Pytania egzaminacyjne z terminu zerowego, z dnia 21.01.2008 roku, godz. 18.00-20.00 
 
 
Rząd I 
 

1.  Na  wybranym  przez  siebie 

przykładzie  omów  parametry  opisujące  właściwości  dynamiczne 

przetworników I rzędu i metody ich poprawy. 

2. 

Omów metody wykorzystywane do pomiaru małych przemieszczeń. 

3.  Omów budo

wę i parametry charakteryzujące przetworniki ultradźwiękowe. 

4. 

Właściwości  tensometrów  metalowych,  ich  ograniczenia  pomiarowe  i  układy  pomiarowe. 
Z

miennoprądowy mostek tensometryczny – uzasadnić zastosowanie takiej konstrukcji. 

5. 

Wymień  metody  pomiarów  temperatury  w  przedziałe  0-100 

o

C.  Porównaj 

dokładność 

zaproponowanych metod. 

 
Rząd II 
 

1.  Na  wybranym  przez  siebie 

przykładzie  omów  parametry  opisujące  właściwości  dynamiczne 

przetworników II

 rzędu. 

2.  Omów metody 

pomiaru przepływu. 

3.  Omów 

metody wykorzystywane do pomiaru dużych odległości. 

4. 

Właściwości  tensometrów  półprzewodnikowych,  ich  ograniczenia  pomiarowe  i  układy 
pomiarowe. 

Przetworniki ciśnienia, ich konstrukcja i uzasadnienie konfiguracji zastosowanych 

tensometrów. 

5. 

Wymień  metody  pomiarów  optycznych  temperatury,  porównaj  właściwości  metod  i 
przedyskutuj zagadnienie dokładności takich pomiarów.