9w to optym lokalna bez ogran


Nieliniowe zadanie optymalizacji
statycznej bez ograniczeń -
nieliniowe algorytmy optymalizacji
lokalnej
Wykład 9
dr in\. Ewa Szlachcic
Wydział Elektroniki
Kierunek: Elektronika i Telekomunikacja III r.
Subkierunek: Elektronika
Nieliniowe zadanie optymalizacji bez ograniczeń
 metody iteracyjne optymalizacji
'"
ëÅ‚xöÅ‚
f (x)= f
ìÅ‚ ÷Å‚
min
íÅ‚ Å‚Å‚
x"Rn
Algorytmy poszukiwania minimum lokalnego zadania programowania
nieliniowego:
" Bez ograniczeń
" Z ograniczeniami
Algorytmy zbie\ne do minimum lokalnego x*, je\eli taki punkt istnieje.
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Warunek stacjonarności:
poprawić gradient i hesjan A
"f (x)
TWIERDZENIE. Jeśli funkcja f(x) jest dwukrotnie ró\niczkowalna, to w
ka\dym jej minimum lokalnym bez ograniczeń spełnione są
następujące warunki konieczne optymalności zadania ZPN bez
ograniczeń.
'"
ëÅ‚
warunek I rzędu
"f xöÅ‚ = 0
ìÅ‚ ÷Å‚
íÅ‚ Å‚Å‚
warunek II rzędu
dT Ad e" 0, "d " Rn
" Warunek I rzędu jest często nazywamy warunkiem stacjonarności,
poniewa\ oznacza zerowanie siÄ™ pierwszej pochodnej.
" Warunek II rzędu dla funkcji dwukrotnie ró\niczkowalnych
implikuje lokalną wypukłość minimalizowanej funkcji celu.
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
I. Techniki optymalizacji lokalnej
Ad.I Iteracyjne algorytmy optymalizacji
Algorytmy optymalizacji w kierunku
Algorytmy optymalizacji bez ograniczeń
Algorytmy optymalizacji z ograniczeniami
Algorytmy poszukiwania minimum lokalnego zadania programowania
nieliniowego:
" Bez ograniczeń
" Z ograniczeniami
Algorytmy zbie\ne do minimum lokalnego x*, je\eli taki punkt istnieje.
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
II. Techniki optymalizacji globalnej
Ad.II Algorytmy optymalizacji globalnej
Algorytmy optymalizacji ewolucyjne
Algorytmy optymalizacji genetyczne
Algorytmy optymalizacji  symulowanego wy\arzania
Algorytmy optymalizacji TABU Search
Algorytmy optymalizacji- Harmony Search
Algorytmy optymalizacji rojem czÄ…stek
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Do minimalizacji w kierunku mo\na u\yć kilku algorytmów takich
jak np.:
Algorytmy bez-gradientowe:
złotego podziału,
aproksymacji kwadratowej,
Algorytmy gradientowe:
ekspansji i kontrakcji geometrycznej z testem
jednoskośnym,
logarytmiczny złoty podział odcinka ze wstępną ekspansją
i kontrakcjÄ… geometrycznÄ…,
aproksymacji parabolicznej z testem jednoskośnym,
bisekcji z testem dwuskośnym Goldstein a,
Iteracja metody poszukiwania minimum w kierunku
Przebieg typowej k-tej iteracji dowolnej metody realizujÄ…cej
ideę poszukiwania wzdłu\ kierunku jest następujący:
k
d .
1. Określ kierunek poszukiwań
~
k k
Ä….
f (Ä…) = f (x +Ä…d )
2. Znajdzą minimalizujące ze względu na
k
xk+1 = xk +Ä… d .
3. Podstaw
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Zbie\ność ciągu punktów
{xk}k"
Definicja. Mówimy, \e ciąg punktów jest zbie\ny do
=1i punktu
punktu x je\eli ciąg ró\nic k-tych przybli\eń
optymalnego (punktu minimum) zbiega do zera, co w
hk = xk - x
Rn
przestrzeni oznacza, \e
hk 0
Dla ciągów, które są zbie\ne, definiuje się:
hk +1
Ç 0
zbie\ność liniową, hk
hk +1
0
zbie\ność Q-super-liniową oraz
hk
hk +1
Ç e" 0
zbie\ność kwadratową.
hk
2
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Kryteria zbie\ności:
1. Test teoretyczny
k
Ć
f - fĆ d" µ1, xk - x d" µ2
2. Przybli\ona stacjonarność rozwiązania
"f (xk ) = gk Ò! gk d" µ
3. Testy praktyczne:
k k+1
x - x d" µ , "i = 1,..., n
i i i
lub
k k+1
f - f d" µ1
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Metoda najszybszego spadku NS
jest to metoda gradientowa, która pozwala szukać minimum ró\niczkowalnej funkcji
nieliniowej f(x).
Koncepcja metody wynika z lematu, w którym wykazano, \e jeśli istnieje kierunek d w
przestrzeni taki, \e
Rn
"f (x),d < 0
to
f (x +Äd) < f (x)
Szczegółowo lemat zostanie przedstawiony w ramach wykładu nr 10.
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Algorytm obliczeń  metoda NS
(1) Wybierz punkt startowy xo=xk. Oblicz wartość
funkcji f(xk) oraz jej gradient " f(xk)
"
"
"
(2) Zbadaj kryterium zbie\ności:
"f (xk ),"f (xk ) = 0 czyli "f (xk ),"f (xk ) d" µ
gdzie µ "[0, ´ ] np.:µ =10-6
Jeśli tak, to koniec, jeśli nie, to przejdz do (3)
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
(3) Wyznacz kierunek poszukiwań :
k
d = -"f (xk )
(4) Wykonaj minimalizacjÄ™ kierunkowÄ…
wybranÄ… metodÄ…:
k
xk +1 "T (xk ,d )
xk Ð! xk +1 oraz k Ð! k + 1 i powtórz (1)
(5) Podstaw
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Do minimalizacji w kierunku zastosowano
gradientowy algorytm bisekcji z testem dwuskośnym
Goldstein a :
Iteracyjny algorytm gradientowy
Algorytm bisekcji z testem dwuskośnym Golstein a  algorytm
gradientowy
Praktycznie do wyszukania punktów spełniających test dwuskośny
Goldsteina stosuje się następujący algorytm bisekcji:
p = "f (xo)T d
(1) Oblicz pochodną w kierunku oraz współczynnik
0 0
Ä > 0 taki , \e f ( x + Ä d ) < f ( x )
R R
kroku
1
(2) Wyznacz
Ä = (Ä +Ä ). Oblicz f (x0 +Äd).
L R
2
f (x0 +Äd) < f (x0) + (1- ² ) pÄ
(3) Jeśli to podstaw
Ä Ò! Ä
L
i przejdz do kroku (2), w przeciwnym razie przejdz do kroku (4)
(4) Jeśli to podstaw
Ä Ò!Ä
f (x0 +Äd) > f (x0 ) + ²pÄ
R
i przejdz do kroku (2), w przeciwnym przypadku koniec.
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Działanie algorytmu bisekcji z testem dwuskośnym Goldstein'a
dla funkcji:
f(x1, x2) = (x1)2 + 2(x2)2  6x1 + x1x2
punkt poczÄ…tkowy x0 = [0, 0]T
kierunek d = [1, 0]T
2
współczynnik testu ² =
5
poczÄ…tkowa wartość współczynnika kroku ÄR = 9
dokładność dla testu
2
µ =10-5
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Pochodna w kierunku p = "f (xo )T d
zatem mamy:
îÅ‚ Å‚Å‚
ïÅ‚
îÅ‚
śł
"f (x)=ïÅ‚"f (x),"f (x)śł=ïÅ‚2x1-6+ x2,4x2+x1Å‚Å‚
śł
ïÅ‚
śł
"x1 "x2 śł ïÅ‚ ûÅ‚
ðÅ‚
ïÅ‚ śł
ðÅ‚ ûÅ‚
dla x = x0 = [0, 0]T
"f (x0) = [- 6,0]
Otrzymujemy wartość pochodnej p:
1
îÅ‚ Å‚Å‚
p = "f (xo )T d = [- 6 0]Å" = -6
ïÅ‚0śł
ðÅ‚ ûÅ‚
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
1
Ä = (Ä +Ä ) oraz f (x0 +Äd).
(2) Obliczamy
L R
2
1 1
Ä = (Ä ) = (9) = 4,5
R
2 2
îÅ‚ Å‚Å‚
f (x0 +Äd) = f
ïÅ‚(0,0) + (4,5 ,0)śł = 20,25 - 27 = - 6,75
ðÅ‚ ûÅ‚
Przechodzimy do kroku (3)
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
(3) Je\eli
f (x0 +Äd) < f (x0) + (1- ² ) pÄ
to podstaw
Ä Ò! Ä
L
i przejdz do kroku (2). W przeciwnym wypadku przejdz do
kroku (4)
sprawdzamy: -6,75 0 + (-6)Å"(0,6)Å"(4,5) = -16,2
NIE
Przechodzimy do kroku (4)
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
0 0
f (x +Äd) > f (x ) + ²pÄ
(4) Je\eli
to podstaw Ä Ò!Ä
R
i przejdz do kroku (2). W przeciwnym wypadku KONIEC
0 + (-6)Å"(0,4)Å"(4,5) = -10,8
sprawdzamy: -6,75 >?
TAK
i przechodzimy do kroku (2)
DRUGA ITERACJA
(...)
Po trzeciej iteracji otrzymujemy wynik
Ä =3,375
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Działanie algorytmu najszybszego spadku dla funkcji:
f(x1, x2) = 2(x1)2 + (x2)2  2 x1x2
punkt poczÄ…tkowy x0 = [2, 3]T
1
współczynnik testu ² =
4
poczÄ…tkowa wartość współczynnika kroku ÄR = 1
Obliczamy
d0 =-"f (x0)=[-2,-2]T
Poniewa\ pierwsza stosowana wartość współczynnika kroku
ÄR = 1 speÅ‚nia test dwuskoÅ›ny Goldsteina, wiÄ™c:
x1 = x0 + Ä0 d0 = [0 1]T d1 = -"f (x1) = [2 - 2]T
W drugiej iteracji mamy:
2
f (x1 +Äd1) = 20Ä - 8Ä +1
Otrzymujemy:
- 2
îÅ‚ Å‚Å‚
p = "f (x1)T d1 = Å"[2 - 2] = -8
ïÅ‚ śł
2
ðÅ‚ ûÅ‚
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Zatem test dwuskośny ma postać
-6 d" 20Ä2 - 8Ä d" -2
Za pomocą algorytmu bisekcji (test dwuskośny Goldsteina) w
trzeciej próbie znajdujemy wartość współczynnika Ä1 = 0,25
StÄ…d
1 1
x2 = x1 + Ä1 d1 = [ ]T
2 2
Postępując zgodnie z algorytmem otrzymujemy kolejne
wartości punktów optymalizowanej funkcji.
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Kolejno podane sÄ… punkty wyznaczone za pomocÄ…
algorytmu najszybszego spadku dla funkcji:
f(x1, x2) = 2(x1)2 + (x2)2  2 x1x2
0
x = [2 3]
1
x = [0 1]
2
x = [1 1 ]
2 2
3
1 1
x = [4 2 ]
4
1 1
x = [4 4 ] itd....
I tak kolejno, a\ do momentu gdy zostanie spełniony
warunek
^ ^
-3
"f (x), "f (x) < µ = 10
TAK OTRZYMUJEMY PUNKT MIN (0,0)
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Funkcja celu f(x)
M
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
Kolejne iteracje metody najszybszego spadku NS
x0
x1
x3 x2
x5
x4
x^
Technika optymalizacji
Wydział Elektroniki
Wydział Elektroniki
M
Dr in\. Ewa Szlachcic
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika
EiT III r. Sub-kierunek: Elektronika


Wyszukiwarka