MEO teoria, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, metrola, sciaga+zestawy+jakas teoria


  1. POMIAR - to proces empiryczny obiektywnego przyporządkowania liczb własnościom obiektów i zdarzeń ze świata realnego w sposób pozwalający je opisać. Pomiar polega na porównaniu badanego przejawu z innymi przejawami tej samej własności.

  2. RODZAJE MODELOWANIA - lingwistyczne, graficzne, matematyczne, fizyczne.

  3. JEDNOSTKI UKŁADU SI

  4. odległość

    metr

    m.

    masa

    kilogram

    kg

    czas

    sekunda

    s

    prąd elektr.

    amper

    A

    temperatura

    kelwin

    K

    licz. materii

    mol

    mol

    światłość

    kandela

    cd

    kąt płaski

    radian

    rad

    kąt bryłowy

    steradian

    sr

    1. JEDNOSTKI POCHODNE

    2. częstotliwość

      Hz

      s-1

      energia, praca

      J

      Nm

      siła

      N

      kg(m/s2)

      moc

      W

      J/s

      ciśnienie

      Pa

      N/m2

      ładunek elektr.

      C

      As

      1. JEDNOSTKI POZAUKŁADOWE

      2. powierzchnia

        ha

        104m2

        ilość inform.

        bit

        czas

        min,h,d

        objętość

        l

        10­-3m2

        1. BŁĄD WZGLĘDNY - stosunek błędu pomiaru do wartości prawdziwej wielkości mierzonej ( Δx = δ / xo )

        2. BŁĄD BEZWZGLĘDNY - różnica między wynikiem pomiaru x, a wartością rzeczywistą xo ( zakładamy, że ona istnieje, ale nie jest znana) δ = x - xo

        3. BŁĄD PRZYPADKOWY - różnica między wynikiem pomiaru, a średnią z nieskończonej liczby wyników pomiarów tej samej wielkości mierzonej, wykonanych w warunkach powtarzalności. Jego przyczyna tkwi w działaniu dużej liczby drobnych przypadkowych czynników, których działanie ulega zmianie w czasie w sposób nie dający się przewidzieć. Błędy przypadkowe spełniają najczęściej postulaty Gaussa, więc są w miarę łatwe do skorygowania.

        4. BŁĄD SYSTEMATYCZNY - różnica między średnią z nieokreślonej liczby wyników pomiarów tej samej wielkości mierzonej , wykonywanych w warunkach powtarzalności, a wartością prawdziwą wielkości mierzonej. Źródła błędów systematycznych mogą być różne. Np. niewłaściwie wykonany przyrząd pomiarowy, lub zbyt mała dokładność podziałki, itp. Jeżeli znamy źródło błędu systemat. możemy wprowadzić odpowiednie poprawki.

        5. SZEROKOŚĆ POŁÓWKOWA (full width at half maximum - FWHM) - jest to odległość pomiędzy dwoma punktami x, w których wartość f(x) równa jest połowie wartości w maksimum

        ( 0x01 graphic
        )



        Wyszukiwarka

        Podobne podstrony:
        Metrologia Spraw-1, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, Metrolog
        Metrologia Spraw-3, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, Metrolog
        Metrologia Spraw-3.1, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, Metrol
        4 kolos-ściąga, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Metrologia i zamienność, Metrologia, metrola
        PIII - teoria, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektro
        PIII - teoria, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektro
        elektra P4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
        elektra M4, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
        Egz mech 2(1), Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Mechanika Ogólna II, Mechanika 2, Mechanika
        jasiek pytania, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr
        M2, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronika i Elek
        Wnioski do stanu jałowego trafo, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II
        polimery, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, sciagi
        Elektra M-2spr, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektr
        elektra M5, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektronik
        Transformator, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elektro
        W7-dynamika bryly sztywnej, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Mechanika Ogólna II, Mechanika 2, 3 k
        Pomiary-protokół, Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Elektrotechnika i Elektronika II, Elektra, Elek
        druk Materiały niemetalowe i pow łoki ochronne(polimery), Studia, SiMR, II ROK, III semestr, Powłoki

        więcej podobnych podstron