Wymagania dla rotametrów

-wartość sygnału y powinna być zależna wyłącznie od wartości zmiennej
x (selektywność, brak wpływów, dokładność),

-funkcja przenoszenia powinna być jednoznaczna w możliwie szerokim przedziale wartości x oraz niezmienna w czasie (duży zakres pomiarowy, stabilność),

-pochodna dy/dx czyli czułość, powinna mieć dużą wartość i powinna być wielkością niezależną od x;

-dogodna postać energii sygnału y; dążymy zwykle do uzyskania energii elektrycznej, ale czasem inna bywa bardziej konieczna, np. pneumatyczna,

-niski poziom szumów w stosunku do sygnału łącznie z postulatem dużej czułości – warunkuje to najniższy zakres pomiarowy,

-małe oddziaływanie przetwornika na zmienną x obiektu, w którym dokonuje się pomiaru,

-małe opóźnienie pomiarowe, tzn. możliwie małe przesunięcie w czasie między sygnałem y a zmienną x; określają to właściwości dynamiczne urządzenia pomiarowego wraz z przetwornikiem;

Wpływ biektu pomiaru i jego otoczenia na wartość mierzoną

Obiekt przemysłowy jest obszarem zjawiska i źródłem wielkości mierzonej, a równocześnie wraz z obszarem otaczającym jest źródłem wpływów i zakłóceń nakładających się na sygnał, reprezentujący wielkość mierzoną, które fałszują wynik pomiaru.

Cechy obiektu:

• rozkład wartości wielkości mierzonej,

• zakłócenia wartości wielkości mierzonej wskutek wprowadzenia czujnika lub przetwornika,

• wielkości wpływające i zakłócające mogące wpływać na wartość sygnału pomiarowego bezpośrednio lub poprzez zmianę czułości czujnika.

Obszar otaczający obiekt jest często źródłem zakłóceń pomiarowych. I dlatego istotne są między innymi gradienty wielkości mierzonej na pograniczu obiektu i otoczenia oraz obecności źródeł innych energii.

Metody pomiarowe- sposób przeprowadzenia pomiaru, tj. przyrównania wielkości mierzonej do wzorca miary nazywamy. Jest to więc sposób przetwarzania wielkości mierzonej x na sygnał pomiarowy: y = f(x, z) z – zakłócenia.

• Metoda wychyłowa polega na przyporządkowaniu określonej wartości mierzonej wielkości x sygnałowi wyjściowemu miernika, który wraz z przetwornikiem i układem pomiarowym był uprzednio porównywany (wzorcowany) w stosunku do odpowiednich wzorców mierzonej wielkości y = f(x).

• Metoda różnicowa polega na wytworzeniu różnicy pomiędzy wielkością mierzoną
  a wzorcową oraz na pomiarze tej różnicy metodą wychyłową. Metodę tę można opisać zależnością: y=(X-Xn) x_n – wartość miary wzorca.

• Metoda zerowa polega na doprowadzeniu wielkości wzorcowej do równości
  z wielkością mierzoną. Metodę tę opisuje równość: y= Xn+-|δ| |δ| - nieczułość urządzenia wykrywającego równość.