Badanie bramki NAND, BRAMKAnand, RADOM


POLITECHNIKA RADOMSKA

Wydz. Transportu

LABORATORIUM

PODSTAW ELEKTRONIKI

Data:

Imię i nazwisko:

Grupa:

Zespół:

Rok akademicki:

Nr ćwiczenia:

9

Temat: Bramka NAND

Ocena:

Cel ćwiczenia:

Celem ćwiczenia było zapoznanie się z zasadą działania układów logicznych oraz poznanie podstawowych parametrów bramek logicznych.

Przebieg ćwiczenia:

1. Wyznaczanie charakterystyk statycznych bramki NAND.

Układ do wyznaczania charakterystyk statycznych bramki NAND.

0x01 graphic

a). Tabela pomiarowa.

L.p.

UWE [V]

UWY [V]

IZ [mA]

IWEJ [μA]

1

0

3.41

6.5

740

2

0.29

3.41

6.5

670

3

0.55

3.35

6.5

630

4

0.78

3.18

7

585

5

0.98

3.0

7

540

6

1.15

2.81

7.1

500

7

1.18

2.78

7.1

500

8

1.20

2.75

7.1

495

9

1.21

2.71

7.1

490

10

1.23

2.67

7.1

485

11

1.25

2.63

7.5

485

12

1.26

2.58

7.5

480

13

1.28

2.52

7.5

478

14

1.30

2.46

7.5

478

15

1.31

2.38

8

472

16

1.33

2.30

8.5

468

17

1.35

2.20

9.2

465

18

1.36

2.08

10.4

460

19

1.37

1.95

13

450

20

1.39

1.80

13.8

450

21

1.40

1.63

15.7

445

22

1.41

1.50

23

440

23

1.42

1.37

16

440

24

1.43

1.18

18

448

25

1.44

0.97

21

430

26

1.46

0.67

24

425

27

1.47

0.33

26

420

28

1.48

0.30

26

410

29

1.49

0.04

7

350

30

1.50

0.04

7

320

31

1.56

0.04

6.8

100

32

1.60

0.04

6.5

70

33

1.62

0.04

6.5

55

34

1.70

0.04

6.8

10

0x01 graphic

Wykres IWE = f (UWE )

0x01 graphic

Wykres UWY = f ( UWE )

0x01 graphic

Wykres IZ = f ( UWE )

2.Charakterystyki przejściowe

Układ do obserwacji charakterystyk przejściowych na ekranie oscyloskopu

0x01 graphic
0x01 graphic

3.Wyznaczanie czasu propagacji.

0x01 graphic

Bramka

T11[ns]

T[ns]

TTL

129

11,72

TTLLS

104

9,45

HCT

103

9,36

C40(5V)

0,000464

0,000042

C40(12V)

290

26,36

Wnioski:

Celem ćwiczenia było zapoznanie się z budową , zasadą działania oraz podstawowymi parametrami bramki logicznej NAND TTL.

Bramka NAND jest podstawowym elementem logicznym w rodzinie układów TTL.

W stanie wyłączenia bramki zarówno prąd wejściowy , jak i prąd wyjściowy (obciążenia) wypływają z bramki. W przypadku charakterystyki przenoszenia wartości napięć na wyjściu bramki , w obu stanach jej pracy , zależą od jej obciążenia. Bramka NAND jest obciążona identycznymi bramkami. Dlatego ważnym parametrem jest tzw. Obciążalność logiczna N bramki, to jest maksymalna liczba bramek , jaka może być równolegle sterowana z wyjścia pojedynczej bramki.

1



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
Badanie bramki NAND, 1Bramka~1, RADOM
badanie bramki NAND CMOS, -1-
Badanie bramki NAND Bramki
Badanie bramki NAND, Sprawozdanie
Badanie obwodów trójfazowych, 3FAZY2, RADOM
Badanie stabilizatorów napięcia, Stab2, RADOM
Objaśnienie zasady działania bramki NAND na podstawie struktury wewnętrznej wykonanej w technologii
Badanie obwodów trójfazowych, 3fazybel2, RADOM
4.Badanie obwodów rezonansowych p, Politechnika Radom, Sem 3, Teoria obwodów labo
Pomiar parametrów statycznych bramki NAND, Zespół Szkół Elektrycznych nr 1 w Poznaniu
Badanie obwodów trójfazowych, 3fazybel8, RADOM
Badanie bramek NAND TTL doc

więcej podobnych podstron