Przedmiot:
„Podstawy ochrony własności intelektualnej i przemysłowej”
_________________________________________________________________
Prowadzący: rzecznik patentowy mgr inż. Andrzej Stachowski
Politechnika Krakowska, ul. Warszawska 24, budynek 10-36 (Stołówka), pok.102, I piętro,
tel/fax. 012 628-29-70, e-mail astach@pk.edu.pl
konsultacje : wtorek, czwartek 10 - 14
_________________________________________________________________
Informacje podstawowe dotyczące przedmiotu:
a.- ustawa z dnia 30 czerwca 2000 r. „Prawo własności przemysłowej" (tekst jednolity Dz.U.nr 43 z 2003 r., poz. 1117 z późn.zm.),
b.- ustawa z dnia 16 kwietnia 1993 r. o zwalczaniu nieuczciwej konkurencji (tekst jednolity Dz.U. nr 153 z 2003 r., poz.1503 z późn.zm.),
c.- ustawa z dnia 4 lutego 1994 r. o prawie autorskim i prawach pokrewnych (tekst jednolity Dz.U. nr 80 z 2000 r., poz.904 z późn.zm.)
2. Przydatne adresy internetowe:
strona Urzędu Patentowego RP http://www.uprp.pl
strona Europejskiego Urzędu Patentowego (EPO) http://www.epo.org
baza patentowa EPO http://ep.espacenet.com
strona Polskiej Agencji Rozwoju Przedsiębiorczości http://parp.gov.pl
3. Literatura książkowa - zalecana, dostępna w internecie :
- http://www.parp.gov.pl=>opracowania=>publikacje:
"Własność przemysłowa w działalności gospodarczej - Przewodnik dla małych i średnich przedsiębiorstw", Urząd Patentowy RP , Warszawa 2003
"Ochrona własności przemysłowej - Poradnik dla przedsiębiorcy", Lech Bieguński, PARP, Warszawa 2004
"Prawo autorskie i prawa pokrewne - Poradnik dla przedsiębiorcy", Iwona Kuś, Zofia Senda, PARP, Warszawa 2004
- http://www.uprp.pl=>Procedra krajowa => linki: wynalazki i wzory użytkowe; znaki towarowe; wzory przemysłowe:
"Poradnik wynalazcy" (pkt.7)
"Znaki towarowe w działalności małych i średnich przedsiębiorstw" (pkt.8)
"wzory przemysłowe w działalności małych i średnich przedsiębiorstw" (pkt.6)
literatura pomocnicza: - http://www.stim.org.pl=>materiały fachowe
Tom III "Własność intelektualna" - Vademecum innowacyjnego przedsiębiorcy
4. Zaliczenie
Ocena uzależniona jest od:
obecności na wykładach (waga wstępna oceny);
wyniku repertorium (waga główna oceny);
uzupełniająco/dodatkowo jest możliwość zaliczenia repertorium lub podniesienia oceny końcowej przez wykonanie ćwiczenia z poszukiwania stanu techniki w internetowych bazach patentowych;
Opr. A. Stachowski 2009/10