ELEMENTY AUTOMATYKI PRZEMYSŁOWEJ

Sprawozdanie z laboratorium: …4… Temat: …DYNAMICZNE BADANIE PRZERZUTNIKÓW…………………

Kierunek: …MiBM… Grupa: ……1 B….

1. Badanie przerzutnika astabilnego (układ z bramek NAND).

Zdjęcia przebiegów:

Dla R1=R2=2,2 kW, C1=C2=22 nF $$f = \frac{0,7}{\text{RC}} = \frac{0,7}{2,2 \cdot 10^{3} \cdot 22 \cdot 10^{- 9}} = 14,46\ kHz$$	Dla R1=R2=2,2 kW, C1=C2=100 nF $$f = \frac{0,7}{\text{RC}} = \frac{0,7}{2,2 \cdot 10^{3} \cdot 100 \cdot 10^{- 9}} = 3,19kHz$$

Wnioski:

Zarówno regulacja pojemności cewki jak i rezystancji oporników wpływa na wielkość prześwitu pomiędzy kolejnymi sygnałami wysokimi. W obu przypadkach (regulacja oporności oraz pojemności) prześwit ten powiększa się wraz ze zwiększaniem wartości któregoś z czynników (a zmniejszał podczas ich obniżania).

1. Badania Przerzutnika T (zbudowanego na bazie przerzutnika D).

Zdjęcie przebiegów uzyskanych podczas zajęć:

Wnioski:

Wykres na oscyloskopie pokazuje różnicę w sygnale płynącym z generatora a tym otrzymanym po przejściu przez przerzutnik D. W drugim przypadku częstotliwość jest dwukrotnie niższa co wynika bezpośrednio ze sposobu działania samego przerzutnika, a więc aktywacji poprzez zbocze narastające.