WYDZIAŁ ELEKTRONKI TELEKOMUNIKACJI I INFORMATYKI KATEDRA METROLOGII I SYSTEMÓW ELEKTRONICZNYCH LABORATORIUM METROLOGII I TECHNIKI EKSPERYMENTU GRUPA ....... |
||
Ćwiczenie nr 2
Pomiary oscyloskopowe
|
Imię i nazwisko |
|
|
Data wykonania ćwiczenia |
|
|
Data odbioru sprawozdania |
|
|
Ocena zaliczenia |
|
|
Uwagi i podpis
|
|
Protokół pomiarów
8.4.1. Wzorcowanie kanału Y oscyloskopu napięciem stałym
Tablica 8.1
y |
cm |
1 |
2 |
3 |
4 |
-4 |
-3 |
-2 |
-1 |
Uy |
V |
|
|
|
|
|
|
|
|
Dypom |
V/cm |
|
|
|
|
|
|
|
|
δD |
% |
|
|
|
|
|
|
|
|
Dyobl |
V/cm |
|
|
8.4.2. Pomiary współczynnika wypełnienia przebiegu prostokątnego
Tablica 8.2
T |
μs |
|
tw1 |
μs |
|
tw2 |
μs |
|
k1 |
% |
|
k2 |
% |
|
8.4.3. Pomiary napięcia i czasu oscyloskopem
R=.............Ω, C=.............μF.
Tablica 8.3
U(t1) |
V |
|
U(t2) |
V |
|
t |
μs |
|
RCteor |
μs |
|
RCpom |
μs |
|
δRC |
% |
|
8.4.4. Różnicowe pomiary napięć między dwoma punktami nieuziemionymi
Tablica 8.4
U(t1) |
V |
|
U(t2) |
V |
|
t |
μs |
|
RCteor |
μs |
|
RCpom |
μs |
|
δRC |
% |
|
8.4.5. Obserwacja przebiegów w układach cyfrowych
TA = ..... × Tin ,
TB = ..... × Tin ,
TC = ..... × Tin ,
TD = ..... × Tin ,
UHi = ...........V,
ULo = ...........V.
8.4.6. Automatyczne pomiary parametrów impulsów w przebiegu okresowym
Tablica 8.5
Vpp |
V |
|
Vrms |
V |
|
Vavg |
V |
|
f (F) |
Hz |
|
T |
μs |
|
tw (W+) |
μs |
|
k (DC+) |
% |
|
tr |
μs |
|
tf |
μs |
|
kobl |
% |
|
8.4.7. Pomiary parametrów pojedynczego impulsu z wykorzystaniem pracy cyfrowej
tw =........μs,
UHi =........V.
8.4.8. Obserwacja charakterystyk diod półprzewodnikowych I = f (U) w obszarze przewodzenia
Tablica 8.6
typ diody |
UF [V] |
R [] |
ΔU [V] |
ΔI [mA] |
rd [] |
germanowa |
|
|
|
|
|
krzemowa |
|
|
|
|
|
LED |
|
|
|
|
|
Dioda
germanowa
Dioda
krzemowa
Dioda
LED
Strona 2
Tryb: XY
CH1 (X)= V/cm
CH2 (Y) = mV/cm
Tryb: XY
CH2 (Y) = mV/cm
CH1 (X)= V/cm
Tryb: XY
CH2 (Y) = mV/cm
CH1 (X)= V/cm
Wyszukiwarka