1

KOLOKWIUM ZALICZENIOWE

14.06.2006 r.

 

MIKROSKOPIA ELEKTRONOWA

ETI i MiBM sem.8

Uwaga!
Odpowiedzi poprawne zaznaczono na czerwono.

2

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 1

Działa elektronowe stosowane w 

mikroskopach elektronowych 
skaningowych:

a)Z włóknem wolframowym
b)Z katodą LaB

6

c)Z ciepłą emisją jonową 

d)Z zimną emisją polową

3

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 2

Działo „wolframowe”

:

a)Wymaga wysokiej próżni powyżej 

10

-10

 Pa 

b)Cechuje się największą trwałością
c)Pozwala uzyskać wysoką 

rozdzielczość

d)Stosowane jest w mikroskopach 

konwencjonalnych

4

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 3

Detektory stosowane w SEM:

a)Elektronów wtórnych 

rozpraszanych

b)Elektronów wtórnych
c)Elektronów Augera 
d)Wtórnego promienieniowania 

rentgenowskiego

5

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 4

Ścienianie jonowe stosowane jest :

a)Jako końcowy etap przygotowania 

próbek do TEM 

b)W celu końcowego ścieniania 

materiałów

 nieprzewodzących przy 

badaniach w TEM

c)Przed szlifowaniem krążków do 

TEM

d)W celu zmniejszenia grubości 

próbki

6

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 5

Rysunek  

przedstawia:

a)Ścieniarkę 

strumieniową

b)Urządzenie do 

szlifowania 
rowków

c)Drążarkę 

ultradźwiekow
ą

 

d)Drążarkę 

jonową

7

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 6

Do elementów mikroskopu 

elektronowego

 zaliczamy

:

a)Soczewki obiektywu

b)Soczewki kondensatora

c)Działo elektronowe

d)Zasłony sterująco-ograniczające 

pole

8

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 7

Obrazy uzyskiwane w SEM:

a)Z wykorzystaniem elektronów 

wtórnych

b)Z wykorzystaniem jonów wstecznie 

rozproszonych

c) Z wykorzystaniem elektronów 

szybkich

d) Z wykorzystaniem katod 

wolframowych 

(

???nie ma informacji w wykładach o 

takim obrazie - często wybierana przez studentów opcja – obrazu nie 
tworzy działo ale np. odpowiednie elektrony – działo „produkuje” 
elektrony)

9

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 8

Zdjęcie przedstawia:
a)TEM wysokonapięciowy

b)SEM wysokonapięciowy
c)Mikroskop polowy
d)Mikroskop AFM

10

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 9

EDS jest detektorem, który:

a)Pozwala na analizę składu 

fazowego 

b)Wykorzystuje energię elektronów 

wtórnych

c)Wykorzystuje energię wtórnego 

promieniowania rentgenowskiego

d)Umożliwia uzyskanie informacji o 

składzie chemicznym analizowanej 
próbki

11

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 10

Badania składu chemicznego z 

wykorzystaniem detektora EDS:

a)Zaliczane są do badań 

nieniszczących

b)Zaliczane są do badań 

niszczących

c)Są badaniami składu fazowego

d)Są badaniami z wykorzystaniem 

promieniowania 
rentgenowskiego

12

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

• PYTANIE 11

Rysunek 

przedstawia
:

 

a) Mikroskop sił 

międzyatmow
ych

b)Mikroskop 

skaningowy

c) Mikroskop 

TEM

d)Skaningowy 

mikroskop 
tunelowy

13

Mikroskopia elektronowa –test zaliczeniowy-część 
A

Mikroskopy elektronowe mogą być:

a)Prześwietleniowe
b)Wysokorozdzielcze
c)Konwencjonalne

d)Jonowe

• PYTANIE 12