GRUPA A: Zad 1. Błąd podstawowy przyrządu - występuje wówczas gdy narzędzie stosowane jest w warunkach znaminowych (warunkach odniesienia) określonych przez normy (producenta). Bląd dodatkowy przyrządu - występuje wówczas gdy narzędzie stosowane jest w warunkach różnych od warunków znamionowych (np. błąd temp., częstotliwościowy) Klasa przyrządu - liczba informująca o niepewności maksymalnej danego urządzenia, wyrażona w procentach zakresu przyrządu. Np. amperomierz o klasie 0.5, zakres 2 A, niepewność systematyczna Δx=(0.5/100)⋅2=0.01 A.

GRUPA B: Zad 1. Niepewność (pomiaru) - paraetr związany z wynikiem pomiaru, charakteryzujący rozrzut wartości, które można w uzasadniony sposób przypisać wielkości mierzonej Dokładność pomiaru - stopień zgodności wyniku pomiaru z wartością rzeczywista (prawdziwą) wielkości mierzonej (pojęcie o charakterze jakościowym). Błąd pomiaru - różnica miedzy wynikiem pomiaru a wartością rzeczywistą (prawdziwą) wielkości mierzonej. Błąd systematyczny - różnica między średnią z nieskończonej liczby wyników pomiarów tej samej wielkości mierzonej, wykonanych w warunkach powtarzalności, a wartością prawdziwej wielkości mierzonej.

GRUPA C: Zad 1. kwantowanie - Dyskretyzacja wartości sygnału analogowego jest nazywana kwantowaniem i polega na przyporządkowaniu każdej wartości sygnału pewnej skwantowanej wartości dyskretnej. Xk(t) - wartość na wyjściu układu kwantującego. x(t) - wartość sygnału analogowego na wejściu układu kwantującego q - elementarny przedział kwantowa­nia (kwant), o który różnią się dwa najbliższe stany wielkości skwantowanej, ent - operalor wyznaczający część całkowitą liczby rzeczywistej. Próbkowanie - Próbkowanie polega na pobieraniu wartości xn sygnału w pewnych odstępach. Zazwyczaj odstępy są stałe. Oznaczając je przez Ts otrzymuje się Przedział [t0, t0+nTs] stanowi okno czasowe, w którym pobierane są próbki. Praktyczna realizacja próbkowania polega na pobieraniu wąskich impulsów o szerokości Δ i amplitudzie xn.

GRUPA D: Zad 1. czujnik pomiarowy - Czujnik pomiarowy to element leżący najbliżej badanego obiektu i mający na celu odbiór informacji charakteryzującej badany obiekt. Istnieją różnego rodzaju klasyfikacje czujników pomiarowych w zależności od kryterium podziału, przykładowo na czujniki wielkości fizycznych i chemicznych lub ze względu na sposób przetwarzania sygnału wyjściowego, rodzaj sygnału wyjściowego. Zjawiska wykorzystywane w czujnikach pomiarowych - zmiana indukcji, zmiana rezystancji, zmiana temp., zmiany objętości

---