LABOLATORIUM WYTRZYMAOCI MATERIAÓW |
||
BMiZ Grupa M1 Rok II Semestr IV Nr podgrupy 6
1.Tomasz wikliski 2.Dawid Barylski 3.ukasz Balcer 4.Krzysztof Andrejew
|
Temat: 1.Próba udarnoci 2. Defektoskopia |
|
Data wykonania wiczenia: 21.04.04r |
Data oddania: 29.04.04r |
Ocena: |
Próba udarnoci
1Szkic próbki przed zamaniem.
2.Szkic próbki po zamaniu.
3.Wzory zastosowane przy obliczeniach:
Prdko uderzenia:
Energia zuyta na zamanie próbki:
Udarno:
Defektoskopia
1.Opis aparatury i metody:
Aparatura, jak zastosowalimy w wiczeniu to DI23P. Aparatura do wykrywania wad nazywa si defektoskopem ultradwikowym. Nadajnik defektoskopu wytwarza impuls, który za porednictwem gowicy nadawczej przenosz si w gb orodka w postaci fal. Impuls skada si z kilku drga o okrelonej czstotliwoci i trwa od kilku do kilkunastu sekund. Cz fali ultradwikowej wytworzonej w badanym materiale ulega odbiciu od wad i powraca do przetwornika.
My podczas wiczenia wykorzystalimy metod echa, która polega na wytworzeniu i wprowadzeniu do badanego materiau impulsu fal ultradwikowych i ich odbiorze po odbiciu od niecigoci. Wada materiaowa ma zazwyczaj inn oporno akustyczn ni badany materia. Pojawienie si fali odbitej wczenie ni odbicie od powierzchni ograniczajcej przedmiot wiadczy o wystpowaniu wady. W metodzie echa stosuje si zazwyczaj jedn gowic nadawco - odbiorcz. Do zalet metody echa nale: czuo, czyli moliwo badania przedmiotów, do których istnieje jednostronny dostp. Ponadto umoliwia ona pomiar gbokoci, na jakiej znajduje si wada, i ocen jej rozmiaru.
2.Rysunek supa z pooeniem wad:
