Interferencje ICP MS

Interferencje w ICP-MS

Interferencje Fizyczne:

Interferencje fizyczne związane są z etapem wprowadzenia próbki, czyli: napięciem powierzchniowym, lepkością i efektywnym rozpylaniem próbki lub z zatykaniem otworów przewodów doprowadzających, czy korozją elementów konstrukcyjnych. Wśród nich możemy wyróżnić interferencje związane z matrycą próbki lub z efektem pamięci.

Matryca próbki może powodować wzmocnienie (rzadziej) lub obniżenie sygnału
w wyniku jej wpływu na:

Zmiany sygnału zależą od:

W celu uniknięcia interferencji matrycowych zaleca się stosowanie:

W przypadku oznaczeń rtęci głównym problemem są interferencje wynikające
z efektu pamięci. Rtęć ulega adsorpcji na wewnętrznych powierzchniach przewodów doprowadzających, rozpylacza i komory mgielnej. Niedokładne oczyszczenie układu
po poprzednim pomiarze prowadzi więc do kontaminacji analizowanych po sobie próbek. Prowadzi to do obniżenia czułości oznaczenia, nieliniowości krzywej kalibracyjnej, wzrostu granicy wykrywalności. Dodatkowo konieczne jest zastosowanie dłuższego czasu przemywania układu, co wiąże się z wydłużeniem czasu analizy. Interferencje związane
z efektem pamięci możemy zminimalizować poprzez:

Interferencje spektralne:

Interferencje spektralne wynikają z nakładania się na sygnał analitu sygnałów pochodzących od innych jonów posiadających tą samą wartość stosunku m/z. Interferencje tego typu mogą pochodzić od składników gazu plazmowego i rozpylającego, jak również od składników próbki.

Źródłem interferencji spektralnych jest tworzenie się jonów izobarycznych, poliatomowych lub podwójnie naładowanych. Mogą one powstawać w wyniku różnych połączeń pochodzących od gazu plazmowego (36Ar+, 38Ar+, 40 Ar+ i ich dimerów), powietrza (28N2+, 29N2H, 14N), wody (16O, 17OH i ich kombinacji z Ar) oraz kwasów zawierających S i Cl (i ich połączeń z Ar, O, H).

Interferencje spektralne można wyeliminować lub zminimalizować poprzez:


Wyszukiwarka