spr11, lab11, Wydział: Fizyka


Wydział: Fizyka

Środa 8:00-11:00

Zespół nr 7

27.03.2002 r.

  • Kwaśny Michał

  • Krasuski Michał

  • Laudyn Ula

Ocena z przygotowania:

Ocena z sprawozdania:

Ocena:

Prowadzący:

Podpis:

BADANIE OSŁABIENIA PROMIENIOWANIA GAMMA PRZY PRZECHODZENIU PRZEZ MATERIĘ

Celem ćwiczenia był pomiar natężenia promieniowania gamma w zależności od grubości płytki absorbentu oraz wyznaczenie na podstawie otrzymanych danych współczynnika osłabienia promieniowania gamma.

Promieniowanie gamma jest promieniowaniem elektromagnetycznym o długości fali 0x01 graphic
do 0x01 graphic
m. Posiada duże zdolności przenikania przez materię, może oddziaływać z elektronami, jądrami atomów, polem elektromagnetycznym oraz polem magnetycznym. Oddziaływania te mogą prowadzić do całkowitej absorpcji lub rozproszenia promieniowania gamma z wyżej wymienionych procesów w praktyce obserwujemy tylko trzy:

Ponieważ naszym zadaniem był pomiar ilości zliczeń rozpadów gamma 60Co musieliśmy posłużyć się licznikiem Geigera-Mullera. Po ustawieniu układu pomiarowego dokonaliśmy pomiaru liczby zliczeń bez preparatu promieniotwórczego (tzw. pomiar promieniowania tła) oraz pomiar z promieniotwórczym 60Co wraz z płytkami absorbującymi promieniowanie. Za absorbenty posłużyły nam płytki z aluminium, miedzi oraz ołowiu. Pomiary wykonujemy w czasie 1 minuty dla płytek o grubości od 1 mm do 20 mm. Na podstawie danych doświadczalnych wykreślamy dwie zależności:

- natężenie promieniowania γ od grubości warstwy absorbentu.

- logarytmu natężenia promieniowania od grubości warstwy absorbentu.

Następnie obliczamy współczynnik osłabienia promieniowania μ. Wyznaczamy go za pomocą metody najmniejszych kwadratów.

Prosty schemat licznika Geigera-Mullera:

0x01 graphic

Wiązka promieniowania gamma przechodząc przez ośrodek materialny ulega osłabieniu. Osłabienie to zależy wykładniczo od grubości absorbentu:

I = I0 e- x

Ponieważ w takiej postaci wzoru nie możemy się posłużyć metodą najmniejszych kwadratów, logarytmujemy obie strony oraz robimy podstawienie:

a = - μ b = ln N0 y = ln N

ln N = ln N0 - μx

Dzięki tej prostej operacji otrzymujemy równanie postaci y=ax+b

Parametry prostej a i b musimy dobrać w ten sposób, aby suma kwadratów różnic między wartościami zmierzonymi yi i obliczonymi była jak najmniejsza, czyli

0x01 graphic

parametry prostej najlepiej opisującej liniową zależność wielkości y i x wyliczamy ze wzorów:

0x01 graphic
0x01 graphic

Średnie odchylenie standardowe sa i sb współczynników a i b oblicza się ze wzorów

0x01 graphic
0x01 graphic

gdzie: di = yi - (axi  b)

Oto co uzyskaliśmy podczas pomiarów dla trzech różnych absorbentów:

0,953

±

0,007

1,920

±

0,009

3,016

±

0,005

5,020

±

0,012

7,047

±

0,007

10,008

±

0,008

11,789

±

0,010

14,809

±

0,017

17,004

±

0,010

20,041

±

0,007

0,914

±

0,008

1,948

±

0,009

2,811

±

0,015

4,849

±

0,012

7,045

±

0,010

10,972

±

0,012

12,103

±

0,008

15,080

±

0,007

16,966

±

0,008

20,112

±

0,008

1,845

±

0,008

2,940

±

0,009

5,037

±

0,012

6,951

±

0,007

9,976

±

0,008

11,895

±

0,010

14,840

±

0,013

16,910

±

0,009

19,953

±

0,013

Grubość absorbentów w mm.

Al

Cu

Pb

Odchylenie standardowe liczyliśmy na podstawie dostarczonych nam wyników10 pomiarów dla każdej grubości płytki. Korzystaliśmy ze wzorów na:

wartość średnią: 0x01 graphic
odchylenie: 0x01 graphic

Jako promieniowanie tła przyjęliśmy 57 zliczeń/min. Jako średnią arytmetyczną z czterech pomiarów.

pomiar tła

liczba zliczeń

średnio

1

59

57

2

48

3

67

4

55