 
1
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Elektrochemia w Mikrosystemach
(na prawach rękopisu)
 
2
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Przeniesienie atomu
HCl (g) + H
2
O (l)  Cl
-
(aq) + H
3
O
+
(aq)
Przeniesienie elektronu
Cu(s) + 2 Ag
+
(aq)  Cu
2+
(aq) + 2 Ag(s)
Utrata elektronów
=
U
TLENIANIE
Pobieranie elektronów
=
R
EDUKCJA
- 2 e-
2 x +1 e-
 
3
Elektrochemia w Mikrosystemach
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia
zajmuje się współzależnością pomiędzy procesami
chemicznymi a zjawiskami elektrycznymi, przemianą energii 
reakcji chemicznych w energię elektryczną i przemianą 
odwrotną.
  wykonywania pomiarów chemicznych
  prowadzenia chemicznych reakcji
  otrzymywanie prądu elektrycznego w wyniku  reakcji chemicznych
Układ elektrochemiczny
składa się z:
  elektrolitu
  półogniw (elektrod)
  klucza elektrolitycznego
  przewodnika elektronów
Ogniwa - Ogniwa paliwowe, Baterie, Korozja
Elektroliza – Elektroosadzanie, Rafinacja
Energia elektryczna
Sygnał elektryczny
Elektroliza
Energia chemiczna
Reakcja chemiczna
Ogniwa
Energia elektryczna
Sygnał elektryczny
Elektroliza
Energia chemiczna
Reakcja chemiczna
Ogniwa
 
4
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
W układzie elektrochemicznym, dwie reakcje połówkowe zachodzą 
w dwóch oddzielnych obszarach nazywanych 
półogniwami.
 1 półogniwo - reakcja utleniania
 1 półogniwo - reakcja redukcji
Każde półogniwo zawiera:
elektrolit
 elektrodę
Elektrody dwóch półogniw połączone są
 zewnętrznym przewodnikiem
(metal)
 klucz elektrolityczny
łączy roztwory elektrolitów
• przewodnik jonowy, którego składniki nie reagują z żadnym ze
składników ogniwa galwanicznego
– NaNO
3
• zamyka obwód elektryczny
Zn
Zn
2+
jony
Cu
Cu
2+
jony
Klucz 
elektrolityczny
elektrony
 
5
Metody elektrochemiczne
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrodą (półogniwem) w elektrochemii nazywamy układ złożony z dwóch faz
przewodzących, z których jedną jest metal lub inny stały przewodnik, a drugą jest elektrolit.
Potencjał elektrody jest ściśle związany z powstawaniem podwójnej warstwy elektrycznej
na granicy faz elektroda elektrolit.
NEW//badane półogniwo
SEM=E
P
-E
L
m
o
c
log
n
V
059
,
0
E
E
c
m.
– stężenie molowe (+) kationu w półogniwie pierwszego
rodzaju, lub
c
m.
– stężenie molowe (-) anionu w półogniwie odwracalnym
względem anionu w półogniwie drugiego rodzaju.
 
6
Metody elektrochemiczne
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Przewodniki szybkich jonów – fast ion conductors,
Przewodniki superjonowe – superionic conductors,
Elektrolity stałe – solid electrolytes
s.e.
st.sole
c.e.
s.e.
st.sole
c.e.
Dla przewodników superjonowych w 
T<<T
top
.
1
-1
cm
-1
E
a
0,1eV
u = 10
-7
10
-4
cm
2
/Vs n = 10
22
cm
-3
 
7
Metody elektrochemiczne
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
 Ag
+
przewodnik jonowy
– AgJ & RbAg
4
J
5
 Na
+
przewodnik jonowy
– sodowa -Alumina (i.e. NaAl
11
O
17
, Na
2
Al
16
O
25
)
– NASICON (Na
3
Zr
2
PSi
2
O
12
)
 Li
+
przewodnik jonowy
– LiCoO
2
, LiNiO
2
– LiMnO
2
 O
2-
przewodnik jonowy
– stabilizowany ZrO
2
(Y
x
Zr
1-x
O
2-x/2
, Ca
x
Zr
1-x
O
2-x
)
– -Bi
2
O
3
– perowskity (Ba
2
In
2
O
5
, La
1-x
Ca
x
MnO
3-y
, …)
 F
-
przewodnik jonowy
– PbF
2
& AF
2
(A = Ba, Sr, Ca)
Stosowane w:
 ogniwach paliwowych
 czujnikach
 ogniwach galwanicznych
Stosowane w:
 ogniwach paliwowych
 czujnikach
 ogniwach galwanicznych
 
8
Elektrochemia w Mikrosystemach
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Kinetyka procesów elektrochemicznych zależy od:
 rodzaju elektrod
 rodzaju elektrolitu
- trawienie w HF lub KOH
- utlenianie anodowe np. w glikolu etylenowy + NaNO
3
- krzem porowaty w HF+alkohol
 temperatura
 wartość polaryzacji
 oświetlenie
 
9
Elektrochemia w Mikrosystemach
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Procesy elektrochemiczne w mikrosystemach
wykorzystuje się:
w trawieniu elektrochemicznym
 w procesie łączenia krzem - szkło
 jako źródła energii
 w procesie elektroplaterowania
 w analizie elektrochemicznej (sensory)
 utlenianie anodowe
 
10
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Kontrolowanie absolutnej głębokości trawienia jest
często 
    bardzo trudne, szczególnie gdy trawienie zachodzi 
prawie 
    na całą grubość płytki
 „Stop” warstwy mogą być stosowane do 
drastycznego 
     spowolnienia szybkości trawienia, ustalając z dużą 
    dokładnością punkt stopowania
 Domieszkowanie borem 
 Trawienie elektrochemiczne złącza p-n
>10µm
Si (100)
Si (100)
p-typ
1-10µm
typ n 
(epitaksj
a)
Si (100)
0,5-5µm
p
++
Si (100)
>10µm
SiO
2
Si
 
11
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
+ -
V
i
elektrolit
HF+H
2
O
płytka Si
elektroda Pt
Si+4h
+
+2OH
-
Si(OH)
2
2+
 
12
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Trawi się 
typ n oraz p
Tlenek
rośnie 
na n
Tlenek
rośnie
na p
Trawi
się p
PP(n)
PP(p)
Napięcie
P
rą
d
OCP
(SEM) (i
= 0A)
 
13
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
HF normalnie trawi SiO
2
, a nie trawi krzemu,
 Polaryzując dodatnio Si, można wstrzykiwać dziury
   przez zewnętrzny obwód, który będzie utleniał krzem do
  wodorotlenku, który może być rozpuszczany w HF.
 Tak można idealnie gładko trawić wobec bardzo dobrych
   masek np. Si
3
N
4
 Jeśli trawienie przebiega w bardzo stężonym HF 
  (48%HF i 98%EtOH), wtedy krzem nie utlenia się w pełni
   i tworzy się porowaty krzem, który powoduje, 
  że powierzchnia staje się brązowa.
 
14
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Przy wzroście potencjału płytki powyżej OCP
   wzrasta szybkość trawienia przez dostarczanie dziur,
   które utleniają krzem,
 Dalszy wzrost potencjału płytki spowoduje osiągnięcie 
   potencjału pasywacji i powstawanie SiO
2
,
- pasywacja powierzchni kończy proces trawienia,
- w roztworze HF/H
2
O nie osiągamy punktu PP,
ponieważ SiO
2
rozpuszcza się w HF
 
15
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
48%HF i 98%C
2
H
5
OH
Si
(surf)
+6F
-
+4h
+
SiF
6
-
 
16
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
 
17
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
podłoże Si
osadzanie SiO
2
200
nm
Polerowanie 
i czyszczenie
Nanoszenie 
fotorezystu
AZ 4562
 Suche trawienie
 Drążenie laserowe
 Trawienie elektrochemiczne
Si-typ n
Si-typ p
kontakty 
Al
Au (napylane)  
     
Au 
(elektroosadzan
ie)       
kontakt
Schottkiego       
 
18
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Suche trawienie
Substancja trawiąca: SF
6
Pokrycie maski: C
4
F
8
Po 100 min. suchego trawienia
• dziury o średnicy 10 µm
            i 
• 130 µm głębokości
 
19
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Laserowe drążenie
Krzem
• dziury o średnicy: wejściowa 
10 µm., 
   wyjściowa 6 µm
• 200 µm głębokości
GaAs
• dziury o średnicy: 10 
µm., 
• 300 - 500 µm 
głębokości
SiC
• dziury o średnicy: 6 
µm., 
• 300 µm głębokości
 
20
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Elektrochemiczne trawienie
 standardowa 
fotolitografia 
   - utworzenie maski 
na  
    powierzchni podłoża
 wytrawienie 
dołeczków 
    w gorącym KOH
roztwarzanie w 
kwasie 
fluorowodorowym z 
fotogeneracją dziur 
 
21
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
 Suche 
trawienie
 Drążenie 
laserowe
 Trawienie  
   
elektrochemiczn
e 
Zalety
Standardowa 
   fotolitografia
 Bez fotolitografii,
   Każdy materiał,
   Dobry stos. 
głębokości
  do średnicy (>25:1)
 Dobry stos. 
głębokości
   do średnicy 
(>20:1),
   Nie uszkodzone 
boczne
   ściany
Wady
 Uszkodzone boczne
   ściany,
   Ograniczony stos.     
   Głębokości do średnicy 
(10:1),
   tylko Si lub GaAs
 Długi czas dla dużych 
pól,
   Uszkodzone boczne
   ściany, 
   Zmienna średnica,
  Zła powtarzalność
 tylko Si (GaAs i SiC ???)
   Fotolitografia złożona
Czas
 1 µm/min.
 1 dziura/3-5 
sec. 
 1 µm/min.
 
22
Elektrochemia w Mikrosystemach
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Procesy elektrochemiczne w
mikrosystemach wykorzystuje się:
 w trawieniu elektrochemicznym
 w procesie łączenia krzem - szkło
 
w procesie elektroplaterowania
jako źródła energii
 w analizie elektrochemicznej (sensory)
 
23
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Elektroliza
- proces polegający na przepływie przez przewodnik jonowy prądu
elektrycznego z zewnętrznego źródła prądu, czemu towarzysza reakcje chemiczne 
na granicy faz przewodnik elektronowy/przewodnik jonowy
Prawo elektrolizy Faradaya -
masa substancji wydzielonej
podczas elektrolizy 
na elektrodzie jest wprost proporcjonalna do ilości ładunku który 
przepłynął przez 
roztwór elektrolitu.
t
i
nF
M
t
i
k
m
t
i
nF
M
t
i
k
m
 
24
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Na katodzie zachodzi proces redukcji, a na anodzie proces utleniania!!!
Elektrodę uważa się za spolaryzowaną katodowo, gdy jej potencjał jest niższy od 
równowagowego (η<0).
Elektrodę uważa się za spolaryzowaną anodowo, gdy jej potencjał jest wyższy od 
równowagowego (η>0).
SEM – siła elektromotoryczna układu,
iR – spadek potencjału na omowym oporze elektrolitu,
η
a
– nadpotencjał anodowy,
η
k
– nadpotencjał katodowy.
k
a
rozk
iR
SEM
E
k
a
rozk
iR
SEM
E
 
25
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Ważniejsze parametry procesów galwanicznych:
 gęstość prądu,
 stężenie elektrolitu,
 temperatura,
 mieszanie kąpieli,
 substancje powierzchniowo czynne,
 rodzaj elektrolitu,
 metal elektrody.
Własności warstw galwanicznych:
 przyczepność,
 twardość, 
 ścieralność,
 naprężenia własne,
 przewodność elektryczna.
 
26
Elektroliza
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
2
4
2
2
2
2
2
2
2
2
4
2
O
H
2
O
H
2
:
e
sumaryczni
e
4
O
H
2
O
OH
4
:
A
OH
2
H
e
2
O
H
2
:
K
NaOH
O
H
2
O
H
2
:
e
sumaryczni
e
4
H
4
O
O
H
2
:
A
H
2
e
4
H
4
:
K
SO
H
O
H
2
O
H
2
:
e
sumaryczni
e
4
H
4
O
O
H
2
:
A
OH
2
H
e
2
O
H
2
:
K
SO
Na
NaOH
2
Cl
H
O
H
2
NaCl
2
:
e
sumaryczni
e
2
Cl
Cl
2
:
A
OH
2
H
e
2
O
H
2
:
K
NaCl
SO
H
2
O
Cu
2
O
H
2
CuSO
:
e
sumaryczni
e
4
H
4
O
O
H
2
:
A
Cu
e
2
Cu
:
K
CuSO
Cl
Cu
CuCl
:
e
sumaryczni
e
2
Cl
Cl
2
:
A
Cu
e
2
Cu
:
K
CuCl
2
2
2
2
2
2
4
2
2
2
4
2
2
2
4
2
2
2
2
2
 
27
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
rok
p
ro
c
e
n
to
w
y
w
zr
o
st
motoryzacja
niemotoryzacyjne
inżynieria materiałowa
NIKIEL
 
28
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
+
anoda
(roztwarzanie)
-
katoda
(osadzanie)
e
2
Ni
Ni
2
)
aq
(
)
s
(
)
s
(
2
)
aq
(
Ni
e
2
Ni
linie pola elektrycznego
 
29
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Typy kąpieli do niklowania:
• typu Wattsa
*siarczan niklu (II) 250g/l
*chlorek niklu (II) 30g/l
*kwas borny  40g/l
*T=45°C, j=1-4A/dm2, V=1-4V, pH=3-6 
stosunek anody do katody nie mniejszy niż 1:1,
mieszanie powietrzem.
•typu KG-67
*siarczan niklu (II) 250-350 g/l
*chlorek niklu (II) 30-60 g/l
siarczan sodowy bezw. 20-40g/l
*kwas borny  30-40g/l
*środek blaskotwórczy 12-15ml/l
*T=45°C, j=3-10A/dm2, V=1-4V, pH=3,5-4,2 
stosunek anody do katody nie mniejszy niż 1:1,
mieszanie powietrzem.
• Amidosulfonianowe
*aminosulfonian sodowy 300-600g/l
*chlorek niklu (II) 5-31g/l
*kwas borowy 31-40 g/l
• Fluoroboranowe
*fluoroboran niklu (II) 300g/l
*kwas borowy 30 g/l,
* T=35-75°C, j=2-20A/dm2, pH=2,7-3,5, 
   ciągła filtracja
    roztwór agresywny!!! 
 
30
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
Czynnik wzrastający
Stężenie
Własności powłok
j
[A/cm
2
] pH
T miesz. Ni
2+
Cl
-
H
3
BO
3
blaskotwór
.
wygładzają
ce
zwilżające zanieczy.
metal.
Wygładzanie
0
+
+
?
?
+
+
Wgłębność
-
-
-
+
+
?
-
Plastyczność
+
+
0
0
-
+
-
-
+
+
Naprężenia
+
-
0
+
-
0
-
+
Twardość
+
-
0
-
+
-
+
+
0
-
Wytrzymałość na
rozciąganie
+
-
0
0
+
-
+
+
+
-
Porowatość
0
0
0
-
0
0
0
-
-
-
+
Chropowatość
+
0
0
+
0
0
0
-
-
-
+
Połysk
+
0
+
0
0
0
0
+
+
+
Wielkość kryształów
-
0
+
0
0
0
0
-
-
-
+
Wzrost + Zmniejszenie - Wątpliwy  Brak wpływu 0
 
31
Helena Teterycz
Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Elektrochemia w Mikrosystemach
 Nikiel-Kobalt - pokrycia stopowe, łatwe w otrzymywaniu, bardzo dobre parametry 
  w podwyższonych temperaturach (35% Co), elektroformowanie
 Nikiel-Żelazo - nie dekoracyjne pokrycia, zawierające 20% Fe są używane do produkcji 
    pamięci
 Nikiel-Mangan, mała ilość Mn współosadzanego z Ni poprawia wysokotemperaturowe
   przewodnictwo  
 Pallad-Nikiel i Pallad-Kobalt substytuty złota i palladu w pokryciach i jako komponenty 
   w elementach elektronicznych
 Cyna-Nikiel, stary proces na nowo stosowany jako substytut zamiast dekoracyjnych 
    pokryć chromowych
 Nikiel-Fosfor, pokrycia elektrolityczne
 Cynk-Nikiel, pokrycie zawierające 10-12 % niklu lepiej zabezpiecza przed korozją, 
   głównie stosowany w zabezpieczeniach różnych elementów samochodowych
 
Utlenianie anodowe
Si
tlenek
elektrolit
 
Utlenianie
anodowe
0
10
20
30
40
50
60
70
80
0
20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
220
240
N
ap
ię
ci
e
[V
]
Czas [min]
stęż. HNO
3
0,25M. K
2
SO
4
stęż. H
3
PO
4
N-metyloacetamid+0,04M.KNO
3
(NMA) (CH
3
CONHCH
3
)
Zmiany potencjału w czasie podczas anodowego utleniania krzemu
przy stałym natężeniu prądu 6-8mA/cm
2
 
Utlenianie anodowe
100
150
200
250
300
350
400
40
60
80
100
120
140
160
180
200
220
240
i=3-6 mA/cm
2
N-metyloacetamid+0,04M.KNO
3
(NMA) (CH
3
CONHCH
3
)
G
ru
b
o
ść
S
iO
2
[
n
m
]
Napięcie [V]
glikol etylenowy+0,04M.KNO
3
(CH
2
OHCH
2
OH)
 
Utlenianie anodowe
0
2
4
6
8
10
0
1
2
3
4
5
glikol etylenowy+0,04M.KNO
3
(CH
2
OHCH
2
OH)
i=3-6 mA/cm
2
N-metyloacetamid+0,04M.KNO
3
(NMA) (CH
3
CONHCH
3
)
w
yd
aj
n
o
ść
p
rą
d
o
w
a
[%
]
zawartość H
2
O [%]
 
Utlenianie anodowe
0
2
4
6
8 10 12 14 16 18 20 22 24 26 28 30
0,1
1
10
termiczny
anodowy
[O
H
-
]x
10
20
[
cm
-3
]
Odległość od granicy Si/SiO
2
[nm]
Zależność koncentracji grup hydroksylowych od rodzaju tlenku.
Tlenek anodowy otrzymano w bezwodnym alkoholu tetrafurfurylowym
zawierającym 0,25 M. KNO
3
przy 10 mA/cm
2