Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych

TECHNIKA INFORMACYJNO-

POMIAROWA  

kierunek: 

Informatyka   DI F1 

rok akademicki:  

2012/2013

sem. letni

 

 

Technika Informacyjno - 

Pomiarowa

•

Wykład  30 h

• Laboratorium 

15 h

Prowadzący wykład: 

 

dr inż. Barbara Wilk

Prowadzący laboratorium:   

dr inż. Barbara Wilk

 

dr inż. Anna Szlachta

  
  205 w bud. A

 

 

Wykłady

•

Teoria pomiaru. Jednostki, wzorce, skale pomiarowe. 

Pomiar a informacja. 

•

Sygnały pomiarowe i ich klasyfikacja, pomiary 

parametrów i funkcjonałów sygnału. 

•

Przetwarzanie analogowo-cyfrowe (próbkowanie, 

kwantowanie, przetworniki A/C oraz C/A).

•

Definicje błędów.

Metody wyrażania i estymacji niepewności. 

•

Podstawowe metody pomiarowe. 

Pomiary: napięcia i natężenia prądu stałego, napięcia 

zmiennego, częstotliwości i interwału czasu,  rezystancji, 

impedancji.

•

Sensory, przetworniki i przyrządy pomiarowe, systemy 

pomiarowe.

•

Właściwości statyczne i dynamiczne przyrządów i 

przetworników pomiarowych.

 

 

 

Warunki zaliczenia przedmiotu:

Laboratorium - zaliczenie
•

wykonanie i zaliczenie wszystkich ćwiczeń 

laboratoryjnych

•

pomiar kontrolny (5min. zadanie pomiarowe)

Wykład – kolokwium pisemne w dn. 07.06.2013

                

(5 pytań teoretycznych/zadania)

Ocena końcowa z przedmiotu: 

średnia 

arytmetyczna

UWAGA

zajęcia można odrobić z inną grupą w przypadku usprawiedliwionej 

nieobecności (max 4 osoby w zespole)

 

 

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych

TECHNIKA INFORMACYJNO-

POMIAROWA  

LABORATORIUM

kierunek: 

Informatyka   DI F1 

rok akademicki:  

2012/2013

sem. letni

 

 

Wykaz ćwiczeń laboratoryjnych

1.

Sprawdzanie przyrządów pomiarowych
Współpraca przyrządów pomiarowych z komputerem 

2.

Podstawowe przyrządy pomiarowe

3.

Zasady opracowywania wyników pomiarów

4.

Wybrane metody pomiarowe (cz. I)

5.

Wybrane metody pomiarowe (cz. II)

6.

Pomiary parametrów i funkcjonałów sygnałów 
pomiarowych 
Podstawy cyfrowego przetwarzania sygnałów 
pomiarowych

7.

Badanie właściwości statycznych i dynamicznych 
wybranych przetworników pomiarowych

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Zasady pracy w Laboratorium

•

Odzież wierzchnią należy pozostawić w 

szatni

, 

a plecaki i teczki na miejscu do tego przeznaczonym 

(tj. w szafce znajdującej się przed laboratorium) 

• Przestrzegać przepisów zawartych w „Instrukcjach 

BHP”

•

Włączenie układu pomiarowego może nastąpić dopiero po 

uprzednim sprawdzeniu go przez prowadzącego zajęcia 

•

Student powinien na zajęcia przynieść: 

- 

formularz do ćwiczeń

 (lub papier kancelaryjny)

- 

kalkulator

•

zabrania się uruchamiania aplikacji nie związanych 

z  wykonywanym ćwiczeniem

 

 

Podstawowe przyrządy pomiarowe

•

 zasilacz

•

 generator funkcyjny

•

 woltomierz cyfrowy 

•

 

oscyloskop elektroniczny

Ćwiczenie nr 2

 

 

Oscyloskop elektroniczny

l

X

1 dz

U

pp

= 

l

Y

* C

Y

   U

max

=U

p

+

=U

pp

/2    

U= 

U

max 

/

T = 

l

X

* C

X

   

   

f=1/T

1 dz

l

Y

2

 

 

Ćwiczenie nr 1

  

• Współpraca przyrządów pomiarowych z komputerem (RS 
232C) 

• Sprawdzanie omomierza cyfrowego za pomocą rezystora 
wzorcowego 

• Zasada pomiaru rezystancji R

x

  w omomierzu cyfrowym

V

000

I = const

R

x

 

 

Liczbowe miary błędów – podstawowe 

definicje

•

Błąd 
bezwzględny

•

Poprawka

•

Błąd względny

X

p







  X

m

 – wartość mierzona

p

m

X

X

X 





 X

p

 - wartość poprawna

 

[%]

100

X

p

X

X









X

p







 

 

MULTIMETR CYFROWY

Błąd podstawowy

 

podawany przez producenta:

•

Składowa

 a

 

(dawniej : błąd analogowy)

a

 = ± .... w % wartości mierzonej

•

Składowa

 b

 

(dawniej: błąd dyskretyzacji)

b

 = ± .... w % zakresu pomiarowego

 

 

Maksymalny błąd dopuszczalny multimetru cyfrowego:

]

[

100

]

100

100

[

m

n

m

X

n

m

X

X

X

b

a

X

X

b

X

a





























Wartość 
mierzon
a

Zakres 
pomiarow
y

 

 

•

zazwyczaj 

b

 wyrażane jest w postaci  

     

± ...  liczba cyfr

 

• rozdzielczość przyrządu

 na wybranym zakresie 

pomiarowym odpowiada 1 cyfrze na najmniej 
znaczącej pozycji wyświetlacza

•

często 

b

 jest większe niż rozdzielczość  

przyrządu 

 

 

 

Przykład

Zmierzona wartość rezystancji: 

R

x

=

190,46 

Zakres pomiarowy:

R

n

= 

200 

a:

0,2 

b:

± 5 cyfry

rozdzielczość 

na tym zakresie wynosi:

0,01 

(opowiada zmianie o 1 cyfrę na najmniej znaczącej pozycji na 
wyświetlaczu)

zmianie 

o 

± 5 cyfr

 odpowiada rezystancja:  

5 * 

0,01

 

[%]

100

200

01

,

0

5







b

 

 

Następnie należy obliczyć

względny błąd



Rx  =      …           

%

bezwzględny błąd 



Rx = …

  



oraz podać zaokrąglony wynik końcowy

(R

x

  

Rx 

)