PLAN ZAJĘĆ 2012/2013

SEMESTR III

ELEKTROTECHNIKA

STUDIA STACJONARNE

DZIEŃ TYG

PONIEDZIAŁEK

WTOREK

ŚRODA

CZWARTEK

PIĄTEK

Lp. Godziny Zajęć

A

B

A

B

A

B

A

B

A

B

A

B

C

A

B

C

A

B

C

A

B

C

A

B

C

1

8:00 – 8:45

Maszyny Elektryczne

Mechanika i Mechatronika Elektronika

Prof dr hab. inż. Wojciech Szeląg

Dr inż. Eugeniusz Krysiak i Energoelektronika

2

8:45 – 9:30

Sala: 337

Inżynieria Materiałowa Sala: 108

Dr hab. inż.

Wykład (2h)

Dr inż. Ryszard Dobroszewski Ćwiczenia (2h)/2np

Andrzej Rybarczyk

3

9:45 – 10:30

Maszyny Elektryczne

Sala: Z4 CKP

Mechanika i Mechatronika Sala: 428

W. Sz. Sala: 108

Wykład (2h)

Dr inż. Eugeniusz Krysiak Wykład (3h)

4 10:30 – 11:15

Ćwiczenia (1h)

IM

Sala: 108

Mgr inż. RD

Wykład (2h)/2np

5 11:30 – 12:15

Sala: A4 CKP

IM

Lab.(2h)/2p

Mgr inż. MM

6 12:15 – 13:00

Sala: A4 CKP

Lab.(2h)/2np

7 13:15 – 14:00

Teoria obwodów

Prof. dr hab. inż.

8 14:00 – 14:45

Grzegorz Szymański

Metrologia

Sala: 128 Wykład (2h) Dr hab. inż. Andrzej Odon 9 15:00 – 15:45

Teoria obwodów

Sala: 108

Dr inż. Sławomir Stępień

Wykład (3h)

10 15:45 – 16:30

Sala: 108

Ćwiczenia (2h)

11 16:45 – 17:30

Teoria obwodów

Metrologia

Mgr inż. Waldemar Hawrot Dr hab. inż. Andrzej Odon 12 17:30 – 18:15

Sala: B3 CKP

Sala: B3 CKP

Laboratorium (2h)/2np Laboratorium (2h)

13 18:30 – 19:15

14 19:15 – 20:00

15 20:15 – 21:00

16 21:00 – 21:45

Legenda:

Kolor niebieski – zajęcia dydaktyczne wspólne ze studiami dualnymi Maszyny Elektryczne – Prof dr hab. inż. Wojciech Szeląg – Ćwiczenia, Inżynieria Materiałowa - Dr inż. Ryszard Dobroszewski – Laboratorium; Inżynieria Materiałowa - Mgr inż. Marian Markiewicz –

Laboratorium.

Document Outline

  • Mechanika i Mechatronika
    • Mechanika i Mechatronika
      • Mechanika i Mechatronika
        • Mechanika i Mechatronika
        • Sala: 428
        • Inżynieria Materiałowa
        • Sala: Z4 CKP
        • Mechanika i Mechatronika
        • IM
        • Sala: A4 CKP
        • IM
        • Sala: A4 CKP
          • Metrologia
          • Metrologia