

Wartość odczytana na urządzeniu 

wskazującym może być nazywana 

wskazującym może być nazywana 

wskazaniem bezpośrednim, należy ją 

wskazaniem bezpośrednim, należy ją 

pomnożyć przez stałą przyrządu w celu 

pomnożyć przez stałą przyrządu w celu 

uzyskania wskazania.

uzyskania wskazania.

Wielkością może być wartość mierzona, 

Wielkością może być wartość mierzona, 

sygnał pomiarowy lub inna wielkość 

sygnał pomiarowy lub inna wielkość 

zastosowana do określenia wartości 

zastosowana do określenia wartości 

wielkości mierzonej.

wielkości mierzonej.

Wskazanie wzorca miary stanowi przypisana 

Wskazanie wzorca miary stanowi przypisana 

mu wartość.

mu wartość.

background image

WYNIK SUROWY-

 wynik 

pomiaru przed korektą błędu 
systematycznego.

WYNIK POPRAWIONY

 - wynik 

pomiaru po korekcji błędu 
systematycznego.

DOKŁADNOŚĆ POMIARU

 - 

stopień zgodności wyniku 
pomiaru z wartością rzeczywistą 
wielkości mierzonej.

background image

POWTARZALNOŚĆ (

WYNIKÓW 

POMIARÓW

)

 - stopień zgodności 

wyników kolejnych pomiarów tej 
samej wielkości mierzonej, 
wykonywanych w tych samych 
warunkach pomiarowych.

Warunki powtarzalności obejmują:

Warunki powtarzalności obejmują:

 

 

- tę samą procedurę pomiarową i tego samego 

- tę samą procedurę pomiarową i tego samego 

obserwatora,

obserwatora,

- ten sam przyrząd pomiarowy stosowany w tych 

- ten sam przyrząd pomiarowy stosowany w tych 

samych warunkach i to samo miejsce,

samych warunkach i to samo miejsce,

- powtarzanie pomiaru w krótkich odstępach 

- powtarzanie pomiaru w krótkich odstępach 

czasu.

czasu.

Powtarzalność można wyrażać ilościowo za 

Powtarzalność można wyrażać ilościowo za 

pomocą charakterystyk rozrzutu wyników

pomocą charakterystyk rozrzutu wyników

 

 

background image

ODTWARZALNOŚĆ (

WYNIKÓW 

POMIARÓW

)-

 stopień zgodności 

wyników pomiarów tej samej 
wielkości mierzonej, 
wykonywanych w zmienionych 
warunkach pomiarowych.

Warunki podlegające zmianom mogą 

Warunki podlegające zmianom mogą 

obejmować: 

obejmować: 

       

       

zasadę pomiaru, metodę pomiaru, 

zasadę pomiaru, metodę pomiaru, 

obserwatora, przyrząd pomiarowy,  etalon 

obserwatora, przyrząd pomiarowy,  etalon 

odniesienia, miejsce, warunki stosowania, 

odniesienia, miejsce, warunki stosowania, 

czas

czas

.

.

Odtwarzalność można wyrażać ilościowo za 

Odtwarzalność można wyrażać ilościowo za 

pomocą charakterystyk rozrzutu wyników 

pomocą charakterystyk rozrzutu wyników 

background image

NIEPEWNOŚĆ POMIARU

 

parametr, związany z wynikiem 
pomiaru, charakteryzujący rozrzut 
wartości, które można w 
uzasadniony sposób przypisać 
wielkości mierzonej.

 

Parametrem może być na przykład odchylenie 

Parametrem może być na przykład odchylenie 

standardowe albo połowa szerokości 

standardowe albo połowa szerokości 

przedziału odpowiadającego określonemu 

przedziału odpowiadającego określonemu 

poziomowi ufności.

poziomowi ufności.

Przyjmuje się, ze wynik pomiaru stanowi 

Przyjmuje się, ze wynik pomiaru stanowi 

najlepsze oszacowanie wartości wielkości 

najlepsze oszacowanie wartości wielkości 

mierzonej i że wszystkie składniki niepewności, 

mierzonej i że wszystkie składniki niepewności, 

włącznie z tymi, które pochodzą od efektów 

włącznie z tymi, które pochodzą od efektów 

systematycznych, jak na przykład składniki 

systematycznych, jak na przykład składniki 

związane z poprawkami lub z etalonami 

związane z poprawkami lub z etalonami 

odniesienia, wnoszą swój udział do rozrzutu.

odniesienia, wnoszą swój udział do rozrzutu.

background image

BŁĄD POMIARU 

- różnica 

miedzy wynikiem pomiaru a 
wartością prawdziwą wielkości 
mierzonej.

Ponieważ wartość prawdziwa nie może 

Ponieważ wartość prawdziwa nie może 

być określona, stosuje się w praktyce 

być określona, stosuje się w praktyce 

wartość umownie prawdziwą.

wartość umownie prawdziwą.

Jeżeli trzeba rozróżniać między 

Jeżeli trzeba rozróżniać między 

"błędem"

"błędem"

 

 

"błędem względnym"

"błędem względnym"

,

,

 to pierwszy 

 to pierwszy 

bywa niekiedy nazywany "

bywa niekiedy nazywany "

błędem 

błędem 

bezwzględnym pomiaru

bezwzględnym pomiaru

". Nie należy go 

". Nie należy go 

mylić z 

mylić z 

wartością bezwzględną błędu

wartością bezwzględną błędu

która jest modułem błędu.

która jest modułem błędu.

background image

BŁĄD WZGLĘDNY

stosunek błędu 

pomiaru do wartości prawdziwej 
wielkości mierzonej.

BŁĄD PRZYPADKOWY

-

 różnica 

między wynikiem pomiaru a 
średnią z nieskończonej liczby 
wyników pomiarów tej samej 
wielkości mierzonej, wykonanych w 
warunkach powtarzalności.

 

BŁĄD SYSTEMATYCZNY

-

 różnica 

między średnią z nieskończonej 
liczby wyników pomiarów tej samej 
wielkości mierzonej, wykonanych w 
warunkach powtarzalności, a 
wartością prawdziwą wielkości 
mierzonej.

 


Document Outline