ZESTAW PYTAŃ EGZAMINACYJNYCH II ROK – 2009

1. Metoda kierunkowa pomiaru kątów – wyrównanie stacyjne, zalety i wady

2. Metoda wypełnienia horyzontu pomiaru kątów – wyrównanie stacyjne, zalety i wady

3. Wpływ wychylenia osi głównej teodolitu od pionu na wartość pomiaru kąta poziomego

4. Wpływ błędu odczytu na średni błąd pomiaru kąta poziomego

5. Wpływ błędu celowania na średni błąd pomiaru kąta poziomego

6. Wpływ błędu centrowania teodolitu i sygnału na średni błąd pomiaru kąta poziomego 7. Błąd Ferrero

8. Obliczenie średniego błędu kąta poziomego na podstawie par spostrzeŜeń

9. Wyznaczenie poprawek do mimośrodowo pomierzonych kierunków poziomych –

bezpośredni pomiar elementów mimośrodu

10. Wyznaczenie poprawek do mimośrodowo pomierzonych kierunków poziomych –

pośredni pomiar elementów mimośrodu

11. Wyznaczenie poprawek do mimośrodowo pomierzonych odległości

12. Redukcje długości do odcinków pomierzonych dalmierzami elektromagnetycznymi w

osnowach szczegółowych

13. Na czym polega odchylenie linii pionu

14. Poprawki redukcyjne do kierunków poziomych wykonanych na fizycznej powierzchni

Ziemi

15. Redukcja odcinków łuku z powierzchni odniesienia na powierzchnię odwzorowawczą

– poprawka odzorowawcza długości w układzie „1965”, „1992”, „2000”

16. Ogólna charakterystyka poziomej osnowy podstawowej i szczegółowej

17. Konstrukcje techniczne i kryteria dokładnościowe zakładania osnowy szczegółowej

18. Osnowa pomiarowa – zakładanie i pomiar

19. Osnowa pomiarowa – róŜnice między instrukcją G-4 z 1979 roku (obowiązującą) a instrukcją G-4 z 2002 (zalecaną)

20. Osnowa wysokościowa podstawowa, szczegółowa i pomiarowa – charakterystyka dokładnościowa, elementy konstrukcyjne i cel jej zakładania

21. Proces zakładania osnowy szczegółowej II klasy

22. Proces zakładania osnowy szczegółowej III klasy

23. Numeracja punktów osnowy w układzie „1992” i „2000”

24. Wymogi techniczne projektowania osnowy szczegółowej III klasy metodą poligonizacji

25. Zastosowanie wcięć do wyznaczenia pojedynczych punktów lub grup punktów

26. Wywiad terenowy przy procesie projektowania osnowy szczegółowej

27. Projekt techn iczny sieci osnowy szczegółowej

28. Stabilizacja punktów osnowy szczegółowej

29. Odtwarzanie i wznawianie punktów osnowy szczegółowej

30. Pomiar sieci osnowy szczegółowej i opracowanie wyników pomiaru

31. Punkty kierunkowe osnowy szczegółowej

32. Projektowanie i pomiar sieci osnowy szczegółowej technologią GPS

33. Sieć systemu ASG-EUPOS

34. Osnowy dwufunkcyjne

35. Elementy składowe Państwowego Systemu Odniesień Przestrzennych

36. Charakterystyka układu współrzędnych „1965”

37. Charakterystyka układu współrzędnych „1992”

38. Charakterystyka układu współrzędnych „2000”

39. Charakterystyka układu współrzędnych „1942”

40. Charakterystyka układu współrzędnych „GUGiK1980”

41. Obliczenia godła arkusza mapy w układzie „2000”

42. Transformacja współrzędnych prostokątnych płaskich sposobem Helmerta z analizą dokładności

43. Obliczanie parametrów transformacji

44. Wymogi dokładnościowe przy pomiarze kierunków pionowych

45. Wpływ refrakcji na mierzone kierunki pionowe

46. Błąd indeksu w teodolitach z dwumiejscowym systemem odczytowym

47. Pomiar kąta zenitalnego na stanowisku

48. Dokładność pomiaru kątów zenitalnych

49. Ogólne zasady pomiarów wysokościowych metodą niwelacji trygonometrycznej

50. Wyznaczenie róŜnicy wysokości z uwzględnieniem wpływu krzywizny Ziemi i

refrakcji

51. Wyznaczenie wysokości punktu niedostępnego z dwóch stanowisk w jednej

płaszczyźnie pionowej przechodzącej przez cel

52. Wyznaczenie wysokości punktu niedostępnego z jednego stanowiska w nawiązaniu do

punktu o znanej wysokości

53. Przestrzenne wcięcie w przód

54. Wyznaczenie długości odcinka pionowego gdy moŜliwy jest pomiar odległości

55. Wyznaczenie długości odcinka pionowego gdy obiekt jest dostępny ale nie ma moŜliwości pomiaru odległości

56. Wyznaczenie długości odcinka pionowego gdy obiekt jest niedostępny i nie ma moŜliwości pomiaru odległości

57. Wyznaczenie róŜnicy wysokości metodą niwelacji trygonometrycznej w przód

58. Wyznaczenie róŜnicy wysokości metodą niwelacji trygonometrycznej ze środka

59. Na czym polega odchylenie linii pionu

60. Obliczanie wysokości punktów w ciągach niwelacji trygonometrycznej

61. Obliczenie wysokości punktu węzłowego w ciągach niwelacji trygonometrycznej

62. Interpretacja

geometryczna

zasady

pomiaru

wysokości

metodą

niwelacji

trygonometrycznej

63. Zasady pomiaru szczegółów terenowych metodą tachimetrii

64. Obliczanie wyników pomiarów tachimetrycznych

65. Klasyczne konstrukcje osnowy pomiarowej w pomiarach tachimetrycznych

66. Przeniesienie współrzędnych

67. Analiza graficzna wyznaczenia pojedynczych punktów róŜnymi technologiami

pomiarowymi – wcięcia kątowe, wcięcia liniowe, wcięcia kątowo-liniowe

UWAGA:

Wszystkie pytania mają charakter ogólny i nie muszą stanowić dokładnej treści zadań na egzaminie. Zadania na egzaminie mogą teŜ być łączeniem niektórych elementów w jedną całość z kilku zagadnień przedstawionych w w/w pytaniach.