Aneks
Laboratorium nr 3
1)
W tej części ćwiczenia na stoliku przedmiotowym umieszczono płytkę mikrometryczną na której 1mm podzielony został na 100 części , a w nasadce okularowej umieszczono okular
z podziałką gdzie 10 mm podzielone zostało na 100 części.
W czasie obserwacji płytki mikrometrycznej ustalono, że maksymalna długość płytki odpowiadająca 100 częściom na okularze wynosi b=61,5 części.
1 mm -100 części
x mm – 61,5 części
x=0,615 mm
Stąd powiększenie mikroskopu wynosi:
P= $\frac{a}{b}$ = $\frac{10\ mm}{0,615\ \text{mm}}$
P=16,26 x
2)
Określenie wielkości wybranych elementów próbki Szlif MM15
Pomiaru dokonano za pomocą okularu pomiarowego.
wymiary zmierzone elementu większego
k= 38 części = 0,38 mm
l= 25 części = 0,25 mm
wymiary zmierzone elementu mniejszego
m= 5 części = 0,05 mm
n= 5 części = 0,05 mm
Wymiary rzeczywiste obliczono w następujący sposób:
gdzie : P=16,26
| element większy | element mniejszy | |
|---|---|---|
| wymiary [mm] | ||
| zmierzone | rzeczywiste | |
| długość | 0,38 | 0,023 |
| szerokość | 0,25 | 0,015 |
Tab.1 Wymiary elementów obserwowanej mikrostruktury
Wyznaczanie powiększenia
Powiększenie teoretyczne mikroskopu obliczone na podstawie powiększenia okularu, obiektywu oraz nasadki okularowej wynosiło 180x znacznie odbiegając od powiększenia rzeczywistego wynoszącego 16,26x. Tak duża różnica związana jest z tym, że wartość powiększenia mikroskopu obliczona z wykorzystaniem płytki mikrometrycznej oraz okularu z podziałką nie uwzględnia powiększenia okularu a jedynie powiększenie obiektywu i nasadki okularowej. Mimo skorygowania tej rozbieżności wyniki dalej różnią się o niecałe 8%. Błąd ten może być spowodowany zużyciem mikroskopu , niewystarczającą dokładnością pomiaru, niedokładnym ustawieniem oświetlenia wg zasady Koehlera, a przede wszystkim niedopasowaniem elementów mikroskopu do siebie (części mikroskopu aby pomiar był rzetelny powinny być oryginalne i odpowiednio dopasowane dla danego urządzenia, nie wymienia się elementów między mikroskopami).
Pomiar elementów szlifu MM15
Znając powiększenie rzeczywiste mikroskopu obliczono wymiary rzeczywiste dwóch elementów szlifu MM15 . Ziarno większe o wymiarach rzeczywistych k`=0,023mm, l`=0,015mm oraz ziarno mniejsze o wymiarach rzeczywistych m`=0,003mm, n`=0,003mm.
A - przedmiot
A’ – obraz przedmiotu: rzeczywisty, odwrócony, powiększony,
A’’ – obraz przedmiotu: pozorny, prosty, powiększony,
D – odległość dobrego widzenia,
Δ – tubus optyczny mikroskopu,
Fob – ognisko obiektywu,
Fok - ognisko okularu,
fob – ogniskowa obiektywu,
fok – ogniskowa okularu,
promień,
----- przedłużenie promieni,
Aneks
Laboratorium nr 4
1)
Charakterystyka obserwowanych zgładów.
Elektroda EGH
Obserwacja mikrostruktury ujawniła występowanie bardzo dużych ziaren grafitu, w sąsiedztwie których znajdowały się ziarna drobne tej samej fazy. Obserwowano również znaczną porowatość próbki.
Grafit
Obserwowana mikrostruktura grafitu charakteryzowała się występowaniem w całym przekroju średniej wielkości ziaren o jednakowych rozmiarach. Nie występowały wtrącenia obcych faz. Nieznacznie występowanie porów.
Płytka krzemowa
Obserwacja mikrostruktury wykazała obecność ścieżek krzemowych rozłożonych na całym obszarze obserwowanej próbki. Równomierne rozłożenie krzemu w całej objętości próbki.
SiC
Obserwacja mikrostruktury węglika krzemu pozwoliła określić iż badany materiał odznacza się wysoką czystością. Występowały nieznaczne wtrącenie obcych faz. Na całej powierzchni obserwowano głównie tę samą, jednorodną fazę. Na zdjęciu przy powiększeniu 40x obserwowano odcisk pozostawiony po badaniu twardości metodą Vickers’a.
2)
Pomiar orientacji powierzchni granicznych.
Rys 1. Róża przecięć
Wyszukiwarka