Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych

TECHNIKA INFORMACYJNO-

POMIAROWA

kierunek:

Informatyka  DI F1

rok akademicki:

2012/2013

sem. letni

Technika Informacyjno -

Pomiarowa

•

Wykład 30 h

• Laboratorium

15 h

Prowadzący wykład:

dr inż. Barbara Wilk

Prowadzący laboratorium:

dr inż. Barbara Wilk

dr inż. Anna Szlachta

205 w bud. A

Wykłady

•

Teoria pomiaru. Jednostki, wzorce, skale pomiarowe.

Pomiar a informacja.

•

Sygnały pomiarowe i ich klasyfikacja, pomiary

parametrów i funkcjonałów sygnału.

•

Przetwarzanie analogowo-cyfrowe (próbkowanie,

kwantowanie, przetworniki A/C oraz C/A).

•

Definicje błędów.

Metody wyrażania i estymacji niepewności.

•

Podstawowe metody pomiarowe.

Pomiary: napięcia i natężenia prądu stałego, napięcia

zmiennego, częstotliwości i interwału czasu, rezystancji,

impedancji.

•

Sensory, przetworniki i przyrządy pomiarowe, systemy

pomiarowe.

•

Właściwości statyczne i dynamiczne przyrządów i

przetworników pomiarowych.

Warunki zaliczenia przedmiotu:

Laboratorium - zaliczenie
•

wykonanie i zaliczenie wszystkich ćwiczeń

laboratoryjnych

•

pomiar kontrolny (5min. zadanie pomiarowe)

Wykład – kolokwium pisemne w dn. 07.06.2013

(5 pytań teoretycznych/zadania)

Ocena końcowa z przedmiotu:

średnia

arytmetyczna

UWAGA

zajęcia można odrobić z inną grupą w przypadku usprawiedliwionej

nieobecności (max 4 osoby w zespole)

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych

TECHNIKA INFORMACYJNO-

POMIAROWA

LABORATORIUM

kierunek:

Informatyka  DI F1

rok akademicki:

2012/2013

sem. letni

Wykaz ćwiczeń laboratoryjnych

1.

Sprawdzanie przyrządów pomiarowych
Współpraca przyrządów pomiarowych z komputerem

2.

Podstawowe przyrządy pomiarowe

3.

Zasady opracowywania wyników pomiarów

4.

Wybrane metody pomiarowe (cz. I)

5.

Wybrane metody pomiarowe (cz. II)

6.

Pomiary parametrów i funkcjonałów sygnałów
pomiarowych
Podstawy cyfrowego przetwarzania sygnałów
pomiarowych

7.

Badanie właściwości statycznych i dynamicznych
wybranych przetworników pomiarowych

Zasady pracy w Laboratorium

•

Odzież wierzchnią należy pozostawić w

szatni

,

a plecaki i teczki na miejscu do tego przeznaczonym

(tj. w szafce znajdującej się przed laboratorium)

• Przestrzegać przepisów zawartych w „Instrukcjach

BHP”

•

Włączenie układu pomiarowego może nastąpić dopiero po

uprzednim sprawdzeniu go przez prowadzącego zajęcia

•

Student powinien na zajęcia przynieść:

-

formularz do ćwiczeń

(lub papier kancelaryjny)

-

kalkulator

•

zabrania się uruchamiania aplikacji nie związanych

z wykonywanym ćwiczeniem

Podstawowe przyrządy pomiarowe

•

zasilacz

•

generator funkcyjny

•

woltomierz cyfrowy

•

oscyloskop elektroniczny

Ćwiczenie nr 2

Oscyloskop elektroniczny

l

X

1 dz

U

pp

=

l

Y

* C

Y

U

max

=U

p

+

=U

pp

/2

U=

U

max

/

T =

l

X

* C

X

f=1/T

1 dz

l

Y

2

Ćwiczenie nr 1

• Współpraca przyrządów pomiarowych z komputerem (RS
232C)

• Sprawdzanie omomierza cyfrowego za pomocą rezystora
wzorcowego

• Zasada pomiaru rezystancji R

x

w omomierzu cyfrowym

V

000

I = const

R

x

Liczbowe miary błędów – podstawowe

definicje

•

Błąd
bezwzględny

•

Poprawka

•

Błąd względny

X

p







X

m

– wartość mierzona

p

m

X

X

X 





X

p

- wartość poprawna

[%]

100

X

p

X

X









X

p







MULTIMETR CYFROWY

Błąd podstawowy

podawany przez producenta:

•

Składowa

a

(dawniej : błąd analogowy)

a

= ± .... w % wartości mierzonej

•

Składowa

b

(dawniej: błąd dyskretyzacji)

b

= ± .... w % zakresu pomiarowego

Maksymalny błąd dopuszczalny multimetru cyfrowego:

]

[

100

]

100

100

[

m

n

m

X

n

m

X

X

X

b

a

X

X

b

X

a





























Wartość
mierzon
a

Zakres
pomiarow
y

•

zazwyczaj

b

wyrażane jest w postaci

± ... liczba cyfr

• rozdzielczość przyrządu

na wybranym zakresie

pomiarowym odpowiada 1 cyfrze na najmniej
znaczącej pozycji wyświetlacza

•

często

b

jest większe niż rozdzielczość

przyrządu

 

Przykład

Zmierzona wartość rezystancji:

R

x

=

190,46 

Zakres pomiarowy:

R

n

=

200 

a:

0,2

b:

± 5 cyfry

rozdzielczość

na tym zakresie wynosi:

0,01 

(opowiada zmianie o 1 cyfrę na najmniej znaczącej pozycji na
wyświetlaczu)

zmianie

o

± 5 cyfr

odpowiada rezystancja:

5 *

0,01



[%]

100

200

01

,

0

5







b

Następnie należy obliczyć

względny błąd



Rx = …

%

bezwzględny błąd



Rx = …



oraz podać zaokrąglony wynik końcowy

(R

x

 

Rx

)