1

KOLOKWIUM ZALICZENIOWE

14.06.2006 r.

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA

ETI i MiBM sem.8

Uwaga!
Odpowiedzi poprawne zaznaczono na czerwono.

2

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 1

Działa elektronowe stosowane w

mikroskopach elektronowych
skaningowych:

a)Z włóknem wolframowym
b)Z katodą LaB

6

c)Z ciepłą emisją jonową

d)Z zimną emisją polową

3

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 2

Działo „wolframowe”

:

a)Wymaga wysokiej próżni powyżej

10

-10

Pa

b)Cechuje się największą trwałością
c)Pozwala uzyskać wysoką

rozdzielczość

d)Stosowane jest w mikroskopach

konwencjonalnych

4

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 3

Detektory stosowane w SEM:

a)Elektronów wtórnych

rozpraszanych

b)Elektronów wtórnych
c)Elektronów Augera
d)Wtórnego promienieniowania

rentgenowskiego

5

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 4

Ścienianie jonowe stosowane jest :

a)Jako końcowy etap przygotowania

próbek do TEM

b)W celu końcowego ścieniania

materiałów

nieprzewodzących przy

badaniach w TEM

c)Przed szlifowaniem krążków do

TEM

d)W celu zmniejszenia grubości

próbki

6

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 5

Rysunek

przedstawia:

a)Ścieniarkę

strumieniową

b)Urządzenie do

szlifowania
rowków

c)Drążarkę

ultradźwiekow
ą

d)Drążarkę

jonową

7

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 6

Do elementów mikroskopu

elektronowego

zaliczamy

:

a)Soczewki obiektywu

b)Soczewki kondensatora

c)Działo elektronowe

d)Zasłony sterująco-ograniczające

pole

8

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 7

Obrazy uzyskiwane w SEM:

a)Z wykorzystaniem elektronów

wtórnych

b)Z wykorzystaniem jonów wstecznie

rozproszonych

c) Z wykorzystaniem elektronów

szybkich

d) Z wykorzystaniem katod

wolframowych

(

???nie ma informacji w wykładach o

takim obrazie - często wybierana przez studentów opcja – obrazu nie
tworzy działo ale np. odpowiednie elektrony – działo „produkuje”
elektrony)

9

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 8

Zdjęcie przedstawia:
a)TEM wysokonapięciowy

b)SEM wysokonapięciowy
c)Mikroskop polowy
d)Mikroskop AFM

10

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 9

EDS jest detektorem, który:

a)Pozwala na analizę składu

fazowego

b)Wykorzystuje energię elektronów

wtórnych

c)Wykorzystuje energię wtórnego

promieniowania rentgenowskiego

d)Umożliwia uzyskanie informacji o

składzie chemicznym analizowanej
próbki

11

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 10

Badania składu chemicznego z

wykorzystaniem detektora EDS:

a)Zaliczane są do badań

nieniszczących

b)Zaliczane są do badań

niszczących

c)Są badaniami składu fazowego

d)Są badaniami z wykorzystaniem

promieniowania
rentgenowskiego

12

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

• PYTANIE 11

Rysunek

przedstawia
:

a) Mikroskop sił

międzyatmow
ych

b)Mikroskop

skaningowy

c) Mikroskop

TEM

d)Skaningowy

mikroskop
tunelowy

13

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część
A

Mikroskopy elektronowe mogą być:

a)Prześwietleniowe
b)Wysokorozdzielcze
c)Konwencjonalne

d)Jonowe

• PYTANIE 12