LAB 10 (2) DOC


Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia było zapoznanie się z metodami pomiaru rezystancji stosowanych w technice. Do tych metod zaliczamy: pomiary za pomocą mierników mierzących bezpośrednio rezystancję (omomierzy), metody techniczne za pomocą amperomierza i woltomierza oraz metody porównawcze polegające na porównaniu wartości płynącego prądu przez dwa elementy, z których wartość jednego z nich jest znana.

Wykonanie ćwiczenia:

1. Pomiar trzech rezystancji trzema różnymi omomierzami.

a) schemat układu

0x08 graphic

b) spis mierników

Ω1

- omomierz magnetoelektryczny; kl.1,5; zak.1000(x1, x10, x100)Ω; PL-K-027/E6

Ω2

- kiloomomierz magnetoelektryczny; kl.1; zak. 1kΩ, x10kΩ, x100kΩ; PL-P3-251/E6

Ω3

- megaomomierz induktorowy; kl.1,5; prądkość 160obr./min.; napięcie 500V; PL-P3-104-E6

c) tabela wyników

Rx1

Rx2

Rx3

Ω

Ω

Ω

Omomierz I

50

Omomierz II

0,5k

2,6M

7M

Omomierz III

0

3M

10M

d) wartości badanych rezystorów:

RX1=50Ω RX2=2,6MΩ RX1=10MΩ

2. Pomiar rezystancji metodą techniczną.

I) układ z poprawnie mierzonym prądem

a) schemat układu

0x08 graphic

b) spis mierników

V

- miernik uniwersalny; kl.1,5; zak.10V; PL-P3-476/E6; RV U = 0,1…1000V⇒I ≤ 51,5μA

mA

- miliamperomierz magnetoelektryczny; kl.0,5;pozioma pozycja pracy; zak. 300mA;

nr 15063; PL-P3-521/E6; 0x01 graphic

R

- rezystor suwakowy R=162Ω; Imax=0,35A

c) obliczenia rezystancji granicznej i błędu granicznego

RA=0,08Ω 0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

d) tabela wyników

Lp.

IA

UV

Rx'

Rx

δA

δS

[mA]

[V]

[Ω]

[Ω]

[%]

[%]

1.

200

9,63

48,15

48,07

0,17

±2,3

2.

180

8,72

48,44

48,36

0,17

±2,6

3.

160

7,78

48,63

48,55

0,16

±2,9

4.

140

6,84

48,86

48,78

0,16

±3,3

5.

120

5,82

48,5

48,42

0,17

±3,8

e) przykłady obliczeń dla Lp.1.

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic
; 0x01 graphic

0x01 graphic

II) układ z poprawnie mierzonym napięciem

a) schemat układu

0x08 graphic

b) spis mierników jak w pkt.2.I.

c) tabela wyników

Lp.

UV

IA

Rx

Rx

δV

δS

[V]

[mA]

[Ω]

[Ω]

[%]

[%]

1.

10

205

48,78

48,79

0,025

2,2

2.

9

184

48,91

48,93

0,025

2,5

3.

8

165

48,48

48,5

0,025

2,8

4.

7

142

49,3

49,31

0,025

3,2

5.

6

123

48,78

48,79

0,025

3,7

d) przykłady obliczeń dla Lp.1.

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

; 0x01 graphic

0x01 graphic

0x08 graphic
3. Sprawdzenie stanu izolacji układu do pomiaru rezystancji próbek izolacyjnych.

a) schemat układu

b) spis mierników

V

- miernik uniwersalny; kl.1,5; zak.1000V; PL-P3-476/E6;

B.A.

- bocznik Ayrtona; R1=k*R2; R2=10kΩ; k=(10-9÷1)

G

  • galwanometr CL=(1,95÷5,22*10-9 )A/dz; Rg=1317Ω; Rkr=(18k÷1400)Ω; PL-P3-328-E6

RP

- rezystor porównawczy R=9MΩ;

Po dokonanych pomiaru stanu izolacji stanowiska do pomiaru rezystancji próbek izolacyjnych stwierdziliśmy, że stan izolacji jest poprawny.

4. Pomiar oporności skrośnej i powierzchniowej odchyłową metodą porównawczą prądową.

0x08 graphic
a) schemat układu

b) spis mierników jak w pkt.3.

c) połączenie elektrod przy pomiarze oporności skrośnej A) i powierzchniowej B):

0x08 graphic
A) B)

0x08 graphic

d) gabaryty badanych próbek i elektrod

0x01 graphic

Dane próbki:

0x08 graphic
1 - d = 4,2 mm (winidór)

2 - d = 6,75 mm (bakelit)

3 - d = 5,5 mm (pleksi - szkło organiczne)

d1 = 46 mm

d2 = 55 mm

d3 = 85 mm

d4 = 120 mm

e) tabele wyników

- pomiar dla rezystancji porównawczej

Lp.

Włączona rezystancja

U

n

aśr

V

-

dz.

1.

RP

200

10-2

32

- dla pomiarów rezystancji skrośnej

Lp.

Włączona rezystancja

U

n

aśr

D

RX

ς

V

-

dz.

Mm

GΩm

1.a.

Bakelit

500

1

9,5

6,75

7,6

1.b.

1000

1

20

6,75

7,2

1,77

2.a.

Pleksi

500

1

0,5

5,5

144

2.b.

1000

1

1

5,5

144

13,85

3.a.

Winidur

500

1

1

4,2

72

3.b.

1000

1

2

4,2

72

9,07

4.a.

Papier

500

1

11

6,5

4.b.

100

0,5

63

1,1

0x01 graphic
0x01 graphic

- dla pomiarów rezystancji powierzchniowej

Lp.

Włączona rezystancja

U

n

aśr

RX

V

-

dz.

1.a.

Bakelit

500

1

3

24

1.b.

1000

1

5,5

26,2

2.a.

Pleksi

500

1

0,5

144

2.b.

1000

1

1

144

3.a.

Winidur

500

1

0,5

144

3.b.

1000

1

1

144

4.a.

Papier

500

1

4

18

4.b.

1000

1

43

3,3

- przykłady obliczeń dla Lp.1.a.

0x01 graphic

5. Wnioski.

Po dokonaniu pomiarów i obliczeń zauważamy, że:

- do bezpośredniego pomiaru rezystancji służą omomierze. Są to mierniki które posiadają nierównomierne podziałki, więc cechuje je wąskie pasmo w których pomiar jest dokładny. W przedziałach, gdzie podziałka się zagęszcza pomiar rezystancji jest szacunkowy. Dlatego też omomierze są budowane na określone wartości rezystancji. Mierniki do pomiaru małych i średnich rezystancji małą wbudowane źródła napięcia, przy dużych rezystancjach (MΩ) mierniki te budowane są na bazie induktora.

- bardziej dokładne pomiary wartości rezystancji uzyskuje się stosując metody techniczne (za pomocą woltomierza i amperomierza), jednak ta metoda wymaga użycia dwóch mierników i odpowiedniego schematu elektrycznego. W zależności jakie rezystancje są mierzone stosuje się metody z poprawnie mierzonym prądem, bądź napięciem. Przy pomiarach małych rezystancji stosowany jest układ z poprawnie mierzonym napięciem, natomiast dla dużych rezystancji układ z poprawnie mierzonym prądem. Wielkością charakterystyczną, która rozgranicza, którą metodę należy zastosować jest rezystancja graniczna.

- jak można zauważyć metoda techniczna jest stosowana tam, gdzie potrzebujemy dokładnie określić wartość badanej rezystancji jednak wymaga ona użycia większej ilości mierników oraz zewnętrznego zasilania układu. Metoda bezpośrednia jest mniej dokładna, ale za to jest metodą, w której pomiar jest wykonywany znacznie szybciej i bez żadnych dodatkowych układów.

- do pomiaru rezystancji bardzo dużych stosuje się metody porównawcze. Polegają one na porównaniu prądu płynącego przez znaną rezystancją z prądem, który płynie przez rezystancję badaną. Ze względu na bardzo małe wartości płynących w obwodzie prądu do ich pomiaru stosowane są galwanometry. Po wykonaniu pomiarów zauważyliśmy, że najlepsze właściwości izolacyjne z badanych dielektryków posiada szkła organiczne (pleksi) i winidur, natomiast bakelit cechował się dużo gorszymi właściwościami. Jednak najgorszym materiałem izolacyjnym był papier. Zauważyliśmy także, że papier jako jedyny z badanych materiałów izolacyjnych miał zmienną rezystancje. I tak wraz we zwiększaniem napięcia przyłożonego do próbki malała wartość rezystancji zarówno przy pomiarach rezystancji wskrośnej jak i powierzchniowej.

1

1

Ω

Rx

V

A

-

Rx

R

V

A

-

Rx

R

0x01 graphic

0x01 graphic

a

c

b

c

b

a



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Spr Lab 10 Justyna IV r doc
CCNA2 lab 10 1 6 pl
lab 3 10 5
lab 3 10 1
Lab 8 9 10 ver2
lab 10 2 5
IE RS lab 10 solutions
lab 8 10 1
lab 10 2 4
LAB 10
2010 Lab 10 struktury drzewiaste
lab 10 3 2 1
Podstawy Automatyki Lab 10 CW3 Układy sekwencyjne elektroniczne
Podstawy Automatyki Lab 10 CW1 Układy przełączające oparte na elementach stykowych
Lab 6, 10.2.2.8 Packet Tracer - DNS and DHCP Instructions
lab 5(1) 10
lab 10
CCNA1 lab 10 3 5c pl
lab 10 1 3

więcej podobnych podstron