Sprawozdanie 1 Wyznaczanie zależności przewodnictwa od temperatury dla półprzewodników i przewodników


Nr ćwicz.

201

Data

6.04.2011

Wydział Technologii Chemicznej

Kierunek: Technologia Chemiczna

Semestr

II

Grupa 1.5

Prowadząca:

Dr J. Barańska

przygotowanie:

wykonanie:

ocena:

Temat: Wyznaczanie zależności przewodnictwa od temperatury dla półprzewodników i przewodników.

Wprowadzenie:

Prawo Ohma stwierdza , że :

,

gdzie j - gęstość prądu ,

E - natężenie pola elektrycznego ,

- przewodnictwo elektryczne .

Przewodnictwo elektryczne określone jest wzorem :

n , p - koncentracje nośników ,

n , p - ruchliwość nośników .

Ponieważ koncentracja i ruchliwość zależą od temperatury i rodzaju materiału, więc przewodnictwo elektryczne także zależy od tych czynników .

O zależności temperaturowej przewodnictwa w metalach decyduje tylko zmniejszanie się ruchliwości wraz ze wzrostem temperatury ( koncentracja nośników - elektronów - jest bardzo duża i nie zależy od temperatury ) . Zależność temperaturową wyraża się poprzez opór (R1/ ):

,

R0 - opór w temperaturze T0 ,

- średni współczynnik temperaturowy .

W półprzewodnikach decydujący wpływ na przewodnictwo ma koncentracja nośników. W przypadku półprzewodników samoistnych koncentracja elektronów i dziur jest taka sama i wynosi:

0x01 graphic
,

Eg - szerokość pasma zabronionego .

Natomiast w półprzewodnikach domieszkowych koncentracje określone są poprzez poziomy energetyczne (zależnie od typu półprzewodnika ) Ed - donorowy , Ea - akceptorowy , oraz poprzez temperaturę :

0x01 graphic
.

Uwzględniając powyższe równania otrzymujemy wzór na temperaturową zależność przewodnictwa dla półprzewodników :

0x01 graphic
,

Edom jest jedną z wielkości Ed lub Ea zależnie od typu półprzewodnika .

W odpowiednio niskich temperaturach można zaniedbać w powyższym wzorze pierwszy składnik, natomiast w wysokich temperaturach ( po nasyceniu poziomów domieszkowych ) można zaniedbać składnik drugi . Odpowiednio dla tych dwóch przypadków wzór przyjmie postać:

0x01 graphic
.

Logarytmując jeden z powyższych wzorów otrzymamy zależność:

Z wykresu tej zależności wygodnie jest odczytać zależność przewodnictwa od temperatury:

Zasada pomiaru

Pomiarów oporu półprzewodnika i przewodnika dokonuje się w różnych temperaturach. Badane materiały umieszczone są w ultratermostacie, a ich opory mierzy się przy pomocy mostka Wheatstone'a i liczy ze wzoru: 0x01 graphic

Błąd ΔRX liczymy ze wzoru: 0x01 graphic

0x08 graphic
Przy czym ΔR = 0,1 [Ω]

Natomiast ΔR1 i ΔR2 dobieramy z tabelki:

Pomiary:

Dla przewodnika: 0x01 graphic
ΔR1 = 0,001 [Ω] ΔR2 = 0,003 [Ω]

T [oC]

Rukł [Ω]

Rx [Ω]

ΔRX [Ω]

22,2

1085,6

108,56

0,0176

26,4

1095,0

109,5

0,0177

29,3

1111,0

111,1

0,0178

33,6

1119,4

111,94

0,0178

38,4

1137,1

113,71

0,0180

41,5

1153,0

115,3

0,0181

44,5

1170,0

117

0,0182

46,8

1180,2

118,02

0,0183

49

1190,2

119,02

0,0183

51,7

1199,3

119,93

0,0184

55,3

1201,3

120,13

0,0184

59,7

1230,0

123

0,0186

63,7

1241,0

124,1

0,0187

66,5

1250,3

125,03

0,0188

69,7

1262,5

126,25

0,0188

T [K]

t [oC]

Rukł [Ω]

295,2

22,2

1085,6

299,4

26,4

1095,0

302,3

29,3

1111,0

306,6

33,6

1119,4

311,4

38,4

1137,1

314,5

41,5

1153,0

317,5

44,5

1170,0

319,8

46,8

1180,2

322

49

1190,2

324,7

51,7

1199,3

328,3

55,3

1201,3

332,7

59,7

1230,0

336,7

63,7

1241,0

339,5

66,5

1250,3

342,7

69,7

1262,5

0x01 graphic

Dla półprzewodnika: 0x01 graphic
ΔR1 = 0,03 [Ω] ΔR2 = 0,001 [Ω]

T [oC]

Rukł [Ω]

Rx [Ω]

ΔRX [Ω]

22,2

3004,2

300420

-21019,4

27,3

2323,2

232320

-16252,4

31,8

1900,0

190000

-13290

35,1

1631,0

163100

-11407

39,6

1351,0

135100

-9447

42,2

1221,1

122110

-8537,7

45,5

1071,0

107100

-7487

47,5

1001,2

100120

-6998,4

49,8

910,2

91020

-6361,4

52,7

810,1

81010

-5660,7

57,0

693,0

69300

-4841

60,7

610,1

61010

-4260,7

64,6

533,4

53340

-3723,8

67,3

485,0

48500

-3385

70,0

432,0

43200

-3014

T [K]

t [oC]

Rukł [Ω]

295,2

22,2

3004,2

300,3

27,3

2323,2

304,8

31,8

1900,0

308,1

35,1

1631,0

312,6

39,6

1351,0

315,2

42,2

1221,1

318,5

45,5

1071,0

320,5

47,5

1001,2

322,8

49,8

910,2

325,7

52,7

810,1

330,0

57,0

693,0

333,7

60,7

610,1

337,6

64,6

533,4

340,3

67,3

485,0

343,0

70,0

432,0

0x01 graphic

Obliczenia dla półprzewodnika:

1/T [1/K]

Rx [Ω]

Rukł [Ω]

1/Rx [1/Ω]

ln(1/Rx)

0,003388

300420

3004,2

3,32867E-06

-12,61294

0,003330

232320

2323,2

4,30441E-06

-12,35587

0,003281

190000

1900,0

5,26316E-06

-12,15478

0,003246

163100

1631,0

6,13121E-06

-12,00212

0,003199

135100

1351,0

7,40192E-06

-11,81377

0,003173

122110

1221,1

8,18934E-06

-11,71268

0,003140

107100

1071,0

9,33707E-06

-11,58152

0,003120

100120

1001,2

9,98801E-06

-11,51412

0,003098

91020

910,2

1,09866E-05

-11,41883

0,003070

81010

810,1

1,23442E-05

-11,30233

0,003030

69300

693,0

1,443E-05

-11,14620

0,002997

61010

610,1

1,63908E-05

-11,01879

0,002962

53340

533,4

1,87477E-05

-10,88444

0,002939

48500

485,0

2,06186E-05

-10,78932

0,002915

43200

432,0

2,31481E-05

-10,67360

0x01 graphic

Regresja liniowa

0x08 graphic

Energia poziom domieszkowego

Współczynnik nachylenia prostej ln(1/Rx)=f(1/T) obliczony metodą regresji wynosi :

a= -2204

Poziom domieszkowy będzie zatem równy:

0x01 graphic

0x01 graphic

0x01 graphic

Błąd wyznaczenia poziomu domieszkowego :

0x01 graphic

Wynik ostateczny:

E=0,38601 +/- 0,001 eV

Wnioski:

Z charakterystyki R=f(T) widać, że rezystancja półprzewodnika maleje wraz ze wzrostem temperatury, a przewodnika rośnie. Widać także, że oporność półprzewodnika maleje szybciej, niż rośnie dla przewodnika.

Błędy pomiaru wynikają najprawdopodobniej z pomiaru temperatury, a ściślej w utrzymaniu jej na określonym poziomie. To jest przyczyną zasadniczą błędu.

Wartości tablicowe nie są nam znane, dlatego nie możemy porównać ich do naszych wyników.

R [Ω]

103

102

101

100

ΔR [Ω]

0,03%

0,03%

0,03%

0,1%



Wyszukiwarka

Podobne podstrony:
spraw, LAB 44, Wyznaczenie zależności rezystancji od temperatury dla metalu i półprzewodnika
spraw, CW44, Wyznaczenie zależności rezystancji od temperatury dla metalu i półprzewodnika
spraw, SPRAW44, Wyznaczenie zależności rezystancji od temperatury dla metalu i półprzewodnika
Wyznaczenie zależności rezystancji od temperatury dla metalu i półprzewodnika, CEL ˙WICZENIA:
201 Wyznaczanie zależności przewodnictwa od temperatury dla półprzewodników i przewodników
Wyznaczanie zależności przewodnictwa od temperatury dla półprzewodników sprawko
Badanie zależności rezystancji od temperatury dla metali i pólprzewodników, Pwr MBM, Fizyka, sprawoz
,Laboratorium podstaw fizyki,?danie zależności rezystancji od temperatury dla metali i półprzewodnik
BADANIE ZALEŻNOŚCI REZYSTANCJI OD TEMPERATURY DLA METALI I PÓŁPRZEWODNIKÓW 3
Badanie zależności rezystancji od temperatury dla metali i półprzewodników 1, 1
Badanie zależności rezystancji od temperatury dla metali i półprzewodników 2
BADANIE ZALEŻNOŚCI REZYSTANCJI OD TEMPERATURY DLA METALI I PÓŁPRZEWODNIKÓW, Szkoła, penek, Przedmiot
Zależność gęstości od temperatury dla różnych substancji

więcej podobnych podstron