Jakieś laborki, LMT2, LABORATORIUM METROLOGII TECHNICZNEJ


0x08 graphic
LABORATORIUM METROLOGII TECHNICZNEJ

Wydział Elektryczny

Kierunek Automatyka i Robotyka

Specjalność Robotyka

Błażej Krzyżanowski

Sławomir Stępień

POMIARY CHROPOWATOŚCI POWIERZCHNI

  1. Celem ćwiczenia było zapoznanie się z metodami pomiaru falistości i chropowatości powierzchni, nabycie umiejętności dokonania takich pomiarów oraz zapoznanie się z pojęciami opisującymi te wielkości. Ćwiczenie miało na celu również zapoznanie z przyrządami służącymi do pomiaru falistości i chropowatości.

Ćwiczenie składało się z dwóch zadań pomiarowych :

- kilkupunktowy pomiar wysokości chropowatości, który to był wykonany przy pomocy mikroskopu Schmaltza

- wykreślenie krzywej nośności na podstawie otrzymanego foliogramu

2. Pomiar metodą przekroju świetlnego przy pomocy mikroskopu.

Przy pomocy mikroskopu Schmaltza , który działa na zasadzie przekroju świetlnego, dokonano pomiarów wysokości chropowatości. Płaska wiązka światła z mikroskopu pada na mierzoną powierzchnię pod kątem 45°. Uzyskany przekrój świetlny jest obserwowany przez okular mikroskopu obserwacyjnego. Z tego też powodu, obserwowany obraz w kierunku wysokości nierówności jest powiększony 0x01 graphic
razy (bez powiększeń optycznych mikroskopu).

Schemat metody przekroju świetlnego:

1 - padający strumień światła,

2 - płytka z linią pomiarową,

3 - śruba mikrometryczna

4 - okular

R - rzeczywista wysokość chropowatości 0x01 graphic

R' - mikroskopowa wysokość chropowatości,

Tabela pomiarowa:

L.p.

y-

y+

[mm]

[mm]

1

3,72

4,68

2

3,73

4,68

3

3,72

4,63

4

3,79

4,63

5

3,70

4,68

y+(y-) - wysokość wierzchołków (wgłębień) profilu, mierzona od linii równoległej do linii średniej profilu.

Długość odcinka elementarnego wynosiła na 1,5 mm, po określeniu w przybliżeniu klasy chropowatości badanego obiektu.

3. Określenie wysokości nierówności na podstawie zebranych pomiarów wierzchołków i wgłębień badanego profilu:

0x01 graphic
= 0x01 graphic
[(R1++R2++R3++R4++R5+)-(R1-+R2-+R3-+R4-+R5-)]

0x01 graphic
= 0x01 graphic
[(4,68+4,68+4,63+4,63+4,68)-(3,72+3,73+3,72+3,79+3,70)]=0,93mm

Rzeczywista wartość wysokości nierówności Rz :

0x01 graphic
= 0,66mm

Ze znormalizowanych tablic wartości parametru Rz, przyjmujemy wartość Rz = 0,70 mm (wg PN-87/M-04251). Z tablic określających długość odcinka pomiarowego w zależności od parametru Rz, odczytujemy że długość odcinka pomiarowego została dobrze przyjęta, czyli l = 1,5mm.

4. Obliczenie błędu pomiaru.

Błąd jednokrotnego pomiaru wynosił ± 0,02 μm.

Błąd pomiaru z różniczki zupełnej równy jest sumie dziesięciu wartości błędów jednokrotnych pomiarów, podzielonych przez 0x01 graphic
.

0x01 graphic

Ostateczny wynik pomiaru parametru Rz wynosi:

Rz = 0,70μm ±0,01μm

  1. Obliczenia parametrów Rz, Rmax, i wykres krzywej nośności.

Wykres krzywej nośności sporządzono na podstawie otrzymanego przebiegu z profilografometru.

Profilografometr służy do odwzorowywania profilu i chropowatości powierzchni. Czujnik profilu (ślizgacz) styka się z powierzchnią badaną i przesuwając się po niej rysik podaje informację do urządzenia sterującego pisakiem tak, aby ten jak najwierniej odtworzył zarys powierzchni badanej.

Budowa profilografometru:

Na otrzymanym profilogramie, poprowadzono linię średnią, położenie której wyznaczono obliczając odległość zarysu od linii „zerowej”. Wyniki pomiarów:

L.p.

1

2

3

4

5

6

7

8

9

yi

11

13

16

17

17

9

3

6

11

L.p.

10

11

12

13

14

15

16

17

18

yi

15

11

6

10

15

17

13

8

11

L.p.

19

20

21

22

23

24

25

26

27

yi

16

9

16

18

8

6

10

15

19

L.p.

28

yi

10

Wartości yi podano w podziałkach, jedna podziałka równa się 1μm.

Korzystając ze wzoru na odległość a linii średniej od linii 0 :

0x01 graphic

Linia średnia została naniesiona na wykres chropowatości.

Znając wielkość a, oraz poszczególne odległości lini zarysu od lini 0, wyznaczono średnie arytmetyczne odchylenie profilu od linii średniej:

0x01 graphic

Korzystając z tablic przyjęto parametr Ra =5,00 μm

Następnie wyznaczono dziesięciopunktową wysokość chropowatości Rz :

Rz = 0x01 graphic
[(R1++R2++R3++R4++R5+)-(R1-+R2-+R3-+R4-+R5-)] = 13μm±1μm

Korzystając z tablic przyjęto parametr Rz = 20μm

Badając podziałkę chropowatości, zmierzono następujące wartości odstępu chropowatości: S1=200μm, S2=100, S3= S4= S5 =150μm.

Podziałka chropowatości w obrębie odcinka pomiarowego jest średnią arytmetyczną odstępów chropowatości i wynosi Sc=150μm ± 50μm.

Krzywa nośności - zależność pomiędzy współczynnikiem długości nośnej profilu chropowatości tp, a rozkładem rzędnych profilu chropowatości.

Współczynnik długości nośnej :

0x01 graphic

gdzie0x01 graphic
długość nośna profilu chropowatości

Wyniki pomiarów zebrano w tabeli:

c

ηp

tp

[%]

[j]

[%]

5

125

12,5

10

280

28

15

410

41

20

540

54

25

700

70

30

890

89

40

1150

115

60

1400

140

70

1710

171

Oznaczenia :

c[%] - rozkład rzędnych profilu chropowatości(jednostka dł. 1μm).

ηp[μm] - długość nośna profilu chropowatości (jednostka dł.50μm).

Pomiary dokonane zostały na długości 1mm.

Krzywa nośności została naszkicowana na taśmie profilogramu.

Parametry chropowatości badanego przedmiotu, przy długości odcinka pomiarowego

Lc = 4mm:

Ra = 5μm ±1μm

Rz = 13μm ± 1μm

Sc = 150μm ± 50μm

W otrzymanym zarysie powierzchni, nie występowały błędy falistości (S/R<40).

  1. Podsumowanie:

Pomiaru chropowatości dokonano za pomocą dwóch przyrządów mikroskopu Schmaltza oraz przyrządu zwanego profilografometrem typu ME 10. Przy pomocy tych przyrządów pomiarowych można nabyć umiejętności praktycznego poznania geometrycznego wizerunku powierzchni, która była przedmiotem badań. Z badanej struktury powierzchni widoczne były podstawowe parametry chropowatości. Parametry te , jak okazało się w ćwiczeniu wyznaczono metodami pomiaru przy pomocy mikroskopu - zdejmując odpowiednie wartości oraz przy pomocy poligrafometru zdejmując wyniki w sposób graficzny - z wykresu profilu powierzchni.

Pomiar przy pomocy mikroskopu ograniczył się jedynie do uzysku wartości Rz , której wartość była dość dokładna, w porównaniu z drugą metodą. Natomiast wartość Ra była niemożliwa do uzyskania z mikroskopu. Pomiary metodą stykową , czyli za pomocą poligrafometru, dały dużo lepsze rezultaty pomiaru. Pomiary tą metodą dają możliwość wyznaczenia wszystkich parametrów chropowatości badanej powierzchni. Poza tym metoda pozwala na zastosowanie filtrów, które pozwalają odfiltrować skutecznie błędy pomiaru. Błędy te mogą wynikać z falistej geometrii badanego przedmiotu. Jednym z zastosowanych filtrów był zwykły filtr mechaniczny - ślizgacz.

0x01 graphic



Wyszukiwarka