background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

Co to????

Co to????

Promieniowanie wzbudzające

Promieniowanie wzbudzające

    

    

X (XPS)                               UV(UPS)

X (XPS)                               UV(UPS)

Podstawowe zjawiska fizyczne

Podstawowe zjawiska fizyczne

Promieniowanie X powoduje wybicie 

Promieniowanie X powoduje wybicie 

elektronów z powłok elektronowych;        

elektronów z powłok elektronowych;        

      na podstawie energii wzbudzonych 

      na podstawie energii wzbudzonych 

fotoelektronów analizujemy energię 

fotoelektronów analizujemy energię 

wiązania elektronów w atomie (binding 

wiązania elektronów w atomie (binding 

energy BE)

energy BE)

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

Spektroskopia fotoelektronów

Spektroskopia fotoelektronów

 – analiza elektronów wybitych z materiału 

 – analiza elektronów wybitych z materiału 

próbki pod wpływem jej naświetlania promieniowaniem miękkim X;

próbki pod wpływem jej naświetlania promieniowaniem miękkim X;

Energia kinetyczna fotoelektronów

Energia kinetyczna fotoelektronów

 – identyfikacja pierwiastków (XPS); 

 – identyfikacja pierwiastków (XPS); 

określenie energetycznego zakresu pasm (UPS);

określenie energetycznego zakresu pasm (UPS);

Natężenie fotoelektronów

Natężenie fotoelektronów

 – koncentracja pierwiastków, analiza udziału 

 – koncentracja pierwiastków, analiza udziału 

różnych wiązań (XPS); określenie zapełnienia i struktury pasm (UPS)

różnych wiązań (XPS); określenie zapełnienia i struktury pasm (UPS)

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

5. Działo niskoenergetyczne e

5. Działo niskoenergetyczne e

-

-

 (przeciwdziałanie 

 (przeciwdziałanie 

elektrostatycznemu ładowaniu próbek izolujących);

elektrostatycznemu ładowaniu próbek izolujących);

6. Działo jonów (aby wyczyścić powierzchnię próbki, umożliwić 

6. Działo jonów (aby wyczyścić powierzchnię próbki, umożliwić 

analizę składu chemicznego w funkcji głębokości;

analizę składu chemicznego w funkcji głębokości;

1. Źródło 
promieniowania:

XPS – lampa 
rentgenowska;

UPS – lampa helowa, 
neonowa, wodorowa;

2. Analizator energii;

3. Detektor / 
powielacz e

-

;

4. Układ wysokiej 
próżni (uniknięcie 
rozproszeń 
fotoelektronów

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

Po co to??????

Po co to??????

Wykrywanie wszystkich pierwiastków 

(analiza jakościowa i ilościowa) z 

wyjątkiem He i H przy czułości 

detekcji pierwiastków od 0,01% do 

0,5%

Analiza stanu chemicznego 

pierwiastka (wartościowość, 

wiązanie, koordynacja) – otoczenie 

wpływa na energię wiązania 

fotoelektronów 

(przesunięcie 

chemiczne

)

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

Po co to??????

Po co to??????

Idealne warunki do badania 

powierzchni – informacje dotyczą 

warstwy powierzchniowej: 0,5 

nm<  d   > 7,5 nm

Przy odsłanianiu kolejnych 

Przy odsłanianiu kolejnych 

powierzchni możliwa 

powierzchni możliwa 

analiza 

analiza 

składu chemicznego w funkcji 

składu chemicznego w funkcji 

głębokości

głębokości

   

   

(profile koncentracji)

(profile koncentracji)

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

ilościowa analiza składu chemicznego

szmaragd badany w porównaniu do typowego: 

berylu      (3BeO+Al

2

O

3

+6SiO

2

)

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

analiza stanu chemicznego pierwiastka

Przesunięcie chemiczne substancji nieorganicznych

Ten sam atom w różnym otoczeniu chemicznym ma 

zmienione widmo XPS ze zmienioną  E

B

 = E

B1

 - E

B2

 

Usuwanie 
warstwy SiO

2

 z 

podłoża Si

Profil 
głębokościowy 
SiO

2

 na podłożu 

Si

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

Jak to badać ??????

Jak to badać ??????

Spektroskopia elektronowa 

Spektroskopia elektronowa 

(fotoelektronów) –

(fotoelektronów) –

 

 

analiza energii 

analiza energii 

elektronów wybitych z powłok 

elektronów wybitych z powłok 

elektronowych przez promieniowanie 

elektronowych przez promieniowanie 

X;

X;

Rentgenowska spektroskopia 

Rentgenowska spektroskopia 

absorpcyjna –

absorpcyjna –

 

 

analiza widmowa 

analiza widmowa 

promieniowania rentgenowskiego po 

promieniowania rentgenowskiego po 

przejściu przez próbkę;

przejściu przez próbkę;

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

FOTOELEKTRONÓW ESCA/XPS

Jak to badać ??????

Jak to badać ??????

Rentgenowska spektroskopia 

Rentgenowska spektroskopia 

emisyjna (fluorescencyjna) –

emisyjna (fluorescencyjna) –

 

 

analiza 

analiza 

widma powstającego w wyniku emisji 

widma powstającego w wyniku emisji 

kwantu promieniowania X powstającego 

kwantu promieniowania X powstającego 

przy przeskoku elektronu z wyższej powłoki 

przy przeskoku elektronu z wyższej powłoki 

na puste miejsce;

na puste miejsce;

Spektroskopia elektronów Augera –

Spektroskopia elektronów Augera –

 

 

analiza widma powstającego w wyniku 

analiza widma powstającego w wyniku 

emisji wtórnego elektronu

emisji wtórnego elektronu

 

 

(wybicie przez 

(wybicie przez 

kwant X elektronu z powłoki K lub L, 

kwant X elektronu z powłoki K lub L, 

przeskok elektronu na puste miejsce, emisja 

przeskok elektronu na puste miejsce, emisja 

wtórnego kwantu h

wtórnego kwantu h

, wybicie przez kwant 

, wybicie przez kwant 

h

h

 wtórnego elektronu)

 wtórnego elektronu)

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

JĄDROWEGO NMR

JĄDROWEGO NMR

Promieniowanie wzbudzające

Promieniowanie wzbudzające

radiowe lub mikrofalowe (największe 

radiowe lub mikrofalowe (największe 

długości fali, najmniejsze częstotliwości

długości fali, najmniejsze częstotliwości

Zjawiska fizyczne

Zjawiska fizyczne

jądro atomowe posiada pewien spin jądrowy 

jądro atomowe posiada pewien spin jądrowy 

(wektor momentu pędu); jeśli spin jest 

(wektor momentu pędu); jeśli spin jest 

niezerowy, jądro ma moment magnetyczny

niezerowy, jądro ma moment magnetyczny

  

  

 

 

 

 

 

 

 s

 s

 

 

 

 

- moment magnetyczny;

- moment magnetyczny;

 

 

 

 

- współczynnik proporcjonalności

- współczynnik proporcjonalności

 

 

s - spin

s - spin

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

JĄDROWEGO NMR

JĄDROWEGO NMR

Jądrowy  dipol  magnetyczny  umieszczony  w  polu 

Jądrowy  dipol  magnetyczny  umieszczony  w  polu 

magnetycznym 

może 

przyjmować 

ściśle 

magnetycznym 

może 

przyjmować 

ściśle 

określone  położenia  (skwantowane  poziomy 

określone  położenia  (skwantowane  poziomy 

energetyczne):

energetyczne):

      

      

Przejścia pomiędzy tymi poziomami zachodzą 

Przejścia pomiędzy tymi poziomami zachodzą 

pod wpływem fal radiowych i są 

pod wpływem fal radiowych i są 

charakterystyczne dla danego atomu, oraz dla 

charakterystyczne dla danego atomu, oraz dla 

jego oddziaływań z najbliższym  otoczeniem  

jego oddziaływań z najbliższym  otoczeniem  

(rodzaj sąsiadujących jonów, charakter wiązania 

(rodzaj sąsiadujących jonów, charakter wiązania 

chemicznego)!!

chemicznego)!!

2

h

m

s

j

m

m

j

j

 

 

– magnetyczna liczba 

– magnetyczna liczba 

kwantowa

kwantowa

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

JĄDROWEGO NMR

JĄDROWEGO NMR

Zastosowanie badań NMR w ceramice:

badanie otoczenia 

29

Si (np. reakcje 

zachodzące podczas żelowania i 

transformacji żeli w metodzie zol-żel);

wyznaczanie koordynacji  

11

B w boranach i 

szkłach oraz koordynacji 

27

Al w szkłach;

informacje o połączeniach pierwiastków 

19

F, 

31

P;

background image

 

 

0

-20 -40 -60 -80 -100 -120 -140 -160 -180

Q

T

PGT_400

o

C

PGT_100

o

C

TPh_400

o

C

TPh_100

o

C

29

Si MAS-NMR

f

rot

 = 4 kHz

 

 

ppm from TMS

0

-20 -40 -60 -80 -100 -120 -140 -160 -180

Q

400

o

C

TPh

29

Si MAS-NMR

f

rot

 = 4 kHz

 

 

ppm from TMS

100

o

C

T

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

JĄDROWEGO NMR

JĄDROWEGO NMR

Przykładowe widma NMR

200

150

100

50

0

-50

-100

[AlO

6

]

[AlO

4

]

27

Al  NMR

f

rot

 = 8 kHz

 

 

 

PGT_100

o

C

PGT_400

o

C

ppm from Al(NO

3

)

3

29

Si MAS NMR

27

Al NMR

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

MAGNETYCZNEGO REZONANSU 

JĄDROWEGO NMR

JĄDROWEGO NMR

Przykładowe widma NMR

13

C NMR

1

H NMR

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

ELEKTRONOWEGO REZONANSU 

ELEKTRONOWEGO REZONANSU 

PARAMAGNETYCZNEGO EPR

PARAMAGNETYCZNEGO EPR

Zjawisko występuje tylko w 

substancjach paramagnetycznych, 

tzn. takich, które posiadają 

niesparowane elektrony

Przykłady centrów paramagnetycznych

:

rodniki
jony metali przejściowych i ziem rzadkich
defekty sieci krystalicznej
rozerwane wiązania

background image

 

 

SPEKTROSKOPIA 

SPEKTROSKOPIA 

ELEKTRONOWEGO REZONANSU 

ELEKTRONOWEGO REZONANSU 

PARAMAGNETYCZNEGO EPR

PARAMAGNETYCZNEGO EPR

Zasada pomiaru:

substancje paramagnetyczną umieszcza się w polu 

substancje paramagnetyczną umieszcza się w polu 

magnetycznym  i  poddaje  działaniu  mikrofalowych 

magnetycznym  i  poddaje  działaniu  mikrofalowych 

częstości promieniowania elektromagnetycznego:

częstości promieniowania elektromagnetycznego:

    

    

-

-

 

 

wstęga x o częstości 9,4GHz i długości fali 3,2 cm

wstęga x o częstości 9,4GHz i długości fali 3,2 cm

    

    

- wstęga k              „      24GHz          „             1,25 cm

- wstęga k              „      24GHz          „             1,25 cm

    

    

- wstęga Q             „       35GHz         „             0,85 cm

- wstęga Q             „       35GHz         „             0,85 cm

Następuje  absorpcja  promieniowania  o  częstości 

Następuje  absorpcja  promieniowania  o  częstości 

rezonansowej,  odpowiadającej  różnicy  energii 

rezonansowej,  odpowiadającej  różnicy  energii 

pomiędzy 

stanami, 

odpowiadającymi 

różnej 

pomiędzy 

stanami, 

odpowiadającymi 

różnej 

orientacji  niesparowanych  elektronów  względem 

orientacji  niesparowanych  elektronów  względem 

zewnętrznego  pola  (energia  przejścia  zależy  od 

zewnętrznego  pola  (energia  przejścia  zależy  od 

rodzaju 

jonu 

paramagnetycznego, 

jego 

rodzaju 

jonu 

paramagnetycznego, 

jego 

wartościowości i jego otoczenia);

wartościowości i jego otoczenia);

    

    

background image

 

 

ZASTOSOWANIE 

ZASTOSOWANIE 

SPEKTROSKOPII EPR

SPEKTROSKOPII EPR

 

 

Wykorzystanie jonów paramagnetycznych 

[Mn(II), Fe(III), Cr(III) i inn.] jako próbników 

strukturalnych, dostarczających informacji 

o ich najbliższym otoczeniu w danej 

strukturze krystalicznej lub amorficznej;

Badanie punktowych defektów sieciowych:

centra barwne (np. w kwarcu czy w szkle 

kwarcowym);

domieszki donorowo-akceptorowe (N w 

diamencie)

badanie mechanizmów reakcji chemicznych


Document Outline